绝缘子的检测系统、检测方法和检测装置

    公开(公告)号:CN118961722A

    公开(公告)日:2024-11-15

    申请号:CN202411213614.8

    申请日:2024-08-30

    Abstract: 本申请提供了一种绝缘子的检测系统、检测方法和检测装置。该检测系统包括:激光发生器,用于向绝缘子发出第一激光;光电导天线,位于激光发生器和绝缘子之间,用于将第一激光转化为第二激光,第二激光的频率高于第一激光;半透镜,位于光电导天线和绝缘子之间,用于将绝缘子反射的第二激光进行折射;可视化组件,用于接收半透镜折射的绝缘子反射的第二激光,并将反射的第二激光的信息转化为可视化图像,可视化图像用于显示绝缘子的老化程度。检测系统可以实时对绝缘子进行检测,且采用高频激光的检测技术可以提升对绝缘子的检测准确性,进而解决了现有技术中难以对绝缘子的老化程度进行实时检测,且检测精度较低的问题。

    绝缘组件的检测系统、检测方法和检测装置

    公开(公告)号:CN118884151A

    公开(公告)日:2024-11-01

    申请号:CN202411213615.2

    申请日:2024-08-30

    Abstract: 本申请提供了一种绝缘组件的检测系统、检测方法和检测装置,该装置包括激光发生器,用于向绝缘组件发射激光;接收器组件,位于激光发生器的至少一侧,用于接收绝缘组件反射的激光;转换器,与接收器组件电连接,用于根据绝缘组件反射的激光的光信号,生成绝缘组件的光谱图像;控制器,与转换器电连接,用于根据光谱图像的光谱信息,确定绝缘组件的特征信息,特征信息包括绝缘组件的空间放电信息。通过利用激光束对绝缘组件表面进行扫描,检测由空间放电产生的光信号,从而实现对绝缘组件空间放电的精确检测。解决了现有技术中对绝缘组件的空间放电检测不准确的问题。

Patent Agency Ranking