碳化硅单晶的制造方法及碳化硅单晶基板

    公开(公告)号:CN107002281A

    公开(公告)日:2017-08-01

    申请号:CN201580064424.7

    申请日:2015-12-04

    Abstract: 本发明提供可得到在广范围内确保了螺旋位错减少了的区域的SiC单晶基板的SiC单晶的制造方法、及SiC单晶基板。上述SiC单晶基板通过以下的制造方法而制造:使用在从{0001}面偏离的方位具有偏离角的籽晶,在上述块状的碳化硅单晶生长的晶体端面的晶体周缘部形成晶面{0001}面,并且在进行获得所得的SiC单晶的超过50%的厚度的晶体生长的生长主工序之前,包含与上述生长主工序相比提高氮浓度、以生长气氛压力为3.9kPa以上且39.9kPa以下、籽晶的温度为2100℃以上且低于2300℃进行晶体生长的生长副工序。

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