发明公开
CN1801478A 半导体元件、半导体纳米线元件及其制作方法
失效 - 权利终止
- 专利标题: 半导体元件、半导体纳米线元件及其制作方法
- 专利标题(英): Semiconductor devices, semiconductor nano-wire devices and methods of fabrication the same
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申请号: CN200510075664.5申请日: 2005-06-10
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公开(公告)号: CN1801478A公开(公告)日: 2006-07-12
- 发明人: 陈宏玮 , 杨育佳 , 李迪弘 , 杨富量 , 胡正明
- 申请人: 台湾积体电路制造股份有限公司
- 申请人地址: 台湾省新竹科学工业园区新竹市力行六路八号
- 专利权人: 台湾积体电路制造股份有限公司
- 当前专利权人: 台湾积体电路制造股份有限公司
- 当前专利权人地址: 台湾省新竹科学工业园区新竹市力行六路八号
- 代理机构: 北京林达刘知识产权代理事务所
- 代理商 刘新宇
- 优先权: 60/578,673 2004.06.10 US; 11/104,348 2005.04.12 US
- 主分类号: H01L21/84
- IPC分类号: H01L21/84 ; H01L21/336 ; H01L21/324 ; H01L21/00 ; B82B3/00
摘要:
本发明涉及一种半导体元件、半导体纳米线元件及其制作方法,具体涉及一种不具变窄或断裂缺点的纳米线,特别是直径小于20纳米的纳米线,是于退火时利用硅原子堆积而生。其制程为遮蔽一主动区的部分,其中硅原子要不是利用例如二氧化硅、氮化硅等材质来堆积,就是利用其它的介电材质来减少堆积。纳米线、纳米管、纳米棒、或其它的类型皆可用来组成元件,像是一晶体管元件的一沟道。
公开/授权文献
- CN100428446C 半导体元件及其制作方法 公开/授权日:2008-10-22
IPC分类: