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公开(公告)号：CN109211046A
公开(公告)日：2019-01-15
申请号：CN201810557637.9
申请日：2018-06-01
Applicant: 株式会社三丰
IPC: G01B3/04
Abstract: 本发明公开了线性标尺。测量装置(1)包括：附接孔(60)，其相对于测量方向设置在标尺框架(4)的一端侧和另一端侧这二者上；背面衬套(10)，其从标尺框架(4)的背面侧(4B)插入到附接孔(60)中；及紧固件(8)，其将标尺框架(4)固定到第一测量对象部件(W1)。每个背面衬套(10)包括：筒部(11)，其形成为相对于贯通方向比附接孔(60)的长度更短，并且形成为具有比附接孔(60)的内径更小的外径；凸缘(12)，其形成在位于朝向第一测量对象部件(W1)的筒部(11)的端部，并且具有比附接孔(60)的内径更大的外径；和弹性构件(13)，其是筒状的并且设置为覆盖筒部(11)的外周面。每个紧固件(8)包括：轴部(81)，其插入到筒部(11)中；和头部(82)，其具有比附接孔(60)的内径更大的外径。
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公开(公告)号：CN105606135B
公开(公告)日：2018-12-11
申请号：CN201510736912.X
申请日：2015-11-03
Applicant: 株式会社三丰
IPC: G01D5/26
CPC classification number: G01D5/34715 , G01D5/38
Abstract: 公开了一种光编码器的照射部分。所述光编码器包括照射部分、沿测量轴方向延伸以及被配置为从照射部分接收光的刻度光栅、以及被配置为从刻度光栅接收光的检测器配置。所述照射部分包含可寻址光源阵列。可寻址光源阵列包含沿测量轴方向设置的各个源。可寻址光源阵列配置为至少提供各个源的第一和第二可寻址集合。
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公开(公告)号：CN108871186A
公开(公告)日：2018-11-23
申请号：CN201810446746.3
申请日：2018-05-11
Applicant: 株式会社三丰
Abstract: 提供一种三维测量机以及三维测量方法。三维测量机(1)具有：载置部(5)，其用于载置工件(W)；拱状的框架(7)，其跨越载置部(5)；滑块(8)，其能够沿着框架(7)移动；以及探头(9)，其被滑块(8)支承且朝向载置部(5)。载置部(5)和框架(7)能够通过转子(3)来相对地旋转，载置部(5)能够通过XY移动机构(6)向沿着载置部(5)的表面的方向移动。
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公开(公告)号：CN108827807A
公开(公告)日：2018-11-16
申请号：CN201810399114.6
申请日：2018-04-28
Applicant: 株式会社三丰
IPC: G01N3/44
CPC classification number: G01N3/42 , G01N2203/0204 , G01N2203/0206 , G01N3/44 , G01N2203/0019 , G01N2203/0082 , G01N2203/0208 , G01N2203/0682
Abstract: 本发明涉及一种硬度测试仪和非暂时性计算机可读介质。所述硬度测试仪包括：压头；臂和驱动部，用于将测试力加载到所述压头上，并且将所述压头压抵试样；弹簧位移量传感器，用于检测加载到所述压头上的测试力的值；以及控制器。在利用所述驱动部将预定测试力(全测试力)加载到所述压头上的状态下，在弹簧位移量传感器所检测到的测试力的值超过相对于所述预定测试力所预定义的容许余量的情况下，所述控制器执行预定处理，所述预定处理包括中断处理和通知处理，所述中断处理用于中断当前正在执行的测试，以及通知处理用于向用户通知在测试的执行期间测试力的值超过了所述容许余量。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN108731715A
公开(公告)日：2018-11-02
申请号：CN201810299150.5
申请日：2018-04-04
Applicant: 株式会社三丰
Inventor： 木村彰秀
IPC: G01D5/38
Abstract: 本发明公开了一种光学编码器。其能够在抑制光学编码器的尺寸增加的同时抑制采用噪声衍射光照射光接收单元的情况。技术方案手段：光学编码器(1)包括：具有衍射光栅(S)的标尺(2)；配置成接收来自光源(4)的光的光接收单元(6)；以及位于标尺(2)和光接收单元(6)之间的光学元件(5)。光学元件(5)包括多个凹槽部分(8)，其是在光学元件(5)的一个面中周期性地形成的周期性结构部分。多个凹槽部分(8)配置成将信号衍射光(10)和噪声衍射光(20)分成以预定行进角行进的第一分割光束(11、21)和以比第一分割光束(11、21)的行进角更大的行进角行进的第二分割光束(12、22)，并且使噪声衍射光(20)的第一分割光束(21)的衍射效率低于信号衍射光(10)的第一分割光束(12)的衍射效率。
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公开(公告)号：CN108692659A
公开(公告)日：2018-10-23
申请号：CN201810271606.7
申请日：2018-03-29
Applicant: 株式会社三丰
Inventor： D.W.塞斯科
IPC: G01B11/00
Abstract: 一种位置感测装置，其包括框架、引导支承件、运动元件、位置敏感检测器、光源和位置指示发射器。运动元件被引导支承件沿测量轴线方向在测量范围内引导。光源被配置为发出源光。位置指示发射器与运动元件一起移动。位置指示发射器包括发射器材料，该发射器材料吸收源光并从发射器材料输出激发光，以便在位置敏感检测器上形成测量光点。测量光点沿着位置敏感检测器的感测轴线方向与运动元件沿着测量轴线方向的位置相对应地移动。位置敏感检测器响应于测量光点输出至少一个信号，该至少一个信号指示运动元件沿着测量轴线方向的位置。
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公开(公告)号：CN108627078A
公开(公告)日：2018-10-09
申请号：CN201810189412.2
申请日：2018-03-07
Applicant: 株式会社三丰
Inventor： 久保园纮士
IPC: G01B7/02
CPC classification number: G01D5/2053 , G01B7/003 , G01D5/206 , G01B7/02
Abstract: 提供了一种电磁感应式位移检测设备，在电磁感应式位移检测设备中，可以抑制接收装置所接收到的磁通量的变化的影响。一种电磁感应式位移检测设备包括：包括标尺线圈的标尺；以及相对于标尺相对地移动的头部。头部包括：在标尺线圈中产生磁通量的发送装置；以及包括第一接收单元和第二接收单元的接收装置，第一接收单元和第二接收单元各自接收磁通量的变化，并且在接收装置中，第一接收单元和第二接收单元布置为沿着测量方向彼此偏移。接收装置包括：一个端部部分和另一端部部分，在一个端部部分和另一端部部分中，使多个接收线圈的密度稀疏；以及设置在一个端部部分与另一端部部分之间的中心部分，并且在中心部分中，使多个接收线圈的密度密集。
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公开(公告)号：CN105264474B
公开(公告)日：2018-10-09
申请号：CN201480027099.2
申请日：2014-05-13
Applicant: 株式会社三丰
IPC: G06F8/34 , G06F3/0482 , G06F8/33
Abstract: 提供了用于在机器视觉检查系统中编辑部件程序时复制和粘贴一组机器视觉部件程序操作的方法。该方法包括：a)在所显示的部件程序表示中的复制位置选择至少第一指令表示；b)通过执行针对专用于复制位置的第一操作上下文的元素的修改操作的第一子集，来执行复制操作，由此生成部分修改的所选指令表示和/或其基础指令代码；c)在所显示的部件程序表示中定义粘贴位置；以及d)通过执行针对专用于粘贴位置的第二操作上下文的元素的修改操作的第二子集，来执行粘贴操作，由此生成并在粘贴位置上粘贴完全修改的所选指令表示和/或其基础指令代码。
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公开(公告)号：CN108571927A
公开(公告)日：2018-09-25
申请号：CN201810170654.7
申请日：2018-03-01
Applicant: 株式会社三丰
Abstract: 提供了一种能够相对于光接收量需要测量的区域扩大输出信号区域的光学位移计，一种用于调节光学位移计的方法和一种光学位移测量方法。该光学位移计包括光接收元件，在光接收元件中，相对于边界值Ua设定输出信号的最大值Vx，边界值Ua是光接收量需要测量的区域的最大值。光接收元件的输出信号V的整个区域可以被分配到有效区域Aa，所述有效区域是需要使用光学位移计测量光接收量的区域，并且光学位移计可以具有相对于需要测量光接收量的区域的扩大的输出信号区域。
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