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公开(公告)号：CN103454244A
公开(公告)日：2013-12-18
申请号：CN201310412799.0
申请日：2013-09-11
Applicant: 哈尔滨工业大学
Abstract: 基于多频调制激光辐照的半透明介质辐射特性测量方法，属于半透明介质辐射特性测量技术领域。本发明为了解决半透明介质辐射特性测量中，单次测量信息的测量结果误差较大的问题。它基于多频调制激光辐照技术，利用多频调制激光照射具有一定黑度涂层的半透明介质表面，通过改变激光调制频率、激光入射角度、试件厚度及试件涂层黑度来获得多组边界处的频域半球反射信号，基于这些反射信号结合逆问题求解技术获得半透明介质的辐射物性参数。本发明用于测量半透明介质辐射特性。
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公开(公告)号：CN106644852B
公开(公告)日：2019-03-29
申请号：CN201610907548.3
申请日：2016-10-17
Applicant: 哈尔滨工业大学
Abstract: 基于超短脉冲激光辐照同时获取球形颗粒光学常数与粒径分布的测量方法，本发明涉及参与性介质辐射物性测量技术领域。本发明为了解决基于逆问题求解的参与性介质辐射参数测量中，实验测量值误差大、测量信号较弱的问题。本发明利用脉冲激光照射颗粒系统样品表面，通过改变试件的厚度以及入射激光的波长，然后测量不同角度的时域透射及反射信号，然后结合这些信号并通过逆问题求解技术获得球形颗粒光学常数与颗粒系粒径分布。本发明通过建立测量颗粒系统光学常数与颗粒系粒径分布的正、逆问题模型，在已知介质其他物性参数的前提下而提出。本发明适用于同时获取球形颗粒光学常数与粒径分布的测量场合。
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公开(公告)号：CN106383072B
公开(公告)日：2019-03-26
申请号：CN201610907546.4
申请日：2016-10-17
Applicant: 哈尔滨工业大学
Abstract: 基于多角度光散射‑透射法的球形颗粒光学常数与粒径分布同时测量方法，涉及参与性介质辐射物性测量技术领域。本发明为了解决基于逆问题求解的参与性介质辐射参数测量中，实验测量值误差大、测量信号较弱的问题。本发明是利用连续稳态激光照射颗粒系统样品表面，通过在不同散射角度位置布置光学探测器，然后测量不同角度的稳态激光的散射光学信号强度以及半球透射信号，然后结合这些信号并通过逆问题求解技术获得球形颗粒光学常数与颗粒系粒径分布。本发明适用于基于多角度光散射‑透射法的球形颗粒光学常数与粒径分布同时测量。
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公开(公告)号：CN106023082B
公开(公告)日：2019-01-08
申请号：CN201610348998.3
申请日：2016-05-24
Applicant: 哈尔滨工业大学
Abstract: 基于微透镜阵列与脉冲激光的弥散介质光学参数场重建装置及其重建方法，属于红外光学成像领域。目前缺少通过微透镜阵列测量光场信号的技术方法。基于微透镜阵列与脉冲激光的弥散介质光学参数场重建装置，数据采集处理系统(7)连接激光控制器(1)和三个微透镜阵列光场相机；激光控制器(1)连接激光头(2)，激光头(2)和三个微透镜阵列光场相机围成的区域中心设置弥散介质(3)。基于微透镜阵列与脉冲激光的弥散介质光学参数场重建方法，包括介质边界出射辐射测量、近红外脉冲激光在弥散介质的传输计算、光学参数场重建环节。本发明实现对弥散介质光学参数场的重建，为近红外光学成像和红外探测技术提供新的技术手段。
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公开(公告)号：CN109092378A
公开(公告)日：2018-12-28
申请号：CN201810776829.9
申请日：2018-07-13
Applicant: 哈尔滨工业大学
IPC: B01L3/00
CPC classification number: B01L3/50273 , B01L2300/12 , B01L2400/0454
Abstract: 一种基于等离激元纳米结构的微流控芯片流量光控制方法，本发明涉及微流控芯片流量光控制方法。本发明的目的是为了解决现有微流控设备操作复杂，设备昂贵，且便携性较差以及光控微流体技术需要向微流体中加入其他介质，或使用特殊的微流道材料等，极大限制了微流控技术的应用范围的问题。过程为：一、计算得到不同尺寸，不同间隔以及不同材料的纳米棒阵列在不同入射激光强度和偏振方向下纳米棒阵列吸收截面，纳米棒阵列所在微流道内流体的温度场和流场分布情况；二、选取符合要求的纳米阵列；三、使用特性波长的激光照射选取的符合要求的纳米棒阵列，通过调节特性波长的激光强度和偏振方向调控微流道内流体的微流动。本发明用于微流控领域。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN105319174B
公开(公告)日：2018-01-30
申请号：CN201510907097.9
申请日：2015-12-09
Applicant: 哈尔滨工业大学
Abstract: 同时获取半透明材料温变导热系数及吸收系数的测量方法，涉及同时获取半透明介质温度相关导热系数及吸收系数技术。测量过程中使用某波长连续激光照射待测样品，借助探测器测量待测样本的随时间变化的温度响应以及透射辐射强度，最后通过逆问题求解技术间接得到待测样品随温度变化的导热系数及吸收系数。本发明通过建立导热系数及吸收系数随温度变化的半透明介质导热辐射耦合换热的正、反问题模型，在介质其他参数已知的前提下，提出了采用微粒群优化算法同时反演得到半透明介质温度相关导热系数及吸收系数的方法。本发明适用于航天、国防和民用工业。
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公开(公告)号：CN103528963B
公开(公告)日：2016-02-17
申请号：CN201310533552.4
申请日：2013-11-01
Applicant: 哈尔滨工业大学
IPC: G01N21/17
Abstract: 采用多频调制激光加热与光热信息重建技术的半透明材料辐射特性测量方法，涉及一种测量半透明材料辐射特性参数的方法。其步骤为：分别采用不同频率的激光照射半透明材料的一侧表面，使用光电探测器分别测量在该入射激光频率下材料激光入射侧的频域半球反射辐射信号和激光出射侧的频域半球透射辐射信号，同时利用热电偶测温仪测量并记录材料两表面温度随时间的变化。根据频域半球反射辐射信号、频域半球透射辐射信号以及两表面随时间变化的温度，通过逆问题求解技术获得半透明材料的衰减系数和反照率。本发明通过建立测量半透明材料衰减系数和反照率的正、逆问题模型，能简单、快速、准确的利用逆问题求解技术同时测量半透明材料衰减系数和反照率。
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公开(公告)号：CN103439283B
公开(公告)日：2015-09-09
申请号：CN201310412796.7
申请日：2013-09-11
Applicant: 哈尔滨工业大学
Abstract: 基于单频激光辐照的双层参与性介质光谱辐射特性测量方法，属于参与性介质光学参数测量技术领域。本发明为了解决现有双层参与性介质光谱辐射特性的测量成本高及测量结果不准确的问题。它利用单频激光先后从两侧辐照双层参与性介质表面，利用探测器获得样品表面的频域复半球反射信号和复半球透射信号，最后利用反演的方法获得双层参与性介质的光谱吸收系数和光谱散射系数。本发明用于测量双层参与性介质光谱辐射特性。
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公开(公告)号：CN103344601B
公开(公告)日：2015-08-19
申请号：CN201310271945.2
申请日：2013-07-02
Applicant: 哈尔滨工业大学
IPC: G01N21/3563
Abstract: 基于傅立叶变换红外光谱分析仪的半透明材料吸收系数测量方法，本发明涉及材料热物性测量领域，具体涉及一种半透明材料吸收系数测量方法。本发明为了解决现有的半透明材料吸收系数测量方法存在操作复杂，测量速度慢的问题。本发明是基于傅立叶变换红外光谱分析仪实现的，本发明利用试件的光谱透过率τλ与该试件材料的反射率ρλ，根据贝尔定律计算获得该试件材料的光谱吸收系数kaλ，利用该试件材料的光谱吸收系数kaλ，对全光谱进行积分，获得普朗克平均吸收系数kap和罗斯兰德平均吸收系数kaR，并作为半透明材料吸收系数的测量结果，完成基于傅立叶变换红外光谱分析仪的半透明材料吸收系数测量。本发明适用于半透明材料吸收系数测量。
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公开(公告)号：CN103630567A
公开(公告)日：2014-03-12
申请号：CN201310716967.5
申请日：2013-12-23
Applicant: 哈尔滨工业大学
Abstract: 用于测量半透明材料试样发射率的抗背景噪声的试样加热系统，它涉及一种加热系统，属于半透明材料加热技术领域。本发明为了解决现有半透明材料发射率测量装置中的材料试样加热系统体积庞大、结构复杂、试样背景辐射特性复杂、成本高的技术问题。本发明包括加热器和PID温度控制器，加热器包括加热器壳体、方形弹簧固定片、加热片电源引线、圆形平板电阻加热片、温度传感器探头、加热器保温层和温度传感器引线。本发明在加热片的半透明材料试样侧涂有黑体涂层，使得试样加热过程中背景辐射特性简单，有利于半透明材料发射率测量中背景辐射的扣除；本发明采用电阻加热片直接加热的方式，具有体积小、结构简单、加热快、成本低、耗能低的优点。
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