-
公开(公告)号：CN104833316A
公开(公告)日：2015-08-12
申请号：CN201510065073.3
申请日：2015-02-06
Applicant: 株式会社三丰
CPC classification number: G01B11/24 , G01B11/026 , G02B1/11 , G02B5/0278
Abstract: 本发明涉及一种光学探测器、可装配盖和形状测量设备。光学探测器包括探测器盖，其中在该探测器盖内，安装了具有照射光学系统和接收光学系统的光学系统。在探测器盖的形成与工件相对的相对区域的底面设置用于使光穿过的出射区域和入射区域。另外，在探测器盖的底面设置光反射防止结构或漫反射结构。利用反射防止结构来防止从工件反射的光反射离开底面，或者利用漫反射结构使反射光发生漫反射。因此，可以抑制由于二次反射光而导致的在接收光分布中发生错误值。
-
公开(公告)号：CN118247207A
公开(公告)日：2024-06-25
申请号：CN202311777281.7
申请日：2023-12-22
Applicant: 株式会社三丰
Abstract: 本发明公开了一种盘形刻度盘的检查方法、检查设备和记录介质。该检查方法包括：图像数据获取步骤，用于获取与盘形刻度盘的图像有关的数据作为盘形刻度盘图像数据；以及极坐标变换步骤，用于使用盘形刻度盘的中心作为基准将盘形刻度盘图像数据变换成极坐标，以生成极坐标刻度图像数据。缺陷检测步骤包括：处理区域设置步骤，用于在极坐标角度显示轴上针对各个刻度线设置处理区域；重心计算步骤，用于针对各个处理区域计算重心；以及重心间距计算步骤，用于计算在重心计算步骤中所计算出的重心的间距。通过将极坐标刻度图像数据中的刻度的间距与预定参考值进行比较来执行缺陷检测。
-
公开(公告)号：CN104034276B
公开(公告)日：2018-08-28
申请号：CN201410084250.8
申请日：2014-03-07
Applicant: 株式会社三丰
IPC: G01B11/24
CPC classification number: G01B11/24 , G01B11/005 , G01B11/25
Abstract: 一种形状测量设备，包括：照射部，用于利用线状的线激光来照射工件，所述照射部包括：光源，用于生成激光；第一光学构件，用于使来自所述光源的激光线状地散开，并且生成所述线激光；以及第二光学构件，其设置在所述光源和所述第一光学构件之间，用于调整所述工件上的线激光的照射面积；第一传感器，用于接收所述工件所反射的线激光，并且拍摄所述工件的图像；透镜，用于在所述第一传感器的摄像面上形成所述工件所反射的线激光的图像；以及控制部，用于通过所述第二光学构件来对所述工件上的线激光的照射面积的调整进行控制。
-
公开(公告)号：CN106610275A
公开(公告)日：2017-05-03
申请号：CN201611186375.7
申请日：2016-10-24
Applicant: 株式会社三丰
Abstract: 本发明公开了检验机及其连接夹具。夹具包括三个柱状构件、触针头接收构件、及夹具固定部。第二柱状构件沿Z方向延伸。第一柱状构件沿X方向延伸且构造成通过使第一柱状构件的第一端结合到第二柱状构件的第一端而在X方向伸出的悬臂梁。第三柱状构件沿X方向延伸且构造成通过使第三柱状构件的第一端接合到第二柱状构件的第二端而沿与第一柱状构件相同的方向伸出的悬臂梁。触针头接收构件接合到第三柱状构件从而位于计量器的心轴的最前端的触针头所形成接触的表面面对第一柱状构件。夹具固定部设置到第一柱状构件从而可附接于计量器检验机的测量心轴。
-
公开(公告)号：CN104833315A
公开(公告)日：2015-08-12
申请号：CN201510065230.0
申请日：2015-02-06
Applicant: 株式会社三丰
IPC: G01B11/24
CPC classification number: G01B11/30 , G01B11/026 , G01B11/24 , G02B1/11 , G02B5/003 , G02B27/0018
Abstract: 本发明涉及一种光学探测器、可装配盖和形状测量设备。该光学探测器包括探测器盖，其中在该探测器盖内，安装了具有照射光学系统和接收光学系统的光学系统。向探测器盖的形成与工件相对的相对区域的底面设置用于使光穿过的出射区域和入射区域。该底面形成了从工件所反射的光中沿着镜面反射方向的光从来自出射区域的出射光照射在工件上的位置起、在远离入射区域的方向上反射的面。因此，可以抑制入射到入射区域的二次反射光的量，因此可以抑制接收光分布中的错误值的发生。
-
Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN1924521A
公开(公告)日：2007-03-07
申请号：CN200610126498.1
申请日：2006-09-01
Applicant: 株式会社三丰
Abstract: 本发明提供一种表面形状测量装置，包括：测量部(210)，由具有检测作用于接触部(212)的测量力的测量力检测电路(219)的振荡式接触探头构成；移动单元(三维驱动机构(300)、上下驱动机构(220))，使测量部(210)相对于被测量物表面(S)进行移动；以及驱动控制部(400)，根据从测量力检测电路(219)输出的测量力的大小控制移动单元。驱动控制部(400)，包括：仿形测量控制部(410)，使接触部沿着被测量物表面(S)进行仿形移动，使得测量力成为仿形指定测量力；和触碰测量控制部(420)，连续地进行触碰测量被测量物表面(S)的动作，以使接触部(212)以触碰检测测量力断续地接触被测量物表面(S)。
-
公开(公告)号：CN111102956B
公开(公告)日：2023-10-13
申请号：CN201911031042.0
申请日：2019-10-28
Applicant: 株式会社三丰
Abstract: 本发明提供一种形状测量装置。形状测量装置包括：保持单元，其保持形状被要测量的测量对象；第一测量单元，其测量所述测量对象的第一表面上的多个测量点相对于规定点的相对坐标；第二测量单元，其独立于所述第一测量单元进行操作，并且测量所述测量对象的作为所述第一表面的反面的第二表面上的多个测量点相对于所述规定点的相对坐标；以及计算单元，其基于由所述第一测量单元和所述第二测量单元所测量出的结果来计算所述测量对象的形状。
-
公开(公告)号：CN114746716A
公开(公告)日：2022-07-12
申请号：CN202080082861.2
申请日：2020-11-26
Applicant: 机械视觉照明有限公司 , 株式会社三丰
IPC: G01B11/24
Abstract: 照明装置110具有：光源部112；透镜部116，其将照明光以特定的照射立体角IS向被测定物W照射；滤光部114，其将特定的照射立体角IS内分离为具有彼此不同的光的波长区域R、G，B的多个立体角区域IS1、IS2、IS3；拍摄装置CM以规定的观察立体角DS接收照明光产生的被测定物W的物体光，拍摄装置CM的各像素能够彼此识别不同的光的波长区域R、G、B，处理装置120具备：计算部124，其从构成物体光的多个立体角区域RS1、RS2、RS3与规定的观察立体角DS之间的包含关系求出与各像素对应的被测定物W各点的法线向量Vn；形状复原部128，其对被测定物W的形状进行复原。由此，能够迅速地复原对被测定物进行了拍摄的图像内的被测定物各点的信息。
-
公开(公告)号：CN108571927B
公开(公告)日：2021-12-21
申请号：CN201810170654.7
申请日：2018-03-01
Applicant: 株式会社三丰
Abstract: 提供了一种能够相对于光接收量需要测量的区域扩大输出信号区域的光学位移计，一种用于调节光学位移计的方法和一种光学位移测量方法。该光学位移计包括光接收元件，在光接收元件中，相对于边界值Ua设定输出信号的最大值Vx，边界值Ua是光接收量需要测量的区域的最大值。光接收元件的输出信号V的整个区域可以被分配到有效区域Aa，所述有效区域是需要使用光学位移计测量光接收量的区域，并且光学位移计可以具有相对于需要测量光接收量的区域的扩大的输出信号区域。
-
公开(公告)号：CN109141301A
公开(公告)日：2019-01-04
申请号：CN201810630055.9
申请日：2018-06-19
Applicant: 株式会社三丰
IPC: G01B21/00
CPC classification number: G01B3/22 , G01B21/042 , G01B21/045
Abstract: 一种指示器检查机器，其在轴改变位置时基于由指示器显示的值检查指示器的准确性。指示器检查机器包括：测量轴，其被设置为能够自由地升高和降低，以便使指示器的轴移位；接触点，设置于测量轴的最前端，所述接触点与设置于指示器的轴的最前端的指示器接触点接触；驱动测量轴的驱动机构；以及控制器，其控制驱动机构以使接触点与指示器接触点接触，同时以预定周期改变测量轴的速度。
-
-
-
-
-
-
-
-
-
Search Results
28
records
(took 0.02 seconds)
