公开(公告)号：CN1093939C

公开(公告)日：2002-11-06

申请号：CN96196023.X

申请日：1996-03-25

申请人： 泰拉丁公司

发明人： 小格拉尔德·F·米廷 ,  乔治·W·康纳

IPC分类号： G01R31/28

CPC分类号： G01R31/2882 ,  G01R31/3191 ,  G01R31/31922

摘要： 用低成本CMOS元件实现的自动测试设备，使用了一个延迟锁定环以补偿由过程变化和工作温度的慢变化所引起的定时差异。本设计还减少了在处理随被编程频率变化的信号的主要定时通路中的电路元件数量。

公开(公告)号：CN1192275A

公开(公告)日：1998-09-02

申请号：CN96196023.X

申请日：1996-03-25

申请人： 泰拉丁公司

发明人： 小格拉尔德·F·米廷 ,  乔治·W·康纳

IPC分类号： G01R31/316

CPC分类号： G01R31/2882 ,  G01R31/3191 ,  G01R31/31922

摘要： 用低成本CMOS元件实现的自动测试设备,使用了一个延迟锁定环以补偿由过程变化和工作温度的慢变化所引起的定时差异。本设计还减少了在处理随被编程频率变化的信号的主要定时通路中的电路元件数量。