- 专利标题: 一种晶圆级金属沉积的半导体集成制造系统与方法
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申请号: CN202410678853.4申请日: 2024-05-29
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公开(公告)号: CN118280888B公开(公告)日: 2024-09-27
- 发明人: 吴攀
- 申请人: 广东芯华镁半导体技术有限公司
- 申请人地址: 广东省惠州市惠阳三和开发区天星二路侧上围小组
- 专利权人: 广东芯华镁半导体技术有限公司
- 当前专利权人: 广东芯华镁半导体技术有限公司
- 当前专利权人地址: 广东省惠州市惠阳三和开发区天星二路侧上围小组
- 代理机构: 北京华艺德嘉知识产权代理有限公司
- 代理商 刘娅
- 主分类号: H01L21/67
- IPC分类号: H01L21/67 ; H01L21/02 ; H01L21/677 ; C25D19/00 ; C25D5/14 ; C25D7/12
摘要:
本发明属于半导体技术领域,公开了一种晶圆级金属沉积的半导体集成制造系统与方法,包括锌置换模块;化学镍处理模块包括三个化学镍沉积机构;化学钯处理模块包括两个间隔设置的化学钯沉积机构;化学金处理模块包括五个依次设置的化学金沉积机构,其中,第一个至第三个盛有含氰化学金镀液,第四个和第五个盛有无氰化学金镀液;直线天车系统,沿着制造系统的长度方向设置,以输送晶圆载板;分段设置的各类沉积机构使得每个电镀过程都能在最佳条件下进行,确保镀层的质量和一致性,减少单一电镀反应滞留时间,显著提高了生产效率和处理速度,实现了晶圆在整个电镀过程中的高效和精确处理;使用无氰结合含氰化学金镀液的策略减少了环境污染。
公开/授权文献
- CN118280888A 一种晶圆级金属沉积的半导体集成制造系统与方法 公开/授权日:2024-07-02
IPC分类: