发明公开
- 专利标题: 光刻装置和器件制造方法
- 专利标题(英): Lithographic apparatus and device manufacturing method
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申请号: CN200610107688.9申请日: 2006-06-20
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公开(公告)号: CN1885171A公开(公告)日: 2006-12-27
- 发明人: J·H·W·雅各布斯 , N·坦卡特 , M·H·A·李恩德斯 , E·R·卢普斯特拉 , M·C·M·弗哈根 , H·布姆 , F·J·J·詹森 , I·P·M·鲍查姆斯 , N·R·坎帕 , J·J·奥坦斯 , Y·科克 , J·范埃斯
- 申请人: ASML荷兰有限公司
- 申请人地址: 荷兰费尔德霍芬
- 专利权人: ASML荷兰有限公司
- 当前专利权人: ASML荷兰有限公司
- 当前专利权人地址: 荷兰费尔德霍芬
- 代理机构: 中国专利代理(香港)有限公司
- 代理商 肖春京; 谭祐祥
- 优先权: 60/692234 2005.06.21 US; 11/319217 2005.12.28 US
- 主分类号: G03F7/20
- IPC分类号: G03F7/20 ; H01L21/027
摘要:
本发明涉及用于保持基板和浸没光刻装置的热平衡的方法和装置,其通过含有与基板的位置、速度和加速度相关的信息的时间表,和对应时间表内的信息而起减少局部蒸发和/或增加局部冷凝作用的蒸发控制器或冷凝控制器来实现。基板表面的水分的蒸发使其冷却,而冷凝到基板底表面的水分将该基板局部加热。
公开/授权文献
- CN1885171B 光刻装置和器件制造方法 公开/授权日:2010-07-07
IPC分类: