-
公开(公告)号：CN116401878A
公开(公告)日：2023-07-07
申请号：CN202310386705.0
申请日：2023-04-12
Applicant: 哈尔滨工业大学
IPC: G06F30/20 , G06T7/00 , C23C24/10 , G06F119/08
Abstract: 本发明提供一种铝合金表面激光熔覆工艺参数的优化方法，涉及激光增材修复技术领域，为解决现有技术针对铝合金表面激光熔覆工艺参数优化的研究不足，得到的熔覆层孔隙率高的问题。本发明首先建立单道熔覆层激光熔覆过程仿真模型，采用稀释率作为单道熔覆层成形效果的评价指标，确定各工艺参数的初始范围；然后，开展单道熔覆层单因素实验，分析单道熔覆层的成型规律，确定多道多层熔覆层工艺参数范围；最后，以工艺参数为待优化参数，熔覆层孔隙率降低为目标开展多道多层熔覆正交实验，确定最低孔隙率的工艺参数组合。本发明方法得到的最优工艺参数组合，在铝合金基材上成功制备出形貌良好、与铝合金基材冶金结合并且具有极低孔隙率的熔覆层。
-
公开(公告)号：CN116213762A
公开(公告)日：2023-06-06
申请号：CN202310253702.X
申请日：2023-03-16
Applicant: 哈尔滨工业大学
Abstract: 本发明提供一种激光金属增材制造熔融沉积层的微观组织形貌预测方法，属于属于激光金属增材制造领域，为解决现有方法对于增材制造过程中的数值模拟主要集中在分析熔池附近温度场、应力场和熔体流场，以分析熔池凝固过程和缺陷产生原因，缺少针对增材制造熔融沉积层微观组织形貌和尺寸预测的数值模拟方法。本发明通过构建激光金属增材制造熔融沉积层的几何模型，构建数值模型包括激光热源模型、熔池表面动态追踪模型、相变传热模型与液态金属流动模型，对熔融沉积层熔池瞬态温度场分布截面进行求解，进一步计算形态参数与冷却速率，以预测熔融沉积层微观组织形貌与尺寸。本发明可快速预测不同工艺参数下的熔融沉积层微观组织形貌与尺寸分布。
-
公开(公告)号：CN114012512B
公开(公告)日：2022-08-16
申请号：CN202111273827.6
申请日：2021-10-29
Applicant: 哈尔滨工业大学
IPC: B24B1/00 , B24B29/02 , B24B29/08 , B24B55/00 , B24B41/00 , B24B57/02 , B24B57/00 , B24B41/04 , F24H7/02 , F24H9/20 , F24H15/421
Abstract: 一种基于激光加热、水浴加热、化学作用共同辅助的小球头磁流变抛光方法，涉及磁流变抛光方法的技术领域，解决了小球头磁流变抛光的去除效率较低，导致抛光加工产量少、成本高的问题，磁流变液是一种非牛顿流体，其温度越高，粘度越低，流动时自身的阻力越小，因此产生了通过水浴加热和激光辐照共同提高抛光区域的磁流变液温度，从而降低粘度、改善抛光区域中的磁流变液流动性的加工方法；同时，针对熔石英材料的零件，可以使用化学作用辅助磁流变抛光，通过化学作用去除抛光区域的零件材料，能够进一步提高抛光效率。
-
公开(公告)号：CN114235822A
公开(公告)日：2022-03-25
申请号：CN202111621696.6
申请日：2021-12-28
Applicant: 哈尔滨工业大学
Abstract: 一种紫外光学元件加工表面微区电子缺陷能级确定方法，属于工程光学领域，本发明为解决现有技术中缺乏一种简单、可靠的微区电子缺陷能级确定方法的问题，本发明方法具体按如下步骤进行：步骤一、获取紫外光学元件表面微区微缺陷在不同激发光波长下的稳态荧光光谱，选取荧光强度最高的峰值位置，确定其所处的能级为第一电子缺陷能级；步骤二、根据稳态荧光光谱荧光峰值强度的高低进行排序，强度排第N的荧光峰值则对应第N电子缺陷能级；步骤三、确定导带的荧光峰波段出现荧光信号时的激发光波长，根据该波长对应的单光子能量确定导带的位置；步骤四、紫外光学元件加工表面微区电子缺陷能级电子衰减寿命的确定。
-
公开(公告)号：CN114120318A
公开(公告)日：2022-03-01
申请号：CN202111428201.8
申请日：2021-11-29
Applicant: 哈尔滨工业大学
IPC: G06V20/69 , G06V10/26 , G06V10/44 , G06V10/762 , G06V10/764 , G06V10/70 , G06K9/62 , G06N20/20
Abstract: 一种基于集成决策树的暗场图像目标点精确提取方法，涉及图像处理技术领域，用以解决现有技术中对于大口径光学元件表面缺陷不能有效提取的问题。本发明的技术要点包括：在暗场环境下对元件表面进行全方位扫描采集，获取元件表面暗场图像；对暗场图像进行预处理和分割，获得多个缺陷区域的图像坐标；根据图像坐标提取缺陷区域特征，利用预训练的集成决策树分类模型对元件表面缺陷区域进行识别，剔除后表面伪缺陷区域，获得前表面缺陷区域图像集；对前表面缺陷区域图像集进行聚类处理，根据聚类结果计算获得多个缺陷区域的位置和尺寸。本发明提高了大口径元件表面缺陷的检测效率和准确率，提高了缺陷区域位置和尺寸的测量精度。
-
Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN114119557A
公开(公告)日：2022-03-01
申请号：CN202111429842.5
申请日：2021-11-29
Applicant: 哈尔滨工业大学
IPC: G06T7/00 , G06T7/11 , G06T7/60 , G06T7/73 , G06V10/764 , G06V10/82 , G06N3/04 , G06N3/08 , G06K9/62
Abstract: 一种基于卷积神经网络的光学元件快速暗场检测方法，涉及光学元件检测技术领域，用以解决现有技术中对于大口径元件表面缺陷识别的准确率和效率较低的问题。本发明的技术要点包括：在暗场环境下对元件表面进行扫描采集，并调整曝光值，获得对应不同曝光值的暗场图像集；将预处理后的暗场图像集输入基于卷积神经网络的识别模型中进行训练；将待识别图像输入训练好的识别模型中，获得识别结果；其中，应用高曝光值数据进行目标分割及图像截取，应用低曝光值数据进行识别分类，模型训练阶段引入迁移学习，降低了模型训练次数，提高了模型识别准确率。本发明通过暗场阶段对缺陷区域进行识别，剔除了大量污染物，使光学元件的整个检测周期大大降低。
-
公开(公告)号：CN114113112A
公开(公告)日：2022-03-01
申请号：CN202111428145.8
申请日：2021-11-29
Applicant: 哈尔滨工业大学
Abstract: 一种基于三光源显微系统的表面微缺陷定位与识别方法，涉及工程光学技术领域，用以解决现有技术对于大口径光学元件表面微缺陷不能准确识别和定位不精确的问题。本发明的技术要点包括：获取元件表面多个缺陷区域的初始位置；对于每个缺陷区域，利用吹尘前后的图像初步排除伪缺陷；对于保留的每个缺陷区域，利用预训练的缺陷预测模型进行预测，二次排除伪缺陷；对于经过二次排除后保留的每个缺陷区域，采用改变物距的自动聚焦方法和基于图像处理的缺陷目标提取方法对缺陷区域的初始位置进行修正，获取多个缺陷区域的精确位置。本发明排除了伪缺陷的干扰，并进一步提升了元件表面缺陷的定位精度，可为后续缺陷修复提供可靠数据支撑。
-
公开(公告)号：CN114111578A
公开(公告)日：2022-03-01
申请号：CN202111429789.9
申请日：2021-11-29
Applicant: 哈尔滨工业大学
IPC: G01B11/00
Abstract: 一种大口径元件的位姿自动确定方法，涉及工程光学技术领域，用以解决由于机床上元件夹具的定位精度有限导致元件位姿不确定的问题。本发明的技术要点包括：对机床上当前位姿的元件采集多个图像，并对多个图像进行处理，获得元件上任意点相对于机床坐标系下其标定位姿的平移误差和偏转误差，其中，平移误差包括X、Y、Z轴平移误差，偏转误差包括X、Y轴偏转误差；根据平移误差和偏转误差计算获得元件的标定位姿。本发明解决了由于夹具定位精度有限造成的元件位姿不确定的问题，获取了元件上的点移动到机床上任意工位的标定坐标，为后续缺陷点的定位和修复提供了准确的位置参考。
-
公开(公告)号：CN113927386A
公开(公告)日：2022-01-14
申请号：CN202111273826.1
申请日：2021-10-29
Applicant: 哈尔滨工业大学
Abstract: 本发明公开了一种基于试切法的球头砂轮磨抛轨迹设计方法，涉及磨抛轨迹设计的技术领域，解决了由圆柱体和球体或球壳组成的小型回转体零件磨抛加工过程中，球头砂轮加工轨迹不准确的问题，本发明通过试切法确定零件的各个特征结构表面与球头砂轮接触时球头砂轮的球心位置，通过连接每个球心位置，得到球头砂轮磨抛加工轨迹，可以获得球头砂轮加工过程中高精度的加工轨迹曲线，利用试切法，以表面相接触为砂轮到达合适位置的判断条件，可精确获取砂轮球心坐标位置，消除千分尺测量零件尺寸的误差，有利于提高零件形状精度，利用球头砂轮球心加工轨迹进行加工程序编写，无需精准测量砂轮的具体尺寸，减少了超精密加工过程中的误差。
-
公开(公告)号：CN110000606B
公开(公告)日：2021-04-20
申请号：CN201910314542.9
申请日：2019-04-18
Applicant: 哈尔滨工业大学
Abstract: 一种针对加工太赫兹慢波结构件的对刀方法，它涉及一种对刀方法。本发明解决了传统的机械式对刀方法对刀存在装夹误差，每次样件的加工都需要进行一次对刀，加工效率低的问题。步骤一、坐标系的建立与标定：步骤二、绝对运动、相对运动结合的精准对刀：在完成坐标系的建立以及相机及夹具体、工件的位置参数的初始值标定后，并将两个相机上获得图像的水平和竖直方向的像素进行标定；根据数控系统中设置的走刀速度、加速度参量，结合多次走刀实验中经过标定像素点的时间特性曲线，获得对刀过程中同时对其运动状态进行预判；采用软件补偿或减小放大实现精准对刀；步骤三、误差标定与补偿。本发明用于加工太赫兹慢波结构件装置的对刀。
-
-
-
-
-
-
-
-
-
Search Results
198
records
(took 0.028 seconds)
