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公开(公告)号：CN111133302B
公开(公告)日：2022-11-08
申请号：CN201880062049.6
申请日：2018-07-25
申请人： 株式会社岛津制作所
IPC分类号： G01N23/2209
摘要： 一种X射线分光分析装置，具备：激发源，对试样表面的规定照射区域照射用于使特征X射线产生的激发射线；分光晶体，面向照射区域而设置，由平板构成；狭缝，设置于照射区域和分光晶体之间，平行于照射区域及分光晶体的规定的晶面；X射线线性传感器，设置为在平行于狭缝的方向上具有长边的线状的检测元件沿垂直于狭缝的方向排列；能量校准部，通过从激发源对因照射所述激发射线而生成能量已知的2个特征X射线的标准试样的表面照射该激发射线从而测量该2个特征X射线，并基于该测量的2个特征X射线的能量，校准由X射线线性传感器的各个检测元件检测的特征X射线的能量。能够更高精度地求出从测量对象试样发射的特征X射线的能量。
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公开(公告)号：CN111133302A
公开(公告)日：2020-05-08
申请号：CN201880062049.6
申请日：2018-07-25
申请人： 株式会社岛津制作所
IPC分类号： G01N23/2209
摘要： 一种X射线分光分析装置，具备：激发源，对试样表面的规定照射区域照射用于使特征X射线产生的激发射线；分光晶体，面向照射区域而设置，由平板构成；狭缝，设置于照射区域和分光晶体之间，平行于照射区域及分光晶体的规定的晶面；X射线线性传感器，设置为在平行于狭缝的方向上具有长边的线状的检测元件沿垂直于狭缝的方向排列；能量校准部，通过从激发源对因照射所述激发射线而生成能量已知的2个特征X射线的标准试样的表面照射该激发射线从而测量该2个特征X射线，并基于该测量的2个特征X射线的能量，校准由X射线线性传感器的各个检测元件检测的特征X射线的能量。能够更高精度地求出从测量对象试样发射的特征X射线的能量。
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公开(公告)号：CN102473712A
公开(公告)日：2012-05-23
申请号：CN200980160877.4
申请日：2009-08-11
申请人： 株式会社岛津制作所
发明人： 足立晋
IPC分类号： H01L27/146 , G01T1/24 , G09F9/00 , G09F9/30 , H01L21/288 , H01L21/3205 , H01L21/336 , H01L29/786
CPC分类号： H01L27/1292 , G01T1/24 , H01L21/288 , H01L27/1218 , H01L27/14618 , H01L27/14625 , H01L27/14676 , H01L27/3276 , H01L2924/0002 , H01L2924/00
摘要： 根据本发明的光矩阵设备的制造方法，在形成印刷图案的作为基底层的绝缘膜(2)上形成促进被印刷涂布的液滴(7)延伸的延伸促进图案(PS)，因此液滴(7)沿着延伸促进图案(PS)延伸。并且，在印刷图案的末端部以与印刷图案、即延伸促进图案(PS)相交叉的方式将延伸抑制图案(PH)形成在绝缘膜(2)上，因此沿着延伸促进图案(PS)延伸的液滴(7)由于延伸抑制图案(PH)而停止延伸。由此，能够高精确度地进行作为液体的液滴(7)的位置控制。
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公开(公告)号：CN102227810A
公开(公告)日：2011-10-26
申请号：CN200880132161.9
申请日：2008-12-02
申请人： 株式会社岛津制作所
发明人： 足立晋
IPC分类号： H01L27/146 , G01T1/24 , G09F9/00 , H01L21/288 , H01L21/3205 , H01L21/336 , H01L29/786 , H01L51/50 , H05B33/10
CPC分类号： H01L27/14676 , H01L21/288 , H01L27/1292 , H01L51/0022
摘要： 本发明提供一种光矩阵设备的制造方法，根据本发明的光矩阵设备的制造方法，在基板上形成的配线的衬底，以小于通过印刷法涂敷的液滴的宽度的间距，交替平行形成有相对于金属墨液具有疏液性的疏液部和具有亲液性的亲液部，因此，射出的液滴跨多个疏液部，同时沿疏液部的边缘伸长，因此配线的形成精度提高。由此，可以均匀形成配线宽度，形成的配线不会与相邻的配线短路。
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公开(公告)号：CN101480043B
公开(公告)日：2011-02-16
申请号：CN200680055205.3
申请日：2006-07-27
申请人： 株式会社岛津制作所
发明人： 足立晋
CPC分类号： H04N5/32 , A61B6/4233 , H04N5/2176 , H04N5/359 , H04N5/374
摘要： 本发明提供一种光或放射线摄像装置，其具有：从主信号减去第一偏置信号来计算第一运算值的第一运算部(50)、计算第二偏置信号和第一偏置信号的差分即第二运算值的第二运算部(51)、和修正部(52)，所述修正部(52)使用和从该第一运算部(50)的运算中使用的第一偏置信号至主信号为止的期间等长的期间所对应的、通过第二运算部(51)运算的第二运算值，对通过第一运算部(50)运算的第一运算值进行修正。因此，第一运算值被进行的修正是除去由在自第一偏置信号至主信号为止的期间蓄积的电荷信号的漏泄导致的噪声成分。因此，可以使由X射线检测元件(11)蓄积的电荷信号的漏泄(漏泄电流)导致的画质劣化减轻，且可以防止摄像时间延长。
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公开(公告)号：CN101480043A
公开(公告)日：2009-07-08
申请号：CN200680055205.3
申请日：2006-07-27
申请人： 株式会社岛津制作所
发明人： 足立晋
CPC分类号： H04N5/32 , A61B6/4233 , H04N5/2176 , H04N5/359 , H04N5/374
摘要： 本发明提供一种光或放射线摄像装置，其具有：从主信号减去第一偏置信号来计算第一运算值的第一运算部(50)、计算第二偏置信号和第一偏置信号的差分即第二运算值的第二运算部(51)、和修正部(52)，所述修正部(52)使用和从该第一运算部(50)的运算中使用的第一偏置信号至主信号为止的期间等长的期间所对应的、通过第二运算部(51)运算的第二运算值，对通过第一运算部(50)运算的第一运算值进行修正。因此，第一运算值被进行的修正是除去由在自第一偏置信号至主信号为止的期间蓄积的电荷信号的漏泄导致的噪声成分。因此，可以使由X射线检测元件(11)蓄积的电荷信号的漏泄(漏泄电流)导致的画质劣化减轻，且可以防止摄像时间延长。
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公开(公告)号：CN100350879C
公开(公告)日：2007-11-28
申请号：CN200410056356.3
申请日：2004-08-06
申请人： 株式会社岛津制作所
摘要： 通过减法处理(DSA处理)，从活动物体图像和掩蔽图像中获得减影图像。在每一个X射线检测信号中所包括的滞后部分被认为是由于由指数函数所形成的冲激响应所造成的。通过递归计算从每一个X射线检测信号中去除滞后部分，以便获得校正后的X射线检测信号。从这样的校正后的检测信号中获得活动物体图像和掩蔽图像。
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公开(公告)号：CN100337592C
公开(公告)日：2007-09-19
申请号：CN200410056337.0
申请日：2004-08-06
申请人： 株式会社岛津制作所
CPC分类号： G01T1/171 , A61B6/4233 , A61B6/4441 , A61B6/583 , A61B6/587 , Y10S378/901
摘要： 一种放射线照相设备，当从X射线管发出X射线时，该放射线照相设备基于以下假设从取自平板X射线检测器(FPD)的放射线检测信号中除去滞后部分：在每一X射线检测信号中包括的滞后部分是由于由多个具有不同衰减时间常数的指数函数构成的脉冲响应引起的。当临时设置单一衰减时间常数和强度时，检查在X射线发射态之后的X射线非发射态下到X射线检测信号的噪声级的衰减是否发生了。当发现设定的衰减时间常数和强度是适当的(OK)，确定具有单一指数函数的脉冲响应有效。通过利用确定的脉冲响应除去滞后部分，获得校正的放射线检测信号。
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公开(公告)号：CN1924560A
公开(公告)日：2007-03-07
申请号：CN200610126157.4
申请日：2006-08-28
申请人： 株式会社岛津制作所
发明人： 足立晋
CPC分类号： G01T1/2018 , G01T1/244
摘要： 通过气相沉积或印刷来形成包括载流子收集电极、电容器、薄膜晶体管、数据线和栅极线的读出图样的至少一部分。与半导体厚膜相分离地形成读出图样。半导体厚膜和读出图样构成平板X射线检测器(FPD)，被安装在盒中以形成一个单元。通过使用半导体厚膜代替传统的玻璃衬底，实现了重量减轻。按照这种方式制造的FPD在运输和使用期间不受较大的限制。
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公开(公告)号：CN1575755A
公开(公告)日：2005-02-09
申请号：CN200410063348.1
申请日：2004-07-08
申请人： 株式会社岛津制作所
CPC分类号： H04N5/325
摘要： 根据由于由多个具有不同衰减时间常数的指数函数形成的冲激响应引起了包含在每个X射线检测信号中的滞后部分的假设，当X射线管发射X射线时，射线照相设备从得自FPD的辐射检测信号中去除滞后部分。例如，通过使用与在荧光检查图像拾取中使用的X射线剂量和在射线照相图像拾取中使用的X射线剂量相对应的FPD的冲激响应来去除滞后部分。根据从其中去除了滞后部分的已校正辐射检测信号来创建X射线图像。
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