一种基于多类别联合软聚类的推荐方法及系统

    公开(公告)号:CN108984551A

    公开(公告)日:2018-12-11

    申请号:CN201710400994.X

    申请日:2017-05-31

    IPC分类号: G06F17/30 G06Q10/04 G06Q30/06

    摘要: 本发明公开了一种基于多类别联合软聚类的推荐方法及系统,其中,所述推荐方法包括:获取用户-物品交互信息,根据所述用户-物品交互信息构建评分矩阵和分类矩阵;对所述评分矩阵和所述分类矩阵进行多类别软聚类处理,获取多类别软聚类结果;采用加权非负矩阵分解对所述多类别软聚类结果进行用户喜好度预测,获取预测结果;根据所述预测结果向用户推荐预测分数最高的物品。在本发明实施例中,可以根据用户对物品的喜爱程度对进行评分预测,根据评分预测向用户推荐物品,预测准确度较高。

    一种RFID读写器芯片中测系统及方法

    公开(公告)号:CN103064011B

    公开(公告)日:2015-12-23

    申请号:CN201210583486.7

    申请日:2012-12-27

    IPC分类号: G01R31/3167

    摘要: 本发明公开了一种RFID读写器芯片中测系统及方法,系统包括:包括探针台、中央控制器、上位机、RFID卡和芯片阅读器。方法包括:探针台向中央处理器发出开始测试信号;中央处理器响应探针台发出的开始测试信号,并通过上位机对芯片阅读器发出测试请求;芯片阅读器与RFID卡进行通信测试,并将测试结果和测试结束信号通过上位机反馈给中央控制器;中央处理器处理测试结果并将测试结束信号发送给探针台;探针台显示被测芯片的测试结果。本发明一种RFID读写器芯片中测系统及方法,保证了测试系统的稳定运行,并且能维持各个部件之间通信的高效时序处理,不仅适用于芯片中测过程,同时也适用于芯片封装后的成品测试,具有良好的扩展能力,大大节约研发成本。

    一种用于RFID的电压转换电路

    公开(公告)号:CN104218789B

    公开(公告)日:2017-02-15

    申请号:CN201410409728.X

    申请日:2014-08-19

    IPC分类号: H02M3/00

    摘要: 本发明实施例公开了一种用于RFID的电压转换电路,所述电压转换电路包括:低压差线性稳压器,用于将工作电压从5V转化成3.3V;与所述LDO相连接的3.3V工作模块,用于将输入到3.3V工作模块的模拟信号转换成数字信号;与所述3.3V工作模块相连接的电压域转换器,用于将工作电压在3.3V和5V之间进行转换;与所述电压域转换器相连接的5V工作模块,用于接收5V的工作电压,并接收所述3.3V工作模块输出的数字信号。在本发明实施例中,可以在不降低信号质量的同时大幅度降低电路功耗,可利用性强。

    RFID标签芯片解调电路
    18.
    发明授权

    公开(公告)号:CN102184441B

    公开(公告)日:2014-04-23

    申请号:CN201110103626.1

    申请日:2011-04-25

    IPC分类号: G06K19/077

    摘要: 本发明公开了一种运用包络检波技术来解调读写器发送的100%ASK调制信号的RFID标签芯片解调电路,它包括用于提取100%ASK包络信号的包络检波单元、用于包络波形整形的波形整形单元、用于不同电压域转换的电平转换单元以及用于控制波形整形单元工作状态的整形控制单元。包络检波单元输出的包络信号VENV连接到波形整形单元作为其输入,波形整形单元的电源由整形控制单元输出电压VCTL提供,波形整形单元输出信号VREC连接到电平转换单元作为其输入,最终在电平转换单元的输出得到解调输出。本发明结构简单、易于实现,消耗功耗很低,适合于无源RFID标签芯片的数据解调;同时,本电路适用于高速数据通信,具有良好的稳定性和抗噪能力。

    一种RFID读写器芯片中测系统及方法

    公开(公告)号:CN103064011A

    公开(公告)日:2013-04-24

    申请号:CN201210583486.7

    申请日:2012-12-27

    IPC分类号: G01R31/3167

    摘要: 本发明公开了一种RFID读写器芯片中测系统及方法,系统包括:包括探针台、中央控制器、上位机、RFID卡和芯片阅读器。方法包括:探针台向中央处理器发出开始测试信号;中央处理器响应探针台发出的开始测试信号,并通过上位机对芯片阅读器发出测试请求;芯片阅读器与RFID卡进行通信测试,并将测试结果和测试结束信号通过上位机反馈给中央控制器;中央处理器处理测试结果并将测试结束信号发送给探针台;探针台显示被测芯片的测试结果。本发明一种RFID读写器芯片中测系统及方法,保证了测试系统的稳定运行,并且能维持各个部件之间通信的高效时序处理,不仅适用于芯片中测过程,同时也适用于芯片封装后的成品测试,具有良好的扩展能力,大大节约研发成本。

    一种用于光照不均匀的二维码二值化方法

    公开(公告)号:CN108509819A

    公开(公告)日:2018-09-07

    申请号:CN201810187385.5

    申请日:2018-03-07

    IPC分类号: G06K7/14

    摘要: 本发明公开了一种用于光照不均匀的二维码二值化方法,其中,所述二维码二值化方法包括:获取二维码图像,并对所述二维码图像进行分块处理,获取分块后的每一小块二维码图像;对所述每一小块二维码图像进行灰度均值和标准差计算,获取所述每一小块二维码图像的灰度均值和标准差;根据所述每一小块二维码图像的灰度均值和标准差确定所述二维码图像二值化算法;根据所述二维码图像二值化算法进行阈值计算,获取计算后的加权阈值;根据所述加权阈值对所述二维码图像进行二值化处理,获取二值化后的二维码图像。在本发明实施过程中,采用本发明的实施方法能在光照不均的情况下,提取二维码图像的前景实现二值化,提高二值化效率和二值化效果。