公开(公告)号：CN107843832A

公开(公告)日：2018-03-27

申请号：CN201711099838.0

申请日：2017-11-09

申请人： 中京复电(上海)电子科技有限公司

发明人： 冀京秋 ,  蒋亦青

IPC分类号： G01R31/28

CPC分类号： G01R31/2882

摘要： 本发明公开了一种无源UHF RFID标签写入时间的测试方法，包括使RFID标签读写器向一待测试标签发送指令，使待测试标签处于开放状态；使射频信号分析装置采集RFID标签读写器与待测试标签通信过程中的射频信号；使RFID标签读写器发送第一次写入命令至待测试标签的第一块存储区，并记录第一次写入命令的完成时间；使RFID标签读写器发送第一次读取命令至待测试标签的第一块存储区，已验证第一次写入命令是否成功；使RFID标签读写器发送第二次写入命令至待测试标签的最后一块存储区，并记录第二次写入命令的完成时间；使RFID标签读写器发送第二次读取命令至待测试标签的最后一块存储区，已验证第二次写入命令是否成功。本发明获得了以下有益效果：可对无源UHF RFID标签的写入时间进行测试。

公开(公告)号：CN103842835B

公开(公告)日：2016-03-23

申请号：CN201180073867.4

申请日：2011-09-28

申请人： 英特尔公司

发明人： K·A·鲍曼 ,  C·托库纳加 ,  J·W·查汉茨

IPC分类号： G01R31/3193 ,  G01R31/26 ,  G01R31/28 ,  G01R31/317 ,  G06F1/10

CPC分类号： G01R31/31707 ,  G01R31/2642 ,  G01R31/2882 ,  G01R31/31725 ,  G01R31/31937 ,  G06F1/10

摘要： 一种老化监控电路，提供对电路和/或电路通道中的老化和/或延迟的更准确的估计。该老化监控电路使用具有驱动和接收触发器（FF）和可调节复制电路（TRC）的单独的老化通道，来实现只通过应力晶体管或其它电路元件来传播的单转变DC应力通道延迟的测量。在老化监控电路中的有限状态机（FSM）被配置成响应于由接收FF输出的误差信号来调整由数字控制振荡器（DCO）输出的时钟信号的频率。误差信号响应于单转变DC应力通道延迟而产生，并因此实现对时钟信号的频率的调整以对应于延迟的量或影响。

公开(公告)号：CN104101827A

公开(公告)日：2014-10-15

申请号：CN201410291341.9

申请日：2014-06-25

申请人： 东南大学

发明人： 单伟伟 ,  田朝轩

IPC分类号： G01R31/28

CPC分类号： G01R31/2882 ,  G01R31/26 ,  H03K3/0315

摘要： 本发明公开一种基于自定时振荡环的工艺角检测电路，包括复位电路、自定时振荡环和计数模块，所述复位电路由两个触发器和一个二输入或门构成；所述自定时振荡环由m个二输入密勒单元和反相器以及一个二输入与门构成，其中m是大于等于3的正整数；所述计数模块由n个带复位端的触发器串联构成，其中n是大于等于3的正整数。本发明提供了一个可以用来检测制造完成的集成电路芯片所处的工艺角的电路，该电路通过自定时振荡环的振荡次数来反映芯片所处的工艺角。在芯片流片前先通过仿真得出自定时振荡环在不同工艺角下的振荡次数，在流片后就可以根据实测的振荡次数来判断芯片处于何工艺角。

公开(公告)号：CN101995542A

公开(公告)日：2011-03-30

申请号：CN201010243238.9

申请日：2010-07-30

申请人： 瑞萨电子株式会社

发明人： 黑田秀彦

IPC分类号： G01R31/28 ,  G01R1/067 ,  G01R25/00

CPC分类号： G01R31/2824 ,  G01R31/2882

摘要： 半导体集成电路测试装置包括：IC测试器，提供基于确定被分选的半导体集成电路的预分频器质量的条件的第一和第二控制信号；探针卡，连接至IC测试器并与半导体集成电路连接。探针卡包括：VCO，输出基于第一控制信号的具有给定频率的信号；基准预分频器，分频从VCO输出的信号的给定频率；功率可变装置，将具有给定频率和基于第二控制信号的给定功率的信号提供给被分选的预分频器；可变移相器，取消基于信号经过基准预分频器的路的长度和信号经过被分选的预分频器的路径长度之差的相位差；转换电路部件，将基于具有通过被分选的预分频器分频的频率的信号和从基准预分频器输出的信号之间的相位差的信号转换为DC电压并将DC电压输出到IC测试器。

公开(公告)号：CN1886668B

公开(公告)日：2010-09-22

申请号：CN200480034708.3

申请日：2004-11-24

申请人： 高通股份有限公司

发明人： 加格鲁特·维利斯库马尔·帕特尔 ,  马丁·永村·崔 ,  齐亚德·曼苏尔

IPC分类号： G01R31/28

CPC分类号： G01R31/2882 ,  G01R31/31707 ,  G01R31/31718 ,  G01R31/31725 ,  G11C29/00 ,  G11C29/50012 ,  G11C2029/5002

摘要： 本发明揭示涉及到通信的系统及技术。所述系统及技术包括确定在通信器件中所用芯片的温度及处理速度。所述系统及技术包括测量嵌入于芯片中的环形振荡器(100，102)的输出、并根据其来计算温度及处理速度。

公开(公告)号：CN106841976A

公开(公告)日：2017-06-13

申请号：CN201611180024.5

申请日：2016-12-19

申请人： 西安微电子技术研究所

发明人： 张冰

IPC分类号： G01R31/28

CPC分类号： G01R31/2882

摘要： 本发明公开了一种测试模拟开关通道转换无效输出时间的装置，包括与模拟电压产生模块、电压检测模块、测试板模块、电源和双踪示波器；其中模拟电压产生模块、电压检测模块、测试板模块分别与待测模拟开关的输入端连接，其中待测模拟开关为多路通道模拟开关，待测模拟开关与电源连接，待测模拟开关的输出端还与双踪示波器连接；其中待测模拟开关的输出端还连接有负载电阻和负载电容。能够用来表征模拟开关在高速应用时切换通道的效率，能够提升模拟开关在高速、高精度相关技术领域的应用及发展，为该通用电路更好的服务现代高新电子产业发展做好支撑。

公开(公告)号：CN104101827B

公开(公告)日：2016-08-31

申请号：CN201410291341.9

申请日：2014-06-25

申请人： 东南大学

发明人： 单伟伟 ,  田朝轩

IPC分类号： G01R31/28

CPC分类号： G01R31/2882 ,  G01R31/26 ,  H03K3/0315

摘要： 本发明公开一种基于自定时振荡环的工艺角检测电路，包括复位电路、自定时振荡环和计数模块，所述复位电路由两个触发器和一个二输入或门构成；所述自定时振荡环由m个二输入密勒单元和反相器以及一个二输入与门构成，其中m是大于等于3的正整数；所述计数模块由n个带复位端的触发器串联构成，其中n是大于等于3的正整数。本发明提供了一个可以用来检测制造完成的集成电路芯片所处的工艺角的电路，该电路通过自定时振荡环的振荡次数来反映芯片所处的工艺角。在芯片流片前先通过仿真得出自定时振荡环在不同工艺角下的振荡次数，在流片后就可以根据实测的振荡次数来判断芯片处于何工艺角。

公开(公告)号：CN105842602A

公开(公告)日：2016-08-10

申请号：CN201610091551.2

申请日：2011-09-28

申请人： 英特尔公司

发明人： K·A·鲍曼 ,  C·托库纳加 ,  J·W·查汉茨

IPC分类号： G01R31/26 ,  G01R31/28 ,  G01R31/317 ,  G01R31/3193 ,  G06F1/10

CPC分类号： G01R31/31937 ,  G01R31/2642 ,  G01R31/2882 ,  G01R31/31725 ,  G06F1/10

摘要： 一种老化监控电路，提供对电路和/或电路通道中的老化和/或延迟的更准确的估计。该老化监控电路使用具有驱动和接收触发器(FF)和可调节复制电路(TRC)的单独的老化通道，来实现只通过应力晶体管或其它电路元件来传播的单转变DC应力通道延迟的测量。在老化监控电路中的有限状态机(FSM)被配置成响应于由接收FF输出的误差信号来调整由数字控制振荡器(DCO)输出的时钟信号的频率。误差信号响应于单转变DC应力通道延迟而产生，并因此实现对时钟信号的频率的调整以对应于延迟的量或影响。

公开(公告)号：CN103134993A

公开(公告)日：2013-06-05

申请号：CN201110397748.6

申请日：2011-12-05

申请人： 上海北京大学微电子研究院

发明人： 魏泰 ,  蒋乐乐 ,  王磊 ,  程玉华

IPC分类号： G01R27/26

CPC分类号： G01R27/26 ,  G01R31/2648 ,  G01R31/2882 ,  H01L22/14 ,  H01L22/34

摘要： 本发明提出了一种金属层间层内电容的分离方法，以有效的分离金属层间、层内电容。该分离方法主要包括：测量平行金属板结构和combmeander结构的层间电容，测量金属结构combmeander的层内电容，测量平行金属板结构和金属结构comb之间的层间电容，测量平行金属板结构和金属结构meander之间的层间电容；combmeander的层内电容乘二再加上平行金属板结构各与结构comb、meander之间的层间电容，再减去平行金属板结构和combmeander结构之间的总电容，便分离出金属结构combmeander的层内电容。这种金属层间层内电容的分离方法能够更加精确有效的分离出层内电容。

公开(公告)号：CN102680881A

公开(公告)日：2012-09-19

申请号：CN201210063223.3

申请日：2012-03-12

申请人： 阿尔特拉公司

发明人： J·G·达斯蒂达尔 ,  K·R·坎蒂普迪

IPC分类号： G01R31/28

CPC分类号： G01R31/318591 ,  G01R31/2882 ,  G01R31/318541 ,  G01R31/318544 ,  G01R31/318558

摘要： 本发明公开了测试集成电路(IC)的电路和方法。公开的电路块包括被联接从而接收使能信号和两个时钟信号的选择器电路。基于接收的使能信号，两个时钟信号之一被选择作为选择器电路的输出。存储元件被联接以接收使能信号和选择器电路的输出作为时钟输入信号。逻辑门被联接以接收存储元件的输出和使能信号。另一个选择器电路被联接以接收来自逻辑门的输出和使能信号。选择器电路选择逻辑门的输出或使能信号作为IC上扫描链的扫描使能信号。