公开(公告)号：CN106595854B

公开(公告)日：2019-08-13

申请号：CN201611139570.4

申请日：2012-06-12

申请人： 科磊股份有限公司

发明人： 厄尔·詹森 ,  梅·孙 ,  凯文·奥布赖恩

IPC分类号： G01J3/02 ,  G01J3/36 ,  G01J3/12 ,  G01J1/58

CPC分类号： G01J3/0259 ,  G01J1/58 ,  G01J3/0205 ,  G01J3/021 ,  G01J3/0256 ,  G01J3/0262 ,  G01J3/36 ,  G01J2003/1213

摘要： 本申请涉及晶片级光谱仪。本发明涉及一种用于测量光学辐射的特性的传感器设备，所述传感器设备具有衬底及位于所述衬底内在一个或一个以上空间上分离的位置处的低轮廓光谱选择性检测系统。所述光谱选择性检测系统包含以光学方式耦合到对应光学检测器阵列的大体层状波长选择器阵列。应强调，提供本摘要以符合需要将允许搜索者或其它读者快速断定技术性揭示内容的标的物的摘要的规则。提交本摘要是基于以下理解：其将不用于解释或限制权利要求书的范围或含义。

公开(公告)号：CN106104255B

公开(公告)日：2019-05-28

申请号：CN201580014227.4

申请日：2015-03-13

申请人： 皇家飞利浦有限公司

发明人： K·C·J·韦杰布兰斯 ,  G·W·吕卡森 ,  B·H·W·亨德里克斯

IPC分类号： G01N21/25 ,  G01N21/31 ,  G01N21/47 ,  G01N21/49 ,  G01J3/12 ,  G02B6/12 ,  A61B1/00 ,  G01J3/26 ,  G01J3/28 ,  G02B6/293

CPC分类号： G01J3/12 ,  A61B5/0075 ,  A61B5/725 ,  A61B5/7264 ,  G01J3/0218 ,  G01J3/26 ,  G01J3/28 ,  G01J3/36 ,  G01J2003/1213 ,  G01J2003/1247 ,  G01N21/255 ,  G01N21/31 ,  G01N21/474 ,  G01N21/49 ,  G01N2201/12

摘要： 一种用于对样本进行分析的谱学分析设备，包括：光子集成电路(PIC)，包括：输入部(DEF)，其用于接收来自所述样本的光；以及解复用器(DEMUX)，其被布置为将接收到的光分布到至少一个第一光学链(C1)和第二光学链(C2)中；其中，所述光子集成电路(PIC)的每个光学链(C1、C2)还包括可调谐带通滤波器(TBF1、TBF2)和可变衰减器(ATT1、ATT2)以及光电探测器(PD1、PD2)，所述可调谐带通滤波器和所述可变衰减器以及所述光电探测器分别被布置为对被分布到其对应的光学链(C1、C2)中的所述光进行滤波和进行衰减以及进行探测。

公开(公告)号：CN108072446A

公开(公告)日：2018-05-25

申请号：CN201711146661.5

申请日：2017-11-17

申请人： 埃斯普罗光电股份公司

发明人： B·德科伊

IPC分类号： G01J3/45 ,  G01J3/02

CPC分类号： G01J3/45 ,  G01J3/26 ,  G01J3/2803 ,  G01J3/36 ,  G01J2003/1221 ,  G01J2003/1239 ,  G01J3/0205

摘要： 用于尤其在250nm至1150nm的波长范围内接受光谱的光谱仪(1)，包括传感器阵列(4)和用于基于波长过滤辐射的滤光器阵列(5)，其中为了降低制造成本设置用于标记由滤光器阵列(5)覆盖的传感器像素的装置(13)，其具有非易失性存储器(14)，其中存储了滤光器阵列(5)关于传感器阵列(4)的坐标和/或滤光器阵列(5)关于传感器阵列(4)的坐标变换，以便借助所存储的坐标和/或坐标变换使传感器像素对应于各个滤光器像素(7)和/或激活各个滤光器像素(7)，根据哪些传感器像素由相应的滤光器像素(7)覆盖。

公开(公告)号：CN103917859B

公开(公告)日：2018-04-13

申请号：CN201280055118.3

申请日：2012-08-22

申请人： 索尼公司

发明人： 佐藤英雄

IPC分类号： G01N21/64 ,  A61B5/1455 ,  A61B10/00 ,  G01N21/17

CPC分类号： A61B5/0071 ,  A61B5/1455 ,  G01J3/0202 ,  G01J3/0208 ,  G01J3/021 ,  G01J3/14 ,  G01J3/36 ,  G01J3/44 ,  G01J2003/1213 ,  G01N21/645 ,  G01N21/6486 ,  G01N2021/6421 ,  G01N2021/6471

摘要： 为了使得用于荧光光谱法中的生物计量测量的设备更紧凑。提供了一种生物计量设备，包括：光源单元，被布置为面向生物体的表面上的第一部分，并且用激发光照射所述第一部分；以及光接收单元，被布置为面向生物体的表面上与所述第一部分相邻的第二部分，并且接收通过所述激发光激发所述生物体的第一身体物质而生成并从所述第二部分发射的荧光。

公开(公告)号：CN106165411B

公开(公告)日：2018-02-23

申请号：CN201580019627.4

申请日：2015-03-23

申请人： 夏普株式会社 ,  独立行政法人产业技术综合研究所

发明人： 后藤利久 ,  吉田敏雄 ,  金泽好修 ,  中岛义满 ,  小林弘治 ,  深井利夫 ,  青木仁志 ,  永宗靖 ,  时崎高志 ,  太田敏隆

IPC分类号： H04N9/07 ,  G01J3/36 ,  G01J3/51 ,  G02B5/20 ,  G03B11/00 ,  H01L27/14 ,  H04N5/33 ,  H04N5/369

CPC分类号： H04N5/369 ,  G01J3/2803 ,  G01J3/2823 ,  G01J3/36 ,  G01J3/51 ,  G01J2003/1213 ,  G01J2003/2806 ,  G02B3/0006 ,  G02B5/20 ,  G02B5/201 ,  G02B5/208 ,  G03B11/00 ,  H01L27/14 ,  H01L27/14621 ,  H01L27/14652 ,  H04N5/33 ,  H04N9/07

摘要： 光检测装置具备：光学滤波器(2)，其使具有第1波长范围的波长的第1波长光、具有第2波长范围的波长的第2波长光、…以及具有第n波长范围的波长的第n波长光(n是整数)透过；光传感器(3)，其对第1波长光的第1波长光强度、第2波长光的第2波长光强度、…以及第n波长光的第n波长光强度的至少一个进行检测；和解析部(4)，其基于第1波长光强度、第2波长光强度、…以及第n波长光强度的至少一个，估计具有第1波长范围、第2波长范围、…以及第n波长范围的至少一个以外的波长范围的波长的光的光强度，具有所述至少一个的波长范围的波长的光的光强度与具有所述至少一个以外的波长范围的波长的光的光强度之间具有相关关系。

公开(公告)号：CN107615022A

公开(公告)日：2018-01-19

申请号：CN201680025828.X

申请日：2016-03-24

申请人： 犹他大学研究基金会

发明人： R·梅农 ,  P·王

IPC分类号： G01J3/02 ,  G01J3/24 ,  G01J3/28 ,  G01J3/51

CPC分类号： G01J3/2823 ,  G01J3/0208 ,  G01J3/18 ,  G01J3/36 ,  G01J3/513 ,  G01J2003/2826 ,  G01J2003/284 ,  H04N5/2254 ,  H04N9/045

摘要： 本发明公开了一种图像捕获设备(202)，该图像捕获设备可包括传感器阵列(210)、被定位在距中间图像(235)的第一距离处的透镜(230)、以及被定位在距透镜(230)的第二距离处的多色物质(220)。该多色物质(220)可根据变换函数(207)来衍射中间图像(235)，以将分散的传感器图像(215)产生到传感器阵列(210)上。该分散的传感器图像(215)可表示中间图像(235)的空间代码。

公开(公告)号：CN107110705A

公开(公告)日：2017-08-29

申请号：CN201580054563.1

申请日：2015-10-07

申请人： 德累斯顿工业技术大学

发明人： 迈克·朗纳 ,  哈特姆特·弗勒布 ,  瓦迪姆·G·利森科 ,  马尔卡斯·苏德丘斯 ,  卡尔·莱奥

IPC分类号： G01J3/02 ,  G01J3/26 ,  G01J3/36 ,  G02B5/28

CPC分类号： G01J3/26 ,  G01J3/0256 ,  G01J3/0289 ,  G01J3/28 ,  G01J3/2803 ,  G01J3/36 ,  G01J2003/1234 ,  G02B5/288

摘要： 本发明涉及用于将光谱信息转换为位置信息的装置(70)的光学过滤器元件(50)，该装置具有接入的用于检测信号的探测器(30)，该光学过滤器元件至少包括两个微谐振器(10、11)，其中，微谐振器(10；11)至少具有‑至少两个面叠置的反射层结构(4、6；8、9)，其至少由带有高折射率的材料层(2)和带有低折射率的材料层(3)以交替顺序构成，以及‑至少一个面叠置的谐振层(5；7)，其分别布置在两个面叠置的反射层结构(4、6；8、9)之间。在此，过滤器元件(50)包括至少一个透明的、平行平面式的基底(1)，其用于两个微谐振器(10、11)的光学解耦，其中，第一微谐振器(10；11)位于基底(1)的两个对置的表面(51；52)中的第一表面上，其中，在基底(1)上，第二微谐振器(11；10)位于基底(1)的与第一表面(51)对置的第二表面(54)上，并且其中，至少一个微谐振器(10；11)的谐振层(5；7)和/或分别包围谐振层(5；7)的反射层结构(4、6；8、9)沿过滤器元件(50)的水平轴线(25)具有可变的层厚。

公开(公告)号：CN107086222A

公开(公告)日：2017-08-22

申请号：CN201710076705.5

申请日：2017-02-13

申请人： 唯亚威解决方案股份有限公司

发明人： G.J.奥肯菲斯

IPC分类号： H01L27/144

CPC分类号： H01L27/14621 ,  G01J3/26 ,  G01J3/2803 ,  G01J3/36 ,  G01J2003/2826 ,  G02B5/201 ,  G02B5/26 ,  G02B5/285 ,  H01L31/02165 ,  H01L27/1443 ,  H01L27/1446

摘要： 一种装置可以包括设置在基板上的滤光器阵列。滤光器阵列可以包括设置在基板上的第一反射镜。滤光器阵列可以包括设置在第一反射镜上的多个间隔件。多个间隔件的第一间隔件可以与第一厚度相关。多个间隔件的第二间隔件可以与第二厚度相关，所述第二厚度与第一厚度不同，对应于第一间隔件的第一通道和对应于第二间隔件的第二通道与小于大约10微米(μm)的分离宽度相关。滤光器阵列可以包括设置在多个间隔件上的第二反射镜层。

公开(公告)号：CN107003232A

公开(公告)日：2017-08-01

申请号：CN201580064638.4

申请日：2015-12-10

申请人： 统雷有限公司

发明人： J·蒋 ,  M·斯科特 ,  E·若弗里翁 ,  A·凯布尔

IPC分类号： G01N21/17

CPC分类号： G01J3/36 ,  G01J3/433 ,  G01J3/4338 ,  G01N21/1702 ,  G01N21/39 ,  G01N2201/06113 ,  G01N2201/0691 ,  G01N2201/12

摘要： 公开了一种能够使用光谱法对样品中的材料浓度值进行高灵敏度测量的系统。该系统利用具有减少的总信道的传感器输出的原始信号进行高速数据采集和高分辨率采样，并使用傅里叶变换方法对信号进行频率分析，以并行处理所有传感器通道。当每个传感器以某些特定频率对某些材料进行检测时，系统能够以高测量灵敏度和高速度同时对样品中感兴趣的多种材料进行检测。

公开(公告)号：CN106568507A

公开(公告)日：2017-04-19

申请号：CN201610975142.9

申请日：2016-11-07

申请人： 西北核技术研究所

发明人： 陶波 ,  胡志云 ,  叶景峰 ,  张振荣 ,  王晟

IPC分类号： G01J3/36

CPC分类号： G01J3/36

摘要： 本发明提供一种基于特征吸收谱线测量F‑P腔自由光谱范围的方法，采用可调谐窄线宽二极管激光器波长扫描的方法同时测量F‑P腔透过率曲线和两条特征吸收谱线的吸收光谱，然后通过计数两条特征吸收谱线的谱线间隔内F‑P腔透过率曲线的干涉峰数量来实现F‑P腔自由光谱范围的测量。由于特征谱线的中心频率非常准确，达10‑6cm‑1，且不受测量环境及测量系统的影响，所以本发明创造有效的提高了F‑P腔自由光谱范围的测量精度，FSR的测量精度可优于10‑6cm‑1。此外，本发明创造的所有计算步骤均可通过计算机编程实现自动处理，易于操作。