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公开(公告)号：CN108801606A
公开(公告)日：2018-11-13
申请号：CN201810878128.6
申请日：2018-08-03
申请人： 南京理工大学
IPC分类号： G01M11/02
摘要： 本发明公开了一种基于光纤干涉投影的镜片屈光度测量方法。该装置包括：激光器、1×3光纤耦合器、偏振控制器、光开关、第一～三光纤、准直透镜、待测透镜、成像屏、CCD、计算机。方法为：用棋盘格标定板对CCD进行标定，建立成像屏参考面和CCD靶面的几何换算关系；激光器出射光进入光纤耦合器，调整偏振控制器，使第一、三光纤出射光的偏振态与第二光纤出射光发生干涉，得到干涉条纹图；接着放上待测透镜，干涉条纹经过待测透镜投影到成像屏上，CCD接收到成像屏上发生相位偏折的干涉条纹图，计算出待测透镜在横轴方向和纵轴方向上的屈光度；通过傅里叶变换求解出相位信息，得到镜片的屈光度。本发明具有效率高、精度高、应用广泛的优点。
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公开(公告)号：CN105973166A
公开(公告)日：2016-09-28
申请号：CN201610299365.8
申请日：2016-05-09
申请人： 南京理工大学
IPC分类号： G01B11/25
CPC分类号： G01B11/2527
摘要： 本发明公开了一种采用部分相干光场式漫反射屏的面形检测装置及检测方法，部分相干光源发出部分相干光束，经空间光调制器调制，入射至石英平板，石英平板将调制后的部分相干光束漫反射至实验平台上的被检元件，经被检元件反射，将携带被检元件面形信息的部分相干光束反射至成像物镜，经成像物镜成像后，被探测器的靶面接收，探测器将采集到的相位分布信息输入计算机，经计算机进行光场分析计算，利用得到的相位分布反演出被检元件的面形。本发明的优点在于利用部分相干光源的相干性，结合空间光调制器对光强的调制作用，使得石英平板漫反射的光同时具有相干性和可调控性。
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公开(公告)号：CN108801606B
公开(公告)日：2019-11-15
申请号：CN201810878128.6
申请日：2018-08-03
申请人： 南京理工大学
IPC分类号： G01M11/02
摘要： 本发明公开了一种基于光纤干涉投影的镜片屈光度测量方法。该装置包括：激光器、1×3光纤耦合器、偏振控制器、光开关、第一～三光纤、准直透镜、待测透镜、成像屏、CCD、计算机。方法为：用棋盘格标定板对CCD进行标定，建立成像屏参考面和CCD靶面的几何换算关系；激光器出射光进入光纤耦合器，调整偏振控制器，使第一、三光纤出射光的偏振态与第二光纤出射光发生干涉，得到干涉条纹图；接着放上待测透镜，干涉条纹经过待测透镜投影到成像屏上，CCD接收到成像屏上发生相位偏折的干涉条纹图，计算出待测透镜在横轴方向和纵轴方向上的屈光度；通过傅里叶变换求解出相位信息，得到镜片的屈光度。本发明具有效率高、精度高、应用广泛的优点。
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公开(公告)号：CN102879098B
公开(公告)日：2014-05-14
申请号：CN201210360920.5
申请日：2012-09-19
申请人： 南京理工大学
IPC分类号： G01J3/45
摘要： 一种窄带高光谱的快速干涉成像方法及装置，本方法第一步，根据探测波段和选用的带通滤光片计算出干涉成像光谱仪干涉信息的压缩采样频率；第二步，利用计算得到的采样频率对干涉信息进行压缩采样；第三步，对压缩采样后的干涉信息进行傅里叶变换，获取目标探测波段内的光谱信息。本装置利用该方法对窄带波段目标进行成像光谱探测，包括共轴设置的滤光片组件，干涉成像光谱仪、面阵探测器和与之连接的信号处理系统。本发明解决了现有干涉高光谱成像装置在探测窄带波段时存在的计算冗余的问题，可以实现窄带波段的快速干涉成像光谱探测。
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公开(公告)号：CN102879098A
公开(公告)日：2013-01-16
申请号：CN201210360920.5
申请日：2012-09-19
申请人： 南京理工大学
IPC分类号： G01J3/45
摘要： 一种窄带高光谱的快速干涉成像方法及装置，本方法第一步，根据探测波段和选用的带通滤光片计算出干涉成像光谱仪干涉信息的压缩采样频率；第二步，利用计算得到的采样频率对干涉信息进行压缩采样；第三步，对压缩采样后的干涉信息进行傅里叶变换，获取目标探测波段内的光谱信息。本装置利用该方法对窄带波段目标进行成像光谱探测，包括共轴设置的滤光片组件，干涉成像光谱仪、面阵探测器和与之连接的信号处理系统。本发明解决了现有干涉高光谱成像装置在探测窄带波段时存在的计算冗余的问题，可以实现窄带波段的快速干涉成像光谱探测。
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