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公开(公告)号：CN109341566A
公开(公告)日：2019-02-15
申请号：CN201811005543.7
申请日：2018-08-30
申请人： 南京理工大学
IPC分类号： G01B11/24
摘要： 本发明公开了一种独立式全天候在线二维轮廓形状检测仪，包括第一激光测距探头、第二激光测距探头、电源、MCU控制单元以及上位机；两个激光测距探头间隔一定距离设置在输送带正上方，激光测距探头的激光光源采用一字线光幕，第一激光测距探头探测到待检物体后，MCU控制单元开始计时，当第二激光测距探头探测到待检物体后，MCU控制单元停止计时并计算出输送带速度，由第二激光测距探头继续完成对物体轮廓的扫描。本发明结构简单、无需输送带配合、测量效率高、覆盖范围广，为自动化生产或检测流水线提供了较好的解决方案。
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公开(公告)号：CN104914164A
公开(公告)日：2015-09-16
申请号：CN201510260826.6
申请日：2015-05-21
申请人： 南京理工大学
IPC分类号： G01N29/06
摘要： 本发明公开了一种基于DAC曲线的超声波C扫描成像方法，本方法将检测时超声探伤系统所获得的回波高度与所拟合的DAC曲线相应声程处的高度进行对比，得出两者dB差值，根据其差值或者最高回波高度所位于的曲线区间进行颜色值调制，结合探伤系统扫查装置所处的工件位置生成C扫描图像。本方法采用了DAC曲线，可补偿材料衰减、近场效果、声速散射及表面粗糙等因素产生的影响，在定量分析时可避免后续C扫描图像的边缘检测、分割等处理，可根据调制C扫描图像时的颜色设定，直观的确定出工件缺陷当量大小或范围，从而省略缺陷分析时的像素统计步骤，降低检测结果处理的复杂性。
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公开(公告)号：CN109357610A
公开(公告)日：2019-02-19
申请号：CN201811005535.2
申请日：2018-08-30
申请人： 南京理工大学
IPC分类号： G01B7/02
摘要： 本发明公开了一种基于STM32的多功能磁致伸缩位移测量仪及测量方法，包括波导丝、滑杆、多个磁环、阻尼器、检测线圈、测量仪电路；波导丝安装于滑杆内，磁环为磁伸材料提供恒定的耦合磁场，并可在滑杆上自由滑动；阻尼器用于吸收波导丝末端的弹性波，检测线圈实现对弹性波的信号拾取，即从物理量到电量的转换；测量仪电路包括激励脉冲产生模块、磁弹性波检测模块及时间测量与控制模块。本发明采用STM32进行控制和相应计算，结合硬件设施，可实现位置测量、位移测量、速度测量等功能且支持多种通讯方式，测量结果的多种输出方式使其在工业测量系统中兼容性较好，适用性较强。
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公开(公告)号：CN107990794A
公开(公告)日：2018-05-04
申请号：CN201711216092.7
申请日：2017-11-28
申请人： 南京理工大学
IPC分类号： F42B35/02
摘要： 本发明公开一种基于红外与地磁复合的旋转弹体姿态测试装置，包括传感器模块、数据采集模块、数据存储模块、数据处理模块、数据通讯模块、电源管理模块；传感器模块用以采集天、地的红外辐射与当地地磁信号，并对采集到的红外辐射与地磁信号进行放大和滤波处理；数据采集模块用以对放大和滤波处理后的信号进行实时的采集和将模拟信号转换为数字信号；数据处理模块用以控制数据采集模块、数据存储模块和数据通讯模块的工作，完成各个工作模式之间的协调工作；数据通讯模块用以采集、存储的数据与上位机之间进行传输工作；电源管理模块用以将供电电压转换成各个模块所需的电压值，并为整个测试装置供电；本发明利用组合测姿的方式，提高了姿态测试精度。
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公开(公告)号：CN106856003A
公开(公告)日：2017-06-16
申请号：CN201611267528.0
申请日：2016-12-31
申请人： 南京理工大学
CPC分类号： G06T7/0004 , G06T5/006 , G06T2207/30164
摘要： 本发明公开了一种轴类工件侧表面缺陷检测图像的展开校正方法，该校正方法首先通过相机成像模型获取轴类工件侧表面空间点与图像坐标位置之间的透视投影关系，以及距相机最近轴母线为基准展开的平面空间点与图像坐标位置之间的透视投影关系；根据几何坐标转换方法获取轴侧表面空间点与距相机最近轴母线为基准展开的平面空间点之间的坐标位置关系；再根据所获得的上述三种关系联立推导，建立轴侧表面与展开平面图像间的仿射变换关系，结合该仿射变换关系及插值法完成像素复制，实现检测图像的展开校正。本发明可真实还原轴侧表面实际检测情况，提高了后期图像处理检测精度。
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公开(公告)号：CN114964259A
公开(公告)日：2022-08-30
申请号：CN202210559087.0
申请日：2022-05-22
申请人： 南京理工大学
摘要： 本发明公开了一种基于红外焦平面阵列时域信号与红外图像的姿态解算方法及系统，该方法在单轴红外焦平面阵列传感器布阵方式下，首先对红外焦平面阵列进行数据预处理，采用双三次插值方法扩展低像素红外图像并映射到灰度空间；通过图像处理算法检测灰度图像的纹理直线斜率，基于红外图像实现旋转弹体俯仰角的姿态解算；利用俯仰角信息推导红外焦平面阵列各面元的相位差，基于阵列时域信号求解出弹体横滚角。本发明区别于传统的单元红外姿态测量方法，在红外焦平面阵列单轴传感器布阵方式下，融合阵列时域信号及红外图像信息实现姿态信息的解算，具有自主性强、精度高、无累计误差的优点。
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公开(公告)号：CN111174739A
公开(公告)日：2020-05-19
申请号：CN201911354513.1
申请日：2019-12-25
申请人： 南京理工大学
IPC分类号： G01B17/02
摘要： 本发明公开了一种测量自由曲面任意点厚度的装置及其测量方法，装置包括超声测厚主体结构、缓冲连接结构和耦合剂供应结构，超声测厚主体结构用于探头角度自适应调整和探头与工件接触力的测量，使得测量轴线与工件接触点的矢法线自适应重合且接触稳定；缓冲连接结构用于保证测厚主体结构与外部运动机构末端的同轴连接，同时起到缓冲和导向作用；耦合剂供应线路保证探头与工件的耦合稳定。本发明可解决薄壁类复杂曲面工件厚度的自动检测问题，装置可安装在运动机构末端实现自由曲面工件厚度自动检测，也可安装在数控机床刀柄末端，实现在机测量获得零件毛坯壁厚或加工中的剩余壁厚分布状态。
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公开(公告)号：CN106856003B
公开(公告)日：2019-06-25
申请号：CN201611267528.0
申请日：2016-12-31
申请人： 南京理工大学
摘要： 本发明公开了一种轴类工件侧表面缺陷检测图像的展开校正方法，该校正方法首先通过相机成像模型获取轴类工件侧表面空间点与图像坐标位置之间的透视投影关系，以及距相机最近轴母线为基准展开的平面空间点与图像坐标位置之间的透视投影关系；根据几何坐标转换方法获取轴侧表面空间点与距相机最近轴母线为基准展开的平面空间点之间的坐标位置关系；再根据所获得的上述三种关系联立推导，建立轴侧表面与展开平面图像间的仿射变换关系，结合该仿射变换关系及插值法完成像素复制，实现检测图像的展开校正。本发明可真实还原轴侧表面实际检测情况，提高了后期图像处理检测精度。
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公开(公告)号：CN108050999A
公开(公告)日：2018-05-18
申请号：CN201711214682.6
申请日：2017-11-28
申请人： 南京理工大学
摘要： 本发明公开了一种新息正交性的红外与地磁复合旋转弹体测姿方法，包括建立弹体三轴地磁分量测量模型；在地磁场基本理论的基础上，推导磁传感器输出信号之间的积分比值与弹体俯仰角的理论公式，利用积分比值的方法独立求解姿态角参数；根据红外传感器观测方向的不同，得到红外辐射场的理论测量模型；采用分段交互的三轴红外传感器姿态优化算法解算姿态角参数；对卡尔曼滤波器中新息进行分析，设计新息正交性的自适应滤波切换算法及阈值范围；根据新息正交理论，对野值点进行判别；对红外传感器、地磁传感器测量数据与阈值进行的判断，采用新息正交性的红外与地磁复合旋转弹体测姿方法对红外与地磁传感器输出进行处理；本方法有利于提高弹体姿态解算精度。
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公开(公告)号：CN107219298A
公开(公告)日：2017-09-29
申请号：CN201710431071.0
申请日：2017-06-08
申请人： 南京理工大学
IPC分类号： G01N27/84
摘要： 本发明公开了一种荧光磁粉缺陷成像检测中的工件对中装置及方法，对中装置包括第一平面电极、第二平面电极、第一磁性底座、第二磁性底座、第一升降平台、第二升降平台、旋转运动机构、第一延长垫块、第二延长垫块、垂直激光投线仪和水平激光投线仪；激光投线仪用于生成水平和垂直方向的投影线；磁性底座用于辅助放置待检工件；升降平台用于调整工件垂直高度；专用延长垫块用于固定待检工件两端，并提供能与激光线对应的实体刻度线。本发明可应用于荧光磁粉缺陷成像检测系统中，解决传统荧光磁粉检测设备因无法对工件对中夹持造成图像偏移、降低测量精度的问题；本发明适用于不同类型的工件，具有简明直观、实用快速、操作方便的特点。
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