公开(公告)号：CN109141227B

公开(公告)日：2020-12-15

申请号：CN201810630926.7

申请日：2018-06-19

Applicant: 株式会社三丰

Inventor： D.W.塞斯科

IPC: G01B11/00

Abstract: 提供了一种用于在坐标测量机中使用的在3个轴线中响应的扫描探针。扫描探针包括框架、触针悬挂部分和触针位置检测部分。触针位置检测部分包括光源和位置指示元件，该位置指示元件相对于触针联接部分固定并且包括具有发射体材料(例如，磷光体)的至少一个发射器部分，所述发射体材料输入和吸收来自光源的光并且通过输出激发光来响应。在各种实施例中，激发光作为测量光沿着测量光斑路径(例如，包括远心成像配置)被引导，以在位置敏感检测器(例如，象限型光电检测器)上的光斑位置处形成测量光斑，对此，光斑位置响应于位置指示元件和触针联接部分的位置的对应改变而改变。

公开(公告)号：CN112013887A

公开(公告)日：2020-12-01

申请号：CN202010472441.7

申请日：2020-05-29

Applicant: 株式会社三丰

Inventor： 木村彰秀

IPC: G01D5/347 ,  G01D18/00 ,  G01B11/00

Abstract: 本发明提供了一种光学编码器，其包括标尺、相对于标尺移动的头部、以及基于相对移动来进行计算的计算单元。头部包括光源和具有光接收面的接收单元。标尺包括标尺面上的台阶部。台阶部在光接收面上产生具有对比度图案的干涉光，并在对比度图案中产生具有最高对比度的最暗部。光源在相对于与标尺面垂直的方向倾斜的方向上用光照射台阶部。计算单元包括原点计算单元，该原点计算单元从对比度图案中识别最暗部、并计算所识别出的最暗部作为原点位置，该原点位置是标尺和头部之间的相对移动的基准。

公开(公告)号：CN109612360B

公开(公告)日：2020-11-10

申请号：CN201811441386.4

申请日：2015-08-24

Applicant: 株式会社三丰

Inventor： 斋藤修

IPC: G01B3/20

Abstract: 本发明公开了一种测量仪器。游标卡尺(1)是一种测量仪器，其设置有主标尺(11)以及可沿着主标尺(11)的纵向方向滑动设置的滑块(12)。滑块(12)设置有操作部(15)，用于使用者把他/她的手指放在其上以便操作滑块。操作部(15)设置有触觉通知装置(20)，该触觉通知装置通过与手指的操作相关联的移动产生相对于手指的阻力并且通过在预定移动位置使所述阻力发生变化而经由手指的触觉感通知已经达到了预定测量压力。

公开(公告)号：CN107202547B

公开(公告)日：2020-11-06

申请号：CN201710157687.3

申请日：2017-03-16

Applicant: 株式会社三丰

Inventor： 古贺哲哉 ,  小岛司

IPC: G01B11/24

Abstract: 本发明涉及一种表面性状测量设备的部件程序生成装置。部件程序生成装置包括：CAD数据存储器，其存储工件的CAD数据；测量条件设定器，其接收用户进行的输入操作并设定测量过程；以及部件程序生成器，其将测量条件设定器设定的测量过程转换成部件程序语言。测量条件设定器为用户提供能够以编辑语言编辑测量过程的窗口以及设置用于设定测量过程的命令作为图标的命令图标作为图形用户界面。该命令图标包括用于在使传感器从起始点向目标点移位的情况下指示越过障碍的绕行移动命令图标。

公开(公告)号：CN107121058B

公开(公告)日：2020-09-15

申请号：CN201710088418.6

申请日：2017-02-17

Applicant: 株式会社三丰

Inventor： 酒井裕志 ,  渡边裕 ,  高滨康弘 ,  伊藤明正 ,  工藤雄治

IPC: G01B9/02 ,  G01B11/24

Abstract: 本发明公开了对有弯曲形状的目标物体测量距测量头的距离而测量所述目标物体的表面的方法，特征在于包括以下步骤：设定目标物体的测量范围和凹凸的阈值的步骤；获取包含目标物体的弯曲形状的形状基准数据的步骤；测量在测量范围中的目标物体和测量头之间的距离，获取目标物体的表面的三维数据的步骤；从三维数据除去形状基准数据来获取弯曲除去数据的步骤；基于弯曲除去数据求第1基准数据，求将对于第1基准数据超过阈值的数据从弯曲除去数据除外进行平均的第2基准数据的步骤；以及提取对于第2基准数据超过阈值的数据，求凹凸的形状数据的步骤。

公开(公告)号：CN106525623B

公开(公告)日：2020-08-18

申请号：CN201610808419.9

申请日：2016-09-07

Applicant: 株式会社三丰

Inventor： 泽健司 ,  舆水文比古

IPC: G01N3/42 ,  G01N3/02

Abstract: 一种硬度测试机，用于通过采用压头来加载预定测试力而在样品的表面上形成压痕，并且通过使用所述压痕来测量样品的硬度。所述硬度测试机包括：光源，其在样品的表面上发射光，并且形成具有斑点的照明图案；以及控制器，其在当由所述光源形成在样品的表面上的照明图案的斑点的位置被用作测试点时所述压头的顶点的垂线重叠所述测试点的状态下，通过使所述压头与样品接触来形成所述压痕。

公开(公告)号：CN111380470A

公开(公告)日：2020-07-07

申请号：CN201911256393.1

申请日：2019-12-10

Applicant: 株式会社三丰

Inventor： J.D.托比亚森

IPC: G01B11/06

Abstract: 一种利用机器视觉检查系统来测量工件表面的Z高度值的方法，包括：利用结构化光照射工件表面，收集工件的图像的至少两个堆栈，每个堆栈包括在每个堆栈中对应的Z高度处的、结构化光和工件表面之间的不同X-Y位置，以及基于与在X-Y平面中的相同工件位置相对应且处于相同Z高度的像素的强度值的集合来确定Z值。在图像的每个堆栈中，以比Z高度慢的速率改变X-Y位置，并且X-Y位置或者在至少两个堆栈中的每个堆栈期间以比Z移位慢的速率连续改变，或者在至少两个堆栈中的每个堆栈期间固定为不同的值。

公开(公告)号：CN111380466A

公开(公告)日：2020-07-07

申请号：CN201911373287.1

申请日：2019-12-27

Applicant: 株式会社三丰

Inventor： 吉田悟 ,  长滨龙也 ,  矶部仁志 ,  山中雅史 ,  老田直人 ,  久保光司 ,  宍户裕子 ,  大庭信男 ,  大竹贵久 ,  松井大树 ,  新井雅典 ,  伊贺崎史朗 ,  仓桥佑旗 ,  酒井裕志 ,  渡边裕

IPC: G01B11/02 ,  G01B11/24 ,  H04N5/225

Abstract: 一种图像测定装置(1)兼做非接触形状测定装置使用。作为拍摄装置，具有：图像传感器(14)；可变焦距透镜(液体透镜单元(13))，其配置于从工件(9)到图像传感器(14)的光轴(Ai)上；控制装置(拍摄用透镜控制部(30)、图像测定处理部(51))，其控制可变焦距透镜，并且处理图像传感器(14)的检测图像。并且，作为非接触位移检测装置，具有：图像传感器(24)；可变焦距透镜(液体透镜单元(23))，其配置于从工件(9)到图像传感器(24)的光轴(Ad)上；控制装置(位移检测用透镜控制部(40)、形状测定处理部(53))，其控制可变焦距透镜，并且处理图像传感器(24)的检测图像。

公开(公告)号：CN111336961A

公开(公告)日：2020-06-26

申请号：CN201911306840.X

申请日：2019-12-18

Applicant: 株式会社三丰

Inventor： 安西博忠

IPC: G01B21/00

Abstract: 一种测量装置，包括：第一端支撑件；第二端支撑件；探针，其测量由第一端支撑件和第二端支撑件支撑的柱状工件；以及控制部，其在旋转台旋转时获得第一端支撑件的中心和旋转轨迹以及第二端支撑件的中心，并且在通过探针进行柱状工件的测量时基于旋转台的旋转位置来改变工件坐标轴的定向，工件坐标轴包括穿过第一端支撑件的中心和第二端支撑件的中心的轴线。

公开(公告)号：CN108692687B

公开(公告)日：2020-06-16

申请号：CN201810294304.1

申请日：2018-03-30

Applicant: 株式会社三丰

Inventor： J.D.托比亚松

IPC: G01B21/04 ,  G01B5/016

Abstract: 提供了一种紧凑型便携式坐标测量机(CMM)，其具有用于测量工件的大的工作容积。CMM包括竖直支撑件、工件台和提供测量探针和工件之间的相对运动的移动构造。移动构造包括具有竖直平移元件的竖直平移机构，竖直平移元件联接到竖直引导件并且在竖直平移范围上移动。工件台位于竖直支撑件的顶端上方，并且竖直引导件和竖直移动范围的至少大部分位于工件台的顶端下方。在各种实施方式中，移动构造还可以包括旋转运动构造和水平平移机构。控制器控制移动构造，以提供测量探针与位于工件台上的工作容积中的工件之间的相对运动。