用于清除复合支柱绝缘子表面污秽的胶带结构

    公开(公告)号:CN214088368U

    公开(公告)日:2021-08-31

    申请号:CN202022281562.1

    申请日:2020-10-14

    Abstract: 本实用新型提出了一种用于清除复合支柱绝缘子表面污秽的胶带结构,包括:背材、去污层和隔离层,所述背材与所述去污层的其中一侧面连接在一起,所述隔离层与所述去污层的另一侧面粘合在一起;所述去污层用于与复合支柱绝缘子表面接触,以对所述复合支柱绝缘子表面的污秽进行清除,所述隔离层用于保护所述去污层。本实用新型通过设置背材支撑去污层,通过隔离层保护去污层不被污染,在使用时,通过将去污层粘贴至复合支柱绝缘子表面的污秽处对污秽进行清除,去污层的与污秽的结合力大于污秽与复合支柱绝缘子表面的硅橡胶材料的结合力,在去污层剥离时,可以将复合支柱绝缘子表面的污秽带下来,从而能够有效地对复合支柱绝缘子表面污秽进行清除。

    复合绝缘表面粉化的检测装置

    公开(公告)号:CN213875374U

    公开(公告)日:2021-08-03

    申请号:CN202022038590.0

    申请日:2020-09-16

    Abstract: 本实用新型提供了一种复合绝缘复合绝缘表面粉化的检测装置,该装置包括:夹持装置和加热装置;夹持装置用于将测试片与待测试体夹持在一起;加热装置设置于夹持装置,用于将测试片加热至预设温度并保持预设时间以使测试片呈熔融状态;测试片用于在呈熔融状态进行冷却固化并与待测试体相分离,通过检测是否有粉化层,以检测待测试体是否粉化。本实用新型中,夹持装置使得测试片与待测试体紧密接触,加热装置将测试片加热至呈熔融状态,在测试片与待测试体分离后观察测试片表面是否有粉化层,来确定待测试体是否粉化,能准确地判断待测试体是否粉化,提高了检测的准确度,避免了检测偏差,还能提高检测速率便于携带和现场作业。

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