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公开(公告)号：CN101794835A
公开(公告)日：2010-08-04
申请号：CN201010135255.0
申请日：2005-07-28
Applicant: 佳能株式会社
IPC: H01L31/08
CPC classification number: H01L31/08 , G01N21/3581 , H01S1/02
Abstract: 本发明提供了一种光学半导体器件，其包括具有光电导性的半导体薄膜(4)和用于在大致垂直于所述半导体薄膜(4)的表面的方向向所述半导体薄膜(4)内部施加电场的电极对(5)和(10)，其中，当光作用于所述半导体薄膜(4)的被施加了电场的区域时，所述半导体薄膜(4)产生电磁波。所述电极被设置在所述半导体薄膜(4)的前表面和背面，其间夹着所述半导体薄膜。
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公开(公告)号：CN100544671C
公开(公告)日：2009-09-30
申请号：CN200580009799.X
申请日：2005-03-24
Applicant: 佳能株式会社
IPC: A61B5/117
CPC classification number: A61B5/1171 , A61B3/112 , A61B5/01 , A61B5/0507 , A61B5/117 , A61B5/1172 , A61B5/4869 , A61B7/006 , G01S7/411 , G01S13/02 , G01S13/0209 , G01S13/08 , G07C9/00087
Abstract: 提供一种活体的识别方法。该方法包括以下步骤：检测从活体传送的300GHz～30THz的频带中的电磁波；从检测的电磁波提取多种信息，并从中得到关于活体的信息和活体固有的信息；和将关于活体的信息和活体固有的信息与预先存储的信息相比较。该方法以更高的实时可检测性和更高的安全性识别单个的活体以防止非法伪装。
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公开(公告)号：CN1937955A
公开(公告)日：2007-03-28
申请号：CN200580009799.X
申请日：2005-03-24
Applicant: 佳能株式会社
IPC: A61B5/117
CPC classification number: A61B5/1171 , A61B3/112 , A61B5/01 , A61B5/0507 , A61B5/117 , A61B5/1172 , A61B5/4869 , A61B7/006 , G01S7/411 , G01S13/02 , G01S13/0209 , G01S13/08 , G07C9/00087
Abstract: 提供一种活体的识别方法。该方法包括以下步骤：检测从活体传送的300GHz～30THz的频带中的电磁波；从检测的电磁波提取多种信息，并从中得到关于活体的信息和活体固有的信息；和将关于活体的信息和活体固有的信息与预先存储的信息相比较。该方法以更高的实时可检测性和更高的安全性识别单个的活体以防止非法伪装。
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公开(公告)号：CN119013845A
公开(公告)日：2024-11-22
申请号：CN202380033603.9
申请日：2023-04-13
Applicant: 佳能株式会社
Abstract: 一种天线装置，包括：第一基板，所述第一基板包括天线阵列以及布线，多个有源天线被提供在所述天线阵列中，每个有源天线包括被配置为产生或检测电磁波的半导体结构和天线，所述布线电连接到所述多个有源天线；以及第二基板，所述第二基板被堆叠在所述第一基板上并且包括所述天线阵列的控制电路，其中所述第一基板和所述第二基板在接合表面处接合，所述控制电路经由所述布线电连接到所述天线阵列，并且所述第二基板的所述控制电路控制所述第一基板的所述多个有源天线的振荡。
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公开(公告)号：CN102792136B
公开(公告)日：2015-03-11
申请号：CN201180013345.5
申请日：2011-03-09
Applicant: 佳能株式会社
Inventor： 井辻健明
IPC: G01J3/42 , G01N21/3586
CPC classification number: G01J3/42 , G01J3/027 , G01J3/28 , G01N21/274 , G01N21/3586
Abstract: 本发明提供能够改善获得的频谱信息的定量性的太赫波测量装置和测量方法。在使用太赫波测量装置的测量方法中，太赫波测量装置测量与已获知校准谱形状的校准样品有关的太赫波的时间波形，并通过变换时间波形来获得测量谱。比较校准谱和测量谱，并基于比较结果来调整形成时间波形的测量数据的时间间隔，以便校准太赫波测量装置。
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公开(公告)号：CN101661942B
公开(公告)日：2011-04-13
申请号：CN200910165958.5
申请日：2009-08-20
Applicant: 佳能株式会社
Inventor： 井辻健明
IPC: H01L27/144 , H01L31/09 , H01L31/102 , H01L31/0224 , H01L25/00
Abstract: 本发明公开一种太赫波产生器件和太赫波产生装置。所提供的太赫波光学器件可被用作太赫波产生器件，该太赫波光学器件包含：光学开关部分，通过用激发光照射来突然产生载流子；以及第一电极部分和第二电极部分，被设置为彼此相对而光学开关部分在它们之间，以沿光学开关部分的厚度方向施加电场。第一电极部分至少部分地包含天线部分，所述天线部分具有沿与电场施加方向相交的方向分布通过用激发光照射而产生的载流子的天线功能。利用该太赫波光学器件，用于调整激发光的入射角的步骤被简化。
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公开(公告)号：CN101377406B
公开(公告)日：2011-02-09
申请号：CN200810212464.3
申请日：2008-08-29
Applicant: 佳能株式会社
Inventor： 井辻健明
Abstract: 本发明涉及用于获得与太赫兹波有关的信息的设备和方法。所述设备能够获得设置的区域中的透射过样本或被样本反射的太赫兹波的时间波形。延迟单元被配置为改变检测单元检测发自由生成单元生成的太赫兹波的、透射过样本或被样本反射的太赫兹波的定时。波形获得单元被配置为获得通过使用延迟单元所获得的透射太赫兹波的时间波形。可以使用一个以上的延迟单元是可控制的，以便检测单元在与所述时间波形有关的如下区域中检测透射的太赫兹波，所述区域是基于预先存储在存储单元中的与样本有关的信息而设置的。然后，获得该区域中的透射的太赫兹波的时间波形。
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公开(公告)号：CN101498654A
公开(公告)日：2009-08-05
申请号：CN200910009706.3
申请日：2009-01-23
Applicant: 佳能株式会社
Inventor： 井辻健明
CPC classification number: G01N21/3581 , G01N21/3504 , G01N21/3563 , G01N21/3577
Abstract: 本发明涉及使用太赫兹波的检查装置和检查方法。提供一种检查装置，该检查装置包括：太赫兹波检测部分；波形成形部分，被配置为通过使用在上述的太赫兹波检测部分中获取的信号，使关于太赫兹波的第一应答信号成形；测量条件获取部分，被配置为获取第一测量条件；应答信号存储部分，被配置为存储与测量条件相对应的第二应答信号；选择部分，被配置为从上述的应答信号存储部分选择上述的第二应答信号；以及信号处理部分，被配置为基于上述的第二应答信号，对于上述的第一应答信号进行解卷积。
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