一种测量模式增益系数的实验装置及实验方法

    公开(公告)号:CN118392453A

    公开(公告)日:2024-07-26

    申请号:CN202410480723.X

    申请日:2024-04-22

    Applicant: 无锡学院

    Abstract: 本发明公开了一种测量模式增益系数的实验装置及实验方法,属于光学的技术领域;该实验装置包括泵浦源、激光芯片、平凸透镜、偏光镜、光纤耦合器、光纤及光谱仪。首先泵浦源对激光芯片两端施加能量,泵浦区域等宽但长度分别为L和2L,芯片两侧辐射发光,通过平凸透镜发散、偏光镜选择、平凸透镜聚焦后将两侧光分别收集到光纤耦合器中,再通过光纤传输给光谱仪。通过分析所得到的两侧偏振光谱,获得相应的放大自发辐射强度,将其带入建立的公式,化简即可计算出激光芯片的模式增益系数。本发明提供一种测量模式增益系数的实验装置及实验方法,能够准确测量和分析包括纳米材料在内的各种材料的模式增益系数。

    一种高均匀度超长光斑的条形光源

    公开(公告)号:CN116184744A

    公开(公告)日:2023-05-30

    申请号:CN202310284198.X

    申请日:2023-03-22

    Applicant: 无锡学院

    Abstract: 本发明公开了一种高均匀度超长光斑的条形光源,包括灯珠,准直透镜,镜筒和条纹透镜。本发明基于非成像光学理论,首先在每个灯珠前面加一个准直透镜系统,使用两片非球面透镜将LED的光进行准直。另外将每组准直透镜系统的外围都加上一个镜筒来过滤边缘的杂散光,准直之后用条纹透镜来进行扩束。条纹透镜与上述准直透镜机械结构水平放置呈上下层结构组成线性光源,最后将构造好的透镜结构导入到lighttools软件中进行模拟,并得到本发明透镜的测试效果图。该光源旨在得到一个高均匀度超长线性光斑,使长度方向尽量长,宽度方向尽量短,可以配合线阵相机使用,提高光源光能的利用率。

    一种具有高散热性能的半导体光放大器及其制备方法

    公开(公告)号:CN118572512A

    公开(公告)日:2024-08-30

    申请号:CN202410613303.4

    申请日:2024-05-17

    Applicant: 无锡学院

    Abstract: 本发明公开了一种具有高散热性能的半导体光放大器及其制备方法,包括键合为一体的半导体光放大器芯片和石墨烯基板,其中,所述半导体光放大器芯片的键合面设有若干个均匀分布的凸起微结构,所述石墨烯基板的键合面设有若干个均匀分布的凹槽微结构,所述凸起微结构与所述凹槽微结构互相匹配,所述半导体光放大器芯片的凸起微结构能够嵌入所述石墨烯基板的凹槽微结构内。本发明通过石墨烯粘附能低、表面能高的特点,直接将经过微结构化处理后的石墨烯与半导体光放大器键合。相比于传统的半导体光放大器利用陶瓷基板进行导热,本发明将陶瓷基板替换为导热性更好的石墨烯,且无需其它胶类辅助粘黏,大大提高了散热性能,简化了工序流程。

    基于二维磁性材料的自旋霍尔纳米振荡器

    公开(公告)号:CN116709893A

    公开(公告)日:2023-09-05

    申请号:CN202310658733.3

    申请日:2023-06-05

    Applicant: 无锡学院

    Abstract: 本发明公开了一种基于二维磁性材料的自旋霍尔纳米振荡器,所述自旋霍尔纳米振荡器包含衬底,以及依次形成于衬底之上的非磁性薄膜层和二维磁性材料薄膜层。本发明提供的一种基于二维磁性材料的自旋霍尔纳米振荡器,二维磁性材料与其他磁性材料相比具有可大面积制备,易加工,易堆叠等特点,二维磁性材料薄膜层具有较强的面外磁各向异性,基于二维磁性材料的自旋霍尔纳米振荡器在实现微波振荡的过程中所需的激发电流较低,能够实现更高的微波输出频率。

    一种测量电子空穴复合发光速率的实验方法

    公开(公告)号:CN116482057A

    公开(公告)日:2023-07-25

    申请号:CN202310462499.7

    申请日:2023-04-26

    Applicant: 无锡学院

    Abstract: 本发明公开了一种测量电子空穴复合发光速率的实验方法,该实验方法的装置包括激光芯片(芯片水平两侧端面仅一端镀有增透膜)、平凸透镜、偏光镜、光纤耦合器、光纤及光谱仪。在芯片两侧的同一水平线上依次放置平凸透镜、偏光镜、平凸透镜、光纤耦合器,用光纤连接光纤耦合器与光谱仪。首先对激光芯片施加能量,芯片两侧会辐射发光,通过平凸透镜将两侧光谱分别聚焦到光纤耦合器,再通过光纤传输给光谱仪。通过转动偏光镜可选择不同的偏振光谱,获得横向电场/横向磁场模式下的特定光谱图像,最后将两端光谱数据带入建立的公式,即可计算出激光芯片电子和空穴的复合速率。

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