基于自适应权重和置信度的高光谱图像目标跟踪方法

    公开(公告)号:CN116128925B

    公开(公告)日:2025-03-14

    申请号:CN202310086475.6

    申请日:2023-02-09

    Applicant: 无锡学院

    Abstract: 本发明公开了基于自适应权重和置信度的高光谱图像目标跟踪方法,获得归一化后第一帧、第t帧和相邻帧高光谱图像,再通过主成分分析法对图像降维分别获得三张单波段的灰度图像Z1、Zt和#imgabs0#根据双孪生网络以第一帧和相邻帧为模板图像,第t帧为搜索图像,分别提取它们降维后图像的深度特征,将模板图像与搜索图像的特征俩俩朴素相关,获得初始响应图R1和相邻响应图#imgabs1#采用自适应权重w1和w2将俩个响应图融合获得融合响应图#imgabs2#分别对其进行置信度确定和尺度估计并获得当前帧高光谱图像的跟踪目标,再依据置信度确定来判断是否让第t帧的相邻帧高光谱图像对第t帧高光谱图像进行更新。

    一种双面双结硅基GaAs光电探测器及其制备方法

    公开(公告)号:CN118136712A

    公开(公告)日:2024-06-04

    申请号:CN202410130787.7

    申请日:2024-01-30

    Applicant: 无锡学院

    Abstract: 本发明提供了一种双面双结硅基GaAs光电探测器及其制备方法。本光电探测器包括GaAs衬底,所述GaAs衬底一侧依次外延生长AlxGa1‑xAs应力释放层、GaAs吸收层、AlyGa1‑yAs接触层和叉指电极;所述GaAs衬底另一侧依次外延生长绝缘层和Si薄膜层;所述Si薄膜层上设有凸起的Si脊型波导,所述Si脊型波导顶部形成有p+掺杂型Si区,靠近所述Si脊型波导两侧Si薄膜层表面形成有p++掺杂型Si区;所述p+掺杂型Si区上依次外延生长本征i‑Ge吸收层和n++掺杂型Ge层。本光电探测器无干扰地异质集成硅基锗PIN和GaAs光电探测器;本光电探测器波段宽、探测灵敏度高、体积小,适用广泛。

    基于二维磁性材料的自旋霍尔纳米振荡器

    公开(公告)号:CN116709893A

    公开(公告)日:2023-09-05

    申请号:CN202310658733.3

    申请日:2023-06-05

    Applicant: 无锡学院

    Abstract: 本发明公开了一种基于二维磁性材料的自旋霍尔纳米振荡器,所述自旋霍尔纳米振荡器包含衬底,以及依次形成于衬底之上的非磁性薄膜层和二维磁性材料薄膜层。本发明提供的一种基于二维磁性材料的自旋霍尔纳米振荡器,二维磁性材料与其他磁性材料相比具有可大面积制备,易加工,易堆叠等特点,二维磁性材料薄膜层具有较强的面外磁各向异性,基于二维磁性材料的自旋霍尔纳米振荡器在实现微波振荡的过程中所需的激发电流较低,能够实现更高的微波输出频率。

    基于自适应权重和置信度的高光谱图像目标跟踪方法

    公开(公告)号:CN116128925A

    公开(公告)日:2023-05-16

    申请号:CN202310086475.6

    申请日:2023-02-09

    Applicant: 无锡学院

    Abstract: 本发明公开了基于自适应权重和置信度的高光谱图像目标跟踪方法,获得归一化后第一帧、第t帧和相邻帧高光谱图像,再通过主成分分析法对图像降维分别获得三张单波段的灰度图像Z1、Zt和根据双孪生网络以第一帧和相邻帧为模板图像,第t帧为搜索图像,分别提取它们降维后图像的深度特征,将模板图像与搜索图像的特征俩俩朴素相关,获得初始响应图R1和相邻响应图采用自适应权重w1和w2将俩个响应图融合获得融合响应图分别对其进行置信度确定和尺度估计并获得当前帧高光谱图像的跟踪目标,再依据置信度确定来判断是否让第t帧的相邻帧高光谱图像对第t帧高光谱图像进行更新。

    一种双面双结硅基GaAs光电探测器及其制备方法

    公开(公告)号:CN118136712B

    公开(公告)日:2025-04-29

    申请号:CN202410130787.7

    申请日:2024-01-30

    Applicant: 无锡学院

    Abstract: 本发明提供了一种双面双结硅基GaAs光电探测器及其制备方法。本光电探测器包括GaAs衬底,所述GaAs衬底一侧依次外延生长AlxGa1‑xAs应力释放层、GaAs吸收层、AlyGa1‑yAs接触层和叉指电极;所述GaAs衬底另一侧依次外延生长绝缘层和Si薄膜层;所述Si薄膜层上设有凸起的Si脊型波导,所述Si脊型波导顶部形成有p+掺杂型Si区,靠近所述Si脊型波导两侧Si薄膜层表面形成有p++掺杂型Si区;所述p+掺杂型Si区上依次外延生长本征i‑Ge吸收层和n++掺杂型Ge层。本光电探测器无干扰地异质集成硅基锗PIN和GaAs光电探测器;本光电探测器波段宽、探测灵敏度高、体积小,适用广泛。

    基于光谱差异的高光谱图像序列降维方法

    公开(公告)号:CN116228524B

    公开(公告)日:2023-12-22

    申请号:CN202310113352.7

    申请日:2023-02-14

    Applicant: 无锡学院

    Abstract: 谱图像获得高光谱图像序列降维结果。本发明公开了一种基于光谱差异的高光谱图像序列降维方法,载入的高光谱图像序列中的第1、t帧高光谱图像进行灰度归一化,分别获得归一化后的第1、t帧高光谱图像 并且确定第1帧高光谱图像 中的选定局部区域通过 中每个像素的光谱曲线确定最大、最小光谱曲线Cmax、Cmin;确定 中第i个像素在16个波段上的灰度平均值 通过获得 中第i个像素的去均值光谱曲线Ci;确定光谱差异图 通过 确定第t帧高光谱图像第b个波段第i个像素的量化偏差 通过确定第t帧高光谱图像16个波段的总差异图通过 确定重构总差异图 通过 确定(56)对比文件何高攀;杨桄;孟强强;熊翔.采用NSCT分解和主成分分析的高光谱异常检测.自动化与仪器仪表.2015,(05期),全文.葛亮;王斌;张立明.基于偏最小二乘法的高光谱图像波段选择.计算机辅助设计与图形学学报.2011,(11期),全文.

Patent Agency Ranking