Invention Patent
- Patent Title: 半導體元件及其形成方法
- Patent Title (English): Mechanisms for forming FinFET device
- Patent Title (中): 半导体组件及其形成方法
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Application No.: TW103125966Application Date: 2014-07-30
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Publication No.: TW201517272APublication Date: 2015-05-01
- Inventor: 張哲誠 , CHANG, CHE CHENG , 陳建穎 , CHEN, CHANG YIN , 林志忠 , LIN, JR JUNG , 林志翰 , LIN, CHIH HAN , 張永融 , CHANG, YUNG JUNG
- Applicant: 台灣積體電路製造股份有限公司 , TAIWAN SEMICONDUCTOR MANUFACTURING CO., LTD.
- Applicant Address: 新竹市
- Assignee: 台灣積體電路製造股份有限公司,TAIWAN SEMICONDUCTOR MANUFACTURING CO., LTD.
- Current Assignee: 台灣積體電路製造股份有限公司,TAIWAN SEMICONDUCTOR MANUFACTURING CO., LTD.
- Current Assignee Address: 新竹市
- Agent 洪澄文; 顏錦順
- Priority: 14/067,424 20131030
- Main IPC: H01L29/78
- IPC: H01L29/78 ; H01L21/28
Abstract:
一種半導體元件,其包括基底。半導體元件還包括位於基底上之第一鰭結構及第二鰭結構。半導體元件更包括分別橫越於第一鰭結構及第二鰭結構上之第一閘極電極及第二閘極電極。此外,半導體元件包括介於第一鰭結構與第一閘極電極之間,且介於第二鰭結構與第二閘極電極之間的閘極介電層。再者,半導體元件包括位於基底上之虛置閘極電極。虛置閘極電極位於第一閘極電極與第二閘極電極之間,且虛置閘極電極之較高部分寬於虛置閘極電極之較低部分。
Public/Granted literature
- TWI591827B 半導體元件及其形成方法 Public/Granted day:2017-07-11
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IPC分类: