发明授权
CN1246887C 等离子体处理装置以及半导体制造装置
失效 - 权利终止
- 专利标题: 等离子体处理装置以及半导体制造装置
- 专利标题(英): Plasma processing device and semiconductor mfg. device
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申请号: CN02800922.3申请日: 2002-03-28
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公开(公告)号: CN1246887C公开(公告)日: 2006-03-22
- 发明人: 大见忠弘 , 平山昌树 , 须川成利 , 后藤哲也
- 申请人: 大见忠弘 , 东京毅力科创株式会社
- 申请人地址: 日本宫城县
- 专利权人: 大见忠弘,东京毅力科创株式会社
- 当前专利权人: 大见忠弘,东京毅力科创株式会社
- 当前专利权人地址: 日本宫城县
- 代理机构: 北京纪凯知识产权代理有限公司
- 代理商 龙淳; 沙捷
- 优先权: 094273/01 2001.03.28 JP
- 国际申请: PCT/JP2002/003110 2002.03.28
- 国际公布: WO2002/080251 JA 2002.10.10
- 进入国家日期: 2002-11-28
- 主分类号: H01L21/31
- IPC分类号: H01L21/31 ; H05H1/46 ; H01L21/3065
摘要:
本发明涉及使用放射线槽天线的微波等离子体处理装置,使放射线槽天线辐射面与构成处理室外壁的一部分,贴紧在与浇淋板贴紧的盖板上,在放射线槽天线上还通过设置冷却器,以便吸收于厚度方向在处理室外壁中流过的热流,从而使浇淋板的冷却效率最佳化,同时使微波激励效率最佳化。
公开/授权文献
- CN1460289A 等离子体处理装置以及半导体制造装置 公开/授权日:2003-12-03
IPC分类: