-
公开(公告)号：CN201549181U
公开(公告)日：2010-08-11
申请号：CN200920110463.8
申请日：2009-07-28
申请人： 北京京东方光电科技有限公司
摘要： 本实用新型提供一种TFT-LCD阵列电路检测用探针框架。该探针框架中设置有数个横梁和/或纵梁，所述横梁和/或纵梁上间隔设置有用于为待检测阵列基板提供检测信号的探针，所述探针的悬空端到所述横梁和/或纵梁的垂直距离从所述横梁和/或纵梁的受力端的第一位置至远离所述受力端的第二位置逐渐递增。本实用新型提供的TFT-LCD阵列电路检测用探针框架，通过增长横梁和/或纵梁远离受力端位置处探针的悬空端到横梁和/或纵梁的垂直距离，弥补了横梁和/或纵梁的形变带来的该位置处接触空间变大的影响，克服了探针与待检测阵列基板接触不良的缺陷，提高了检测成功率和生产效率，并扩展了检测领域。
-
公开(公告)号：CN202736444U
公开(公告)日：2013-02-13
申请号：CN201220349362.8
申请日：2012-07-18
申请人： 北京京东方光电科技有限公司
摘要： 本实用新型公开了一种TFT阵列检测框架及检测设备，用于解决现有TFT阵列检测框架兼容性差，其上的检测探针容易损坏及容易造成阵列基板损坏的技术问题。本实用新型通过用弹性导电部件代替检测探针，并且弹性导电部件的固定支架和TFT检测框架位置可调，从而实现多种型号的产品共用一个TFT检测框架。本实用新型不仅节省了购买各种型号TFT检测框架的费用，同时还能够彻底解决由于探针损坏扎碎阵列基板而造成的不必要损失。
-
公开(公告)号：CN202383388U
公开(公告)日：2012-08-15
申请号：CN201120401457.5
申请日：2011-10-20
申请人： 北京京东方光电科技有限公司
摘要： 本实用新型公开了一种调制器检测装置和基板检测装置，涉及电子工艺技术。该调制器检测装置包括平整度检测仪和信号处理单元；其中平整度检测仪，用于向待检测的调制器发送检测波，并对经过调制器表面反射的检测波进行检验，发送检验结果给所述信号处理单元；信号处理单元，用于获得所述平整度检测仪发送的检验结果，确定调制器表面的破损情况。从而确定调制器表面是否平整，实现对调制器表面破损情况进行检测。
-
公开(公告)号：CN212111994U
公开(公告)日：2020-12-08
申请号：CN202021230831.5
申请日：2020-06-29
申请人： 京东方科技集团股份有限公司 , 北京京东方光电科技有限公司
摘要： 本实用新型提供了一种抬头显示系统，包括：显示屏，用于图像显示；成像镜头，位于显示屏的出光侧，用于对显示屏的显示图像进行成像；曲面反射镜，位于成像镜头背离显示屏的一侧，用于接收成像镜头的成像光线并向人眼所在的位置反射；显示屏与成像镜头的相对位置固定，成像镜头与曲面反射镜采用分体式结构。显示屏与成像镜头中的透镜采用同轴设计，设计简单，组装更加容易。成像镜头和曲面反射镜采用分体式结构，使得曲面反射镜具有更高的自由度。
-
公开(公告)号：CN202094123U
公开(公告)日：2011-12-28
申请号：CN201120208180.4
申请日：2011-06-20
申请人： 北京京东方光电科技有限公司
IPC分类号： H01L27/02 , G02F1/1343 , G02F1/1362
摘要： 本实用新型公开了一种阵列基板和显示设备，该阵列基板中包括使用透明导电材料制作的公共电极线，所述公共电极线在与其它线路的交叉部分的线宽小于所述公共电极线其余部分的线宽。由于在该阵列基板中，使用透明电极来制作公共电极线，同时，在公共电极线与其它线路交叉部分，将公共电极线制作的细于公共电极线的其余部分，进而减小了公共电极线与其它线路产生的寄生电容，提高了产品性能。
-
公开(公告)号：CN201732128U
公开(公告)日：2011-02-02
申请号：CN201020220236.3
申请日：2010-06-01
申请人： 北京京东方光电科技有限公司
摘要： 本实用新型提供一种测试玻璃基板的设备，包括承载玻璃基板的载台和向玻璃基板加载测试信号的探针框架，其中，还包括：定位装置，分别固设在载台的边缘上，用于调整探针框架到指定位置，指定位置为探针框架上的探针与玻璃基板上的信号加入金属触点对准的位置；固定装置，设置在探针框架上，用于当定位装置调整探针框架到指定位置之后，固定探针框架。本实用新型通过在载台的边缘上设置的定位装置，解决了现有技术中当探针框架上的探针与玻璃基板上的信号加入金属触点接触不良时，需要操作人员对探针框架的位置进行手动调整的问题，实现了自动调整探针框架的位置，节省了人力资源，从而提高了设备运行稼动率和玻璃基板的产量。
-
公开(公告)号：CN201345018Y
公开(公告)日：2009-11-11
申请号：CN200920105532.6
申请日：2009-02-20
申请人： 北京京东方光电科技有限公司
IPC分类号： G02F1/13
摘要： 本实用新型公开了一种探针框架(Probe Frame)更换装置，包括一底座，所述底座上固设一升降架，所述升降架上设置有升降传动部件，所述升降传动部件上设置有用于承载探针框架的支撑架，所述支撑架上设置有水平移动传动部件，所述水平移动传动部件上设置有用于固定探针框架的固定部件，所述升降架上设置有用于驱动所述支撑架沿竖直方向移动的升降驱动部件，所述支撑架上设置有用于驱动所述固定部件沿水平方向移动的水平移动驱动部件。利用此装置，可以简化更换探针框架的操作，实现对探针框架的快速更换，从而可提高工作效率；在探针框架的更换过程中能使探针框架保持水平，从而减少对探针的损坏。
-
-
-
-
-
-
搜索结果
17 条记录 (耗时 0.029 秒)
