公开(公告)号：CN103424187A

公开(公告)日：2013-12-04

申请号：CN201310359016.7

申请日：2008-06-05

Applicant: 浜松光子学株式会社

Inventor： 柴山胜己 ,  H·泰希曼 ,  能野隆文 ,  铃木智史 ,  D·希勒 ,  U·施塔克

IPC: G01J3/02

CPC classification number: G01J3/02 ,  G01J3/0202 ,  G01J3/0208 ,  G01J3/0256 ,  G01J3/0259 ,  G01J3/0262 ,  G01J3/18 ,  G01J3/2803

Abstract: 分光模块（1）中，由于本体部（2）为板状，因而能够通过本体部（2）的薄型化来谋求小型化。并且，由于本体部（2）为板状，因而例如能够利用晶圆工艺来制造分光模块（1）。即，通过对作为多个本体部（2）的玻璃晶圆，以矩阵状设置透镜部（3）、衍射层（4）、反射层（6）以及光检测元件（7）设置成矩阵状，并切割该玻璃晶圆，能够制造多个分光模块（1）。如此，能够容易地大量生产分光模块（1）。

公开(公告)号：CN101932926B

公开(公告)日：2013-07-24

申请号：CN200980000111.X

申请日：2009-01-20

Applicant: 大塚电子株式会社

Inventor： 大久保和明

IPC: G01N21/64

CPC classification number: G01N21/645 ,  G01J3/0254 ,  G01J3/0262 ,  G01N21/276 ,  G01N2021/6417 ,  G01N2201/0655

Abstract: 将作为量子效率的测量对象部的试样(OBJ1)以及具有已知的反射率特性的标准体(REF1)分别安装到设置于平面镜(5)的试样窗(2)上。根据在分别安装了试样(OBJ1)以及标准体(REF1)的情况下由光谱仪测量到的各个光谱来测量试样(OBJ1)的量子效率。通过使观测窗(3)的开口面与试样(OBJ1)或者标准体(REF1)的露出面实质上一致，抑制接受激发光(L1)而由试样(OBJ1)产生的荧光以及由试样(OBJ1)反射的激发光(L1)直接入射到观测窗(3)。

公开(公告)号：CN102812340A

公开(公告)日：2012-12-05

申请号：CN201080065211.3

申请日：2010-04-02

Applicant: 台湾超微光学股份有限公司

Inventor： 柯正浩

IPC: G01J3/18 ,  G01J3/36

CPC classification number: G01J3/0256 ,  G01J3/0262 ,  G01J3/2803

Abstract: 一种能接收零阶光谱分量（SO0）及一阶光谱分量(SO1)的微型光谱仪（1），包括：接收光学信号的输入部(10)、微型绕射光栅(20)和光感测器(30)。绕射光栅(20)具有一聚焦曲面(23)及形成在聚焦曲面(23)上的绕射图案(24)，接收光学信号（SO）并将光学信号（SO）分离成多个光谱分量，该光谱分量包含零阶光谱分量（SO0）及一阶光谱分量(SO1)。光感测器(30)具有第一感测区段及第二感测区段(34)，接收被微型绕射光栅(20)分离并聚焦的多个光谱分量。第一感测区段(32)接收零阶光谱分量（SO0），而第二感测区段(34)接收一阶光谱分量(SO1)。

公开(公告)号：CN102792135A

公开(公告)日：2012-11-21

申请号：CN201080064332.6

申请日：2010-04-19

Applicant: 台湾超微光学股份有限公司

Inventor： 柯正浩

IPC: G01J3/18 ,  G01J3/36 ,  G02B26/08

CPC classification number: G01J3/18 ,  G01J3/0256 ,  G01J3/0262 ,  G01J3/0291 ,  G02B27/0018 ,  G02B27/4244

Abstract: 一种具有杂散光滤除构造（20）的微型光谱仪，包括输入部（10），杂散光滤除构造（20）和微型绕射光栅（30）。输入部（10）接收处于预设角度内的第一光信号（S1）和处于预设角度外的第二光信号（S2）。杂散光滤除构造（20）用于滤除第二光信号（S2），并且包括第一过滤区段（22）和第二过滤区段（24）。第一过滤区段（22）和第二过滤区段（24）具有相对设置的齿状结构（22T，24T），两个齿状结构（22T，24T）之间限定出一光通道（26）以使第一光信号（S1）通过，滤除第二光信号（S2）。微型绕射光栅（30）接收通过杂散光滤除构造（20）的第一光信号（S1），并将第一光信号（S1）分离成多个光谱分量。

公开(公告)号：CN102483351A

公开(公告)日：2012-05-30

申请号：CN201080037678.7

申请日：2010-08-31

Applicant: 浜松光子学株式会社

Inventor： 柴山胜己 ,  能野隆文

IPC: G01J3/18

CPC classification number: G01J3/0262 ,  G01J3/0208 ,  G01J3/021 ,  G01J3/0259 ,  G01J3/0291 ,  G01J3/18 ,  G01J3/2823

Abstract: 本发明的分光模块中，以比衍射层(6)厚的方式，沿着衍射层(6)的周缘(6a)一体形成凸缘部(7)，且在透镜部(3)的曲面(3a)中与凸缘部(7)接触的部分为粗糙面。由此，由与曲面(3a)的粘着性高的凸缘部(7)包围衍射层(6)。因此，即使将衍射层(6)薄型化，也可防止衍射层(6)从透镜部(3)的凸状曲面(3a)剥离。而且，该分光模块中，在凸缘部(7)中与透镜部(3)的曲面(3a)相对的后表面(7a)成为平坦面。由此，即使光入射至凸缘部(7)内，该光也会到达凸缘部(7)的平坦面即后表面(7a)。因此，可减少作为杂散光直接成像于光检测元件的光检测部的光。

公开(公告)号：CN102235910A

公开(公告)日：2011-11-09

申请号：CN201110074890.7

申请日：2011-03-24

Applicant: 大*电子株式会社

Inventor： 大久保和明 ,  田口都一

IPC: G01J3/28 ,  G01J3/02 ,  G01M11/02 ,  G02B6/26

CPC classification number: G01N21/55 ,  G01J3/02 ,  G01J3/0218 ,  G01J3/0251 ,  G01J3/0254 ,  G01J3/0262 ,  G01J3/10 ,  G01N21/255 ,  G01N21/59 ,  G01N2201/0655

Abstract: 本发明提供一种光学测量装置、光学测量系统以及光纤耦合器。光学测量装置包括：光谱测量器(50)；用于传输作为测量对象的光的第1光纤(20)；在内壁上具有光扩散反射层(1a)的半球部(1)；以封闭半球部的开口部的方式配置的、在半球部的内壁侧具有镜面反射层(2a)的平面部(2)。平面部包括用于将通过第1光纤而被射出的光向由半球部和平面部形成的积分空间内导通的第1窗(5)。光学测量装置还包括将积分空间内的光透过平面部的第2窗(6)而向光谱测量器传输的第2光纤(30)。

公开(公告)号：CN102187203A

公开(公告)日：2011-09-14

申请号：CN200980140897.5

申请日：2009-09-08

Applicant: 浜松光子学株式会社

Inventor： 渡边元之 ,  井口和也 ,  铃木健吾

IPC: G01N21/63 ,  G01J3/443

CPC classification number: G01N21/645 ,  G01J3/02 ,  G01J3/0262 ,  G01J3/0267 ,  G01J3/0291 ,  G01J3/4406 ,  G01J3/443 ,  G01N2201/0632 ,  G01N2201/065

Abstract: 本发明涉及分光测定装置、分光测定方法以及分光测定程序。具备在内部配置试料(S)的积分球(20)、对来自试料(S)的被测定光进行分光从而取得波长光谱的分光分析装置(30)以及数据解析装置(50)从而构成分光测定装置(1A)。解析装置(50)具有在波长光谱中设定对应于激励光的第1对象区域以及对应于来自试料(S)的发光的第2对象区域的对象区域设定部、以及求得试料(S)的发光量子收率的试料信息解析部，根据参照测定以及样品测定的结果求得发光量子收率的测定值φ0，并且使用与参照测定中的杂散光相关的系数β、γ，并由φ＝βφ0+γ求得降低了杂散光的影响的发光量子收率的解析值φ。由此，实现了可以降低在分光器内所发生的杂散光的影响的分光测定装置、测定方法以及测定程序。

公开(公告)号：CN101652653A

公开(公告)日：2010-02-17

申请号：CN200880003475.9

申请日：2008-01-17

Applicant: 坎布留斯公司

Inventor： G·C·布朗 ,  M·伯卡 ,  B·克兰顿 ,  D·埃里克森 ,  J·格雷西 ,  M·P·哈蒙 ,  M·B·沙菲尔 ,  P·维勒纳维

IPC: G01N21/65 ,  G01J3/44

CPC classification number: G01N21/65 ,  G01J3/02 ,  G01J3/0208 ,  G01J3/0262 ,  G01J3/0286 ,  G01J3/0291 ,  G01J3/10 ,  G01J3/26 ,  G01J3/36 ,  G01J3/44 ,  G01J2003/1269 ,  G01N2021/1793 ,  G01N2021/8416 ,  G01N2201/0245 ,  G01N2201/067

Abstract: 一种用于工业化学过程的测量的光学设备。该分析仪使用拉曼散射，并且执行连续或批量过程中的化学浓度的测量。分析仪在距分析物的一定间隔距离处进行操作，并且可通过光学端口来测量浓度，帮助连续无损或无创分析而无需从过程提取分析物。分析仪可测量一个或若干固体、液体或气体分析物或者它们的组合。

公开(公告)号：CN100566486C

公开(公告)日：2009-12-02

申请号：CN200680023451.0

申请日：2006-06-23

Applicant: 皇家飞利浦电子股份有限公司

Inventor： E·J·梅杰 ,  E·蒂梅林

IPC: H05B33/08 ,  G02F1/13

CPC classification number: H05B33/0869 ,  G01J1/0488 ,  G01J1/06 ,  G01J3/0262 ,  G01J3/26 ,  G01J3/505 ,  G01J2001/4247

Abstract: 本发明涉及一种用于控制LED光源光输出的控制系统，该LED光源包括由至少一个LED组成的单色LED组。该控制系统包括光谱滤光器和光电探测器，该光电探测器因而接收来自LED组的经过光谱滤光的光。光电探测器产生响应信号，将响应信号施加至控制装置。控制装置至少部分地基于该响应信号控制所述LED组的光输出。该控制系统还包括入射角限制装置，该入射角限制装置设置成限制由所述滤光器接收的LED发射的光的入射角。

公开(公告)号：CN101365931A

公开(公告)日：2009-02-11

申请号：CN200680007975.0

申请日：2006-01-11

Applicant: 密苏里大学管理者

Inventor： D·W·拉尔森 ,  徐治

IPC: G01J3/42 ,  G01J3/427

CPC classification number: G01N21/31 ,  G01J3/02 ,  G01J3/0224 ,  G01J3/0262 ,  G01J3/0286 ,  G01J3/0291 ,  G01J3/42 ,  G01J2003/425 ,  G01N21/274 ,  G01N2021/3137 ,  G01N2201/0227 ,  G01N2201/0642 ,  G01N2201/127

Abstract: 本发明涉及通过与物质的反射相互作用提供超灵敏的测量的分光光度计装置。本发明的实施例使用无内部光源的密封壳体(112，600，700)，及基于样品室和参考室的反射。在一些实施例中使用了基本一体的实心导热壳体(600，700)。优选实施例的其他特征包括基于样品室和参考室的特殊反射。例如，全内反射实施例包括，含有互作用表面的棱镜(302，322，622a，623a)，检测器，聚焦从棱镜输出到检测器上的光的透镜，含有放置气体或液体到互作用面的出口和入口的密闭的互作用容器。在镜面反射实施例中，使用反射面(402，422)。在漫反射实施例中，使用粗糙面(502，522)，该粗糙面产生散射。