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公开(公告)号：CN103776415B
公开(公告)日：2017-10-24
申请号：CN201310485327.8
申请日：2013-10-16
申请人： 株式会社三丰
摘要： 本发明涉及表面粗糙度测量单元和坐标测量设备。根据本发明的表面粗糙度测量单元包括：接触销单元，其具有接触销和变位检测器，接触销被设置成通过滑块的通孔突出和缩回并且沿着工件表面扫描和移动，变位检测器检测接触销在与工件表面垂直的方向上的变位；驱动部，其沿着工件表面前后移动接触销单元；以及接合部，其将接触销单元和驱动部连结到坐标测量系统的测量头保持件。表面粗糙度测量单元还包括检测滑块与工件表面的接触的接触检测器。
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公开(公告)号：CN1028901C
公开(公告)日：1995-06-14
申请号：CN92112843.6
申请日：1992-09-29
申请人： 株式会社三丰
IPC分类号： G01B5/03
摘要： 一种结构简单、可在用户方组装的简易型三坐标测量机和该三坐标测量机的运输用贮存箱。根据需要使用可以分解和组装的一对立柱3和X轴构件5，以及可通过第一角度调整装置20分解和组装的X滑块6和Y滑块7。Y轴构件8和具有Z轴构件11的Z滑块9在通过第二角度调整装置相连结。运输用的贮存箱包括贮存立柱3和高度调整台座2的贮存箱、贮存X轴构件5和X滑块6的贮存箱、使有Y滑块7的Y轴构件8和具有Z轴构件11的Z滑块9通过第二角度调整装置30连结的状态下和Y Z轴覆盖体17一起贮存的贮存箱以及外装箱。
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公开(公告)号：CN103776415A
公开(公告)日：2014-05-07
申请号：CN201310485327.8
申请日：2013-10-16
申请人： 株式会社三丰
摘要： 本发明涉及表面粗糙度测量单元和坐标测量设备。根据本发明的表面粗糙度测量单元包括：接触销单元，其具有接触销和变位检测器，接触销被设置成通过滑块的通孔突出和缩回并且沿着工件表面扫描和移动，变位检测器检测接触销在与工件表面垂直的方向上的变位；驱动部，其沿着工件表面前后移动接触销单元；以及接合部，其将接触销单元和驱动部连结到坐标测量系统的测量头保持件。表面粗糙度测量单元还包括检测滑块与工件表面的接触的接触检测器。
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公开(公告)号：CN101451825A
公开(公告)日：2009-06-10
申请号：CN200810178852.4
申请日：2008-12-04
申请人： 株式会社三丰
发明人： 新井雅典
CPC分类号： G01B11/03 , G01B11/30 , G01B21/042
摘要： 本发明涉及一种图像测量装置的校正方法，该图像测量装置具备：具有物镜(31)的CCD摄像机(3)、变更拍摄方向的姿势变更装置(45)、使CCD摄像机(3)和工件相对移动且具有物镜(31)自动对焦功能的移动机构(4)、CCD摄像机(3)的位置检测机构(5)。校正方法具备：准备基准器(10)的准备工序(S1)，该基准器具有形成为物镜(31)的焦深(DF)以下的半径尺寸的球部(13)且以该球部表面作为基准面(14)；变更拍摄方向的姿势变更工序(S2)；利用移动机构(4)的对焦功能、使物镜(31)的焦点与基准面(14)对准的焦点调节工序(S3)；由位置检测装置(5)检测摄像装置(3)的位置信息的位置检测工序(S4)，校正CCD摄像机(3)的位置。
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公开(公告)号：CN111380466B
公开(公告)日：2024-06-14
申请号：CN201911373287.1
申请日：2019-12-27
申请人： 株式会社三丰
发明人： 吉田悟 , 长滨龙也 , 矶部仁志 , 山中雅史 , 老田直人 , 久保光司 , 宍户裕子 , 大庭信男 , 大竹贵久 , 松井大树 , 新井雅典 , 伊贺崎史朗 , 仓桥佑旗 , 酒井裕志 , 渡边裕
摘要： 一种图像测定装置(1)兼做非接触形状测定装置使用。作为拍摄装置，具有：图像传感器(14)；可变焦距透镜(液体透镜单元(13))，其配置于从工件(9)到图像传感器(14)的光轴(Ai)上；控制装置(拍摄用透镜控制部(30)、图像测定处理部(51))，其控制可变焦距透镜，并且处理图像传感器(14)的检测图像。并且，作为非接触位移检测装置，具有：图像传感器(24)；可变焦距透镜(液体透镜单元(23))，其配置于从工件(9)到图像传感器(24)的光轴(Ad)上；控制装置(位移检测用透镜控制部(40)、形状测定处理部(53))，其控制可变焦距透镜，并且处理图像传感器(24)的检测图像。
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公开(公告)号：CN111380466A
公开(公告)日：2020-07-07
申请号：CN201911373287.1
申请日：2019-12-27
申请人： 株式会社三丰
发明人： 吉田悟 , 长滨龙也 , 矶部仁志 , 山中雅史 , 老田直人 , 久保光司 , 宍户裕子 , 大庭信男 , 大竹贵久 , 松井大树 , 新井雅典 , 伊贺崎史朗 , 仓桥佑旗 , 酒井裕志 , 渡边裕
摘要： 一种图像测定装置(1)兼做非接触形状测定装置使用。作为拍摄装置，具有：图像传感器(14)；可变焦距透镜(液体透镜单元(13))，其配置于从工件(9)到图像传感器(14)的光轴(Ai)上；控制装置(拍摄用透镜控制部(30)、图像测定处理部(51))，其控制可变焦距透镜，并且处理图像传感器(14)的检测图像。并且，作为非接触位移检测装置，具有：图像传感器(24)；可变焦距透镜(液体透镜单元(23))，其配置于从工件(9)到图像传感器(24)的光轴(Ad)上；控制装置(位移检测用透镜控制部(40)、形状测定处理部(53))，其控制可变焦距透镜，并且处理图像传感器(24)的检测图像。
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公开(公告)号：CN102564368B
公开(公告)日：2014-07-30
申请号：CN201110294229.7
申请日：2011-09-26
申请人： 株式会社三丰
摘要： 本发明提供坐标测量用测头单元及坐标测量机。坐标测量用测头单元(10)小型、廉价，能够进行高速的高精度测量，机床中的机上测量、输送线等中的现场(观察)测量容易，坐标测量用测头单元(10)具有：驱动部件(X轴驱动部14、Y轴驱动部16、Z轴驱动部18)，用于通过计算机数值控制使探头(12)沿相互正交的多个驱动轴线移动，使探头与测量对象(8)抵接来测量测量对象(8)的尺寸；一体化而成的壳体(13)，用于容纳该驱动部件(14、16、18)；安装部件(安装面20)，设置在该壳体(13)的任一侧面上，用于将上述驱动部件(14、16、18)的任一个安装在支承体(固定在基座30上的支架32上的支承件34)上。
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公开(公告)号：CN107121086A
公开(公告)日：2017-09-01
申请号：CN201710102550.8
申请日：2017-02-24
申请人： 株式会社三丰
IPC分类号： G01B11/24
CPC分类号： G01B11/30 , G01B5/003 , G01B5/012 , G01B5/061 , G01B5/12 , G01B9/02 , G01B9/02041 , G01B11/0608 , G01B11/12 , G01B11/2441 , G01B11/303 , G01B11/24
摘要： 本发明提供一种表面构造测量装置，该表面构造测量装置包括：使具有内壁的可测物体沿XY平面位移的X轴位移机构和Y轴位移机构；以非接触方式测量内壁的表面构造的测量传感器；使测量传感器沿与XY平面正交的Z轴方向位移并使测量传感器面向内壁的Z轴位移机构；使面向内壁的测量传感器沿内壁的法向位移的W轴位移机构；以及使面向内壁的测量传感器沿内壁位移的θ轴位移机构。
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公开(公告)号：CN102564368A
公开(公告)日：2012-07-11
申请号：CN201110294229.7
申请日：2011-09-26
申请人： 株式会社三丰
摘要： 本发明提供坐标测量用测头单元及坐标测量机。坐标测量用测头单元(10)小型、廉价，能够进行高速的高精度测量，机床中的机上测量、输送线等中的现场(观察)测量容易，坐标测量用测头单元(10)具有：驱动部件(X轴驱动部14、Y轴驱动部16、Z轴驱动部18)，用于通过计算机数值控制使探头(12)沿相互正交的多个驱动轴线移动，使探头与测量对象(8)抵接来测量测量对象(8)的尺寸；一体化而成的壳体(13)，用于容纳该驱动部件(14、16、18)；安装部件(安装面20)，设置在该壳体(13)的任一侧面上，用于将上述驱动部件(14、16、18)的任一个安装在支承体(固定在基座30上的支架32上的支承件34)上。
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公开(公告)号：CN1165747C
公开(公告)日：2004-09-08
申请号：CN01121268.3
申请日：2001-05-15
申请人： 株式会社三丰
IPC分类号： G01D5/12
摘要： 触针(20)直接固定在检测器(32)上，检测器(32)直接固定在支座(10)上。由此，以这样的状态构成了振动型接触检测传感器：其中支座(10)与触针(20)设置在相互间不会接触的位置，触针(20)与检测器(32)设置在相互接触的位置。由此，避免了由支座(10)引起触针(20)的振动和状态变化的衰减，触针(20)的振动和状态变化直接传播到检测器(32)，这样检测器(32)就能高灵敏度地检测到触针(20)的振动和状态变化，和高灵敏度地检测到触针与工件的接触。
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