一种镜组的装调方法
    1.
    发明公开

    公开(公告)号:CN107505684A

    公开(公告)日:2017-12-22

    申请号:CN201710741132.3

    申请日:2017-08-25

    IPC分类号: G02B7/02 G02B27/62

    摘要: 本发明公开了一种镜组的装调方法。该方法步骤如下:根据镜组参数设定镜筒的尺寸,与每个镜片对应的镜筒壁沿周向均匀设置四个调整螺丝;装调时,首先利用杠杆表调整镜筒与中心偏测量仪的位置,调整工作台与中心激光光束光轴的水平位置与俯仰位置;其次,通过调整螺丝对第一个镜片的光轴进行调整,采用隔圈固定后置入下一个镜片继续进行光轴调整;并记录各镜片的实际装调误差;将各镜片参数代入仿真系统,得到该镜组的理想仿真波面;对装调之后的镜筒进行测量得到实际波面,将理想仿真波面与实测波面进行比较,重新仿真得到的理想仿真波面与实测波面误差小于阈值,从而得到镜组装调误差。本发明的误差标定精度高,也极大地提高了整个光学系统的测量精度。

    基于Tip\Tilt镜的动态角度调制干涉系统的误差标定方法

    公开(公告)号:CN109059802B

    公开(公告)日:2019-08-13

    申请号:CN201810877609.5

    申请日:2018-08-03

    IPC分类号: G01B11/24

    摘要: 本发明公开一种基于Tip\Tilt镜的动态角度调制干涉系统的误差标定方法,步骤如下:第一步,搭建基于Tip\Tilt镜的动态角度调制干涉系统,第二步,调整tip/tilt镜的空间位置及姿态,设定初始位置,第三步,绘制泽尼克前36项各项系数与偏摆角度的关系曲线;第四步,得到泽尼克前36项各项系数在tip/tilt镜不同偏摆方向及不同偏摆角度下的系数值;第五步,利用第四步所获得的结果,得到该系统中tip/tilt镜在任意偏摆状态下,系统的输出波前信息,从而实现对系统误差的标定。该方法具有动态、高效、通用性强等优点。

    非零位点衍射干涉系统中的梯度补偿装置

    公开(公告)号:CN109029282A

    公开(公告)日:2018-12-18

    申请号:CN201810425132.7

    申请日:2018-05-07

    IPC分类号: G01B11/24 G01B9/02

    CPC分类号: G01B11/2441 G01B9/02015

    摘要: 本发明公开了一种非零位点衍射干涉系统中的梯度补偿装置,包括光纤激光器、光纤阵列、1/4波片和成像系统,光纤阵列端面镀有半透半反膜,光纤激光器与光纤阵列连接,1/4波片紧贴半透半反膜设置,待测件和成像系统均位于1/4波片的出射光路上;光纤阵列中每根光纤均由光开关实现光路通断。本发明中光纤的通断可以单独控制,无需掩膜板,可以根据各种面形表面梯度,通过控制每根光纤的通断灵活生成动态分布的空间点衍射源,测量通用性强;利用光纤阵列端面作为点衍射器件,产生近似理想的标准球面波作为参考波前,从而避免在干涉系统中加入标准镜,这就避免了因标准镜的加工误差引入的波像差,同时突破了标准镜口径对测量口径的限制。

    基于最小二乘旋转匹配的干涉标准件误差分离方法

    公开(公告)号:CN106017306B

    公开(公告)日:2018-07-06

    申请号:CN201610300921.9

    申请日:2016-05-09

    IPC分类号: G01B9/02 G01B11/24

    摘要: 本发明公开了一种基于最小二乘旋转匹配的干涉标准件误差分离方法,基于矢量光学理论对长焦透镜零位干涉测试系统构建了三维光线追迹仿真系统,利用仿真系统将干涉标准件面形偏差从长焦透镜测试结果中分离,解决了干涉标准件面形偏差在最终的长焦透镜测量结果中引入误差信息的问题,实现长焦透镜透射波前的GRMS和PSD1高精度测量。在误差分离的过程中,关键是找到三维光线追迹仿真系统中干涉标准件的空间姿态与干涉仪检测时的姿态一致处,即干涉标准件的空间姿态匹配问题。提出利用最小二乘原理,通过不断旋转三维光线追迹仿真系统中干涉标准件的空间姿态,使得仿真系统输出波前与干涉仪测试波前差值最小,完成姿态匹配。

    基于粗精二级分光结构的非稳环境瞬态温度测量装置

    公开(公告)号:CN105258802A

    公开(公告)日:2016-01-20

    申请号:CN201510735517.X

    申请日:2015-11-03

    IPC分类号: G01J5/00 G01J5/10 G01J5/08

    摘要: 本发明公开了一种基于粗精二级分光结构的非稳环境瞬态温度测量装置,包括前置光学机构、传导光纤、分光机构和信号采集与处理模块;前置光学机构通过传导光纤将目标发出的光谱传输到分光机构,分光机构将特征光谱信号分离提取出来,送入到信号采集与处理系统,信号采集与处理系统产生与特征光谱信号强度相对应的电压信号,通过激发温度算法数学模型和辐射温度算法数学模型对其分析得到测量对象的瞬态温度。本发明可对宽光谱范围内多种元素的特征光谱进行提取,能够对存在强电磁辐射、振动、温度变化快等恶劣因素的非稳定环境中的目标的温度进行精确测量。

    基于径向扫描结合环向扫描的摆臂轮廓面形检测方法

    公开(公告)号:CN104596464A

    公开(公告)日:2015-05-06

    申请号:CN201510039236.0

    申请日:2015-01-26

    IPC分类号: G01B21/20

    CPC分类号: G01B21/20

    摘要: 本发明公开了一种基于径向扫描结合环向扫描的摆臂轮廓面形检测方法,利用基于Forbes多项式拟合的方法对被检元件表面特征进行描述,获得被检元件在非解析表达下的表面梯度分布;建立表面梯度与被检元件特征轮廓的数学模型,提取被检元件特征轮廓线;对提取的特征轮廓线按照径向和环向分别进行测量路径的规划;用摆臂轮廓仪的探针对被检元件按规划的测量路径分别进行径向扫描和环向扫描,获得被检元件的一维特征轮廓数据;利用面形偏差拟合重构算法将被检元件的一维特征轮廓数据进行插值、拟合、重构,最终得到被检元件的二维全面形。该方法具有高效率、高精度、应用广等优点。

    基于基函数多波长拟合辐射测温的方法

    公开(公告)号:CN105300526B

    公开(公告)日:2018-05-01

    申请号:CN201510608960.0

    申请日:2015-09-22

    IPC分类号: G01J5/00

    摘要: 本发明公开了一种基于基函数多波长拟合辐射测温的方法,首先查找被测材料在经典温度下的光谱发射率数据,通过自动寻阶法和逐步回归法,确定被测材料在经典温度下光谱发射率的基函数,再至少选择m+2个特征波长,分别获得m+2个特征波长对应的经典温度下光谱发射率的基函数形式,最后通过使用光谱辐射度标准灯标定的多光谱辐射瞬态高温计得到被测材料在特征波长下的辐射出射度,将m+2个特征波长对应的经典温度下光谱发射率的基函数带入维恩公式,获得最终方程组,通过求解最终方程组,得到被测材料的辐射温度和基函数未知系数与常数项。本发明的优点在于可以减少发射率对测温精度的影响,同时具有精度高,实用性好,应用广泛等特点。

    基于动态分时倾斜载频干涉的面形检测装置及检测方法

    公开(公告)号:CN107560565A

    公开(公告)日:2018-01-09

    申请号:CN201710735650.4

    申请日:2017-08-24

    IPC分类号: G01B11/24

    摘要: 本发明公开了一种基于动态分时倾斜载频干涉的面形检测装置及检测方法,根据被检元件的面形,计算出所需要的空间干涉点源阵列位置,采用Tip/Tilt镜产生分时空间干涉点源阵列,每调整一次Tip/Tilt镜的空间姿态,实现一个空间点源的布置。通过设计好的姿态调整位置,依次完成所规划空间点源的扫描。解算干涉条纹,完成被检元件的面形重构,从而实现本发明的高精度面形元件的面形测量。本发明的优点在于采用Tip/Tilt镜的偏摆使其产生轴外倾斜,保证了理想点光源的标准球面波特性;干涉源阵列的空间尺寸不受限制,解决大口径测量的难题;分时动态产生任意分布的轴外干涉点源阵列,提高测量通用性;使干涉源全部利用激光能量,简化系统结构。

    多光谱光场相机
    9.
    发明公开

    公开(公告)号:CN103234527A

    公开(公告)日:2013-08-07

    申请号:CN201310118562.1

    申请日:2013-04-07

    IPC分类号: G01C11/02 G01C11/36

    摘要: 本发明提供一种多光谱光场相机,包括沿光路方向顺次设置的滤光片阵列、成像主透镜、微透镜阵列、组合副透镜、探测器和信号处理系统;成像方法为:首先,在成像主透镜的光瞳面上放置滤光片阵列,采用孔径分割的方法引入目标各个光谱段的信息;其次,利用位于成像主透镜像面上的微透镜阵列对多光谱信息进行空间上的分离;并引入组合副透镜将微透镜焦平面二次转移到探测器光敏面上;最后信号处理系统对探测器得到的数据进行计算,提取得到不同波段光谱图像。本发明可以在同一时间获得全视野范围内每一像素的多光谱信息,实现动态多光谱成像,且系统结构稳固。

    基于多向倾斜载频的非零位新型点衍射干涉测量系统

    公开(公告)号:CN108362222B

    公开(公告)日:2020-06-19

    申请号:CN201810083474.5

    申请日:2018-01-29

    IPC分类号: G01B11/24

    摘要: 本发明提出了一种基于多向倾斜载频的非零位新型点衍射干涉测量系统,包括线偏振激光光源、光纤耦合器模块、光纤阵列、待测件以及干涉图像采集系统,所述偏振激光光源、光纤耦合器模块、光纤阵列依次共第一光轴设置,所述待测件位于第二光轴,第二光轴与第一光轴夹角为每根光纤出射光束发散角的四分之一,所述待测件的最佳拟合球面曲率中心与光纤阵列端面中心重合。本发明利用光纤阵列构成点衍射阵,产生多向倾斜载频的波面补偿被测件表面梯度,解决干涉法测量复杂面形元件时干涉条纹密度过大,无法解算的问题。