荧光相关光谱设备和方法
    14.
    发明公开

    公开(公告)号:CN101900605A

    公开(公告)日:2010-12-01

    申请号:CN201010187025.9

    申请日:2010-05-26

    Inventor: 山口光城

    Abstract: 本发明提供了一种荧光相关光谱设备和方法,对于检测样品中所包含的共存的各组分的存在比时通过FCS的测量,所述荧光相关光谱设备和方法能够尽可能减少对照样品的荧光测量次数。在本发明的用于通过FCS检测溶液样品中所包含的具有荧光标记的各组分的存在比的设备和方法中,基于在不同测量条件等下各组分的平移扩散时间的比保持不变的知识,采用各组分的平移扩散时间的比的值。

    光学分析装置、光学分析方法

    公开(公告)号:CN102782479B

    公开(公告)日:2014-04-30

    申请号:CN201180011640.7

    申请日:2011-02-18

    Abstract: 提供一种光学分析技术,其能够对以低的浓度或数密度包含于样品溶液中的被观测粒子的状态或特性进行检测。本发明的光学分析技术使用诸如共聚焦显微镜的或多光子显微镜的光学系统等能够对来自溶液中的微小区域的光进行检测的光学系统,以在使微小区域的位置在样品溶液中移动的同时(在利用微小区域扫描样品溶液的内部的同时)对来自被观测发光粒子的光进行检测;产生时间序列光强度数据,并且随后对所述时间序列光强度数据进行平滑处理;在经过平滑处理的时间序列光强度数据中对横穿微小区域的内部的发光粒子单个地进行检测,由此使得能够对发光粒子计数或能够获取关于发光粒子的浓度或数密度的信息。

    利用单个发光粒子检测的光分析装置、光分析方法以及光分析用计算机程序

    公开(公告)号:CN103460026A

    公开(公告)日:2013-12-18

    申请号:CN201280016619.0

    申请日:2012-03-26

    Abstract: 本发明提供一种在使用了共焦显微镜或多光子显微镜的光测量的扫描分子计数法中容易地设定用于去除噪声的基准的结构。本发明的对样本溶液中的发光粒子的光进行检测的光分析技术的特征在于,通过变更显微镜的光学系统的光路,生成一边使光检测区域的位置在样本溶液内移动一边检测出的来自光检测区域的光的时序光强度数据,在时序光强度数据中个别地检测发光粒子的信号。在发光粒子的信号的检测中,抽出光强度处于根据信号发生频率累加值分布而设定的光强度范围内的信号作为发光粒子的信号,该信号发生频率累加值分布是以信号的强度为变量而强度为该变量以上的信号的发生频率的累加值的分布。

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