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公开(公告)号：CN113155876A
公开(公告)日：2021-07-23
申请号：CN202110373638.X
申请日：2016-12-08
申请人： 株式会社岛津制作所
IPC分类号： G01N23/207
摘要： 本发明涉及一种元素分析方法。所述方法包括：利用激发束来照射预定照射区域以生成特征X射线；使特征X射线部分地经过狭缝；使通过所述狭缝的X射线进入平板状分光晶体以基于布拉格反射定律而选择性地被反射；检测X射线的强度来获得波长谱；以及基于波长谱中的峰的能量来识别试样中的元素和/或基于峰的强度来确定所述元素的量。
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公开(公告)号：CN106855523A
公开(公告)日：2017-06-16
申请号：CN201611123986.7
申请日：2016-12-08
申请人： 株式会社岛津制作所
IPC分类号： G01N23/223
CPC分类号： G01N23/2076 , G01N2223/0563 , G01N23/223 , G01N2223/079 , G01N2223/1016 , G01N2223/102
摘要： 本发明的目的是提供一种X射线分光分析设备和元素分析方法，该X射线分光分析设备可通过分光法以高灵敏度测量液体和粉末等的组成与位置无关地呈均匀的试样的组成。X射线分光分析设备包括：激发源，其利用激发束照射试样表面的预定照射区域以生成特征X射线；分光晶体，其面向照射区域；狭缝，其设置在照射区域和分光晶体之间，狭缝与照射区域和分光晶体的预定晶面平行；X射线线性传感器，其包括沿与狭缝垂直的方向排列的线状检测元件，检测元件各自具有与狭缝平行的方向上的长度。通过针对各波长检测来自照射区域的不同线状区域的特征X射线，可进行灵敏度比利用激发束照射点状照射区域的传统X射线分光分析设备的灵敏度高的分析。
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公开(公告)号：CN100385922C
公开(公告)日：2008-04-30
申请号：CN200510062956.5
申请日：2005-03-31
申请人： 株式会社岛津制作所
摘要： 在根据本发明的射线照相装置中，当射线照相模式指定器16指定一种非标准射线照相模式时，信号纠正器15利用存储在非标准图像缺陷信息存储器18B-18E中的缺陷信息纠正从FPD 2输出的X-射线检测信号。由于非标准X-射线的像素缺陷信息是通过像素缺陷信息转换器19从存储在标准图像缺陷信息存储器18A中的标准X-射线图像的缺陷信息转换获得的，所以，不需要再次从FPD 2收集用于像素缺陷信息获得的输出信号。结果，可以不管射线检测元件是如何分配给X-射线图像中的像素的，迅速地纠正由于射线检测元件的缺陷造成的异常X-射线检测信号。
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公开(公告)号：CN1678036A
公开(公告)日：2005-10-05
申请号：CN200510062956.5
申请日：2005-03-31
申请人： 株式会社岛津制作所
摘要： 在根据本发明的射线照相装置中，当射线照相模式指定器16指定一种非标准射线照相模式时，信号纠正器15利用存储在非标准图像缺陷信息存储器18B－18E中的缺陷信息纠正从FPD 2输出的X－射线检测信号。由于非标准X－射线的像素缺陷信息是通过像素缺陷信息转换器19从存储在标准图像缺陷信息存储器18A中的标准X－射线图像的缺陷信息转换获得的，所以，不需要再次从FPD 2收集用于像素缺陷信息获得的输出信号。结果，可以不管射线检测元件是如何分配给X－射线图像中的像素的，迅速地纠正由于射线检测元件的缺陷造成的异常X－射线检测信号。
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公开(公告)号：CN107427271A
公开(公告)日：2017-12-01
申请号：CN201680021003.0
申请日：2016-03-01
申请人： 株式会社岛津制作所
IPC分类号： A61B6/00
摘要： 在实施例1所涉及的X射线摄影装置(1)中，X射线检测器(5)具有利用格子状的遮光壁划分闪烁体元件的结构。向X射线检测器(5)入射的X射线中的向遮光壁入射的X射线不被转换为闪烁光而透过X射线检测器(5)。因而，通过向利用格子状的遮光壁划分闪烁体元件所得到的X射线检测器(5)入射X射线，能够与使该X射线通过检测掩膜的情况同样地将透过了被检体(M)的X射线(3a)向X射线检测器(5)入射的区域进一步限制在任意的范围内。因而，能够在EI-XPCi中使用的X射线摄影装置(1)中省略检测掩膜，因此能够降低X射线摄影装置(1)的制造成本。
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公开(公告)号：CN1307942C
公开(公告)日：2007-04-04
申请号：CN200410063348.1
申请日：2004-07-08
申请人： 株式会社岛津制作所
CPC分类号： H04N5/325
摘要： 根据由于由多个具有不同衰减时间常数的指数函数形成的冲激响应引起了包含在每个X射线检测信号中的滞后部分的假设，当X射线管发射X射线时，射线照相设备从得自FPD的辐射检测信号中去除滞后部分。例如，通过使用与在荧光检查图像拾取中使用的X射线剂量和在射线照相图像拾取中使用的X射线剂量相对应的FPD的冲激响应来去除滞后部分。根据从其中去除了滞后部分的已校正辐射检测信号来创建X射线图像。
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公开(公告)号：CN1579329A
公开(公告)日：2005-02-16
申请号：CN200410056337.0
申请日：2004-08-06
申请人： 株式会社岛津制作所
CPC分类号： G01T1/171 , A61B6/4233 , A61B6/4441 , A61B6/583 , A61B6/587 , Y10S378/901
摘要： 一种放射线照相设备，当从X射线管发出X射线时，该放射线照相设备基于以下假设从取自平板X射线检测器(FPD)的放射线检测信号中除去滞后部分：在每一X射线检测信号中包括的滞后部分是由于由多个具有不同衰减时间常数的指数函数构成的脉冲响应引起的。当临时设置单一衰减时间常数和强度时，检查在X射线发射态之后的X射线非发射态下到X射线检测信号的噪声级的衰减是否发生了。当发现设定的衰减时间常数和强度是适当的(OK)，确定具有单一指数函数的脉冲响应有效。通过利用确定的脉冲响应除去滞后部分，获得校正的放射线检测信号。
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公开(公告)号：CN113155876B
公开(公告)日：2024-02-09
申请号：CN202110373638.X
申请日：2016-12-08
申请人： 株式会社岛津制作所
IPC分类号： G01N23/207
摘要： 本发明涉及一种元素分析方法。所述方法包括：利用激发束来照射预定照射区域以生成特征X射线；使特征X射线部分地经过狭缝；使通过所述狭缝的X射线进入平板状分光晶体以基于布拉格反射定律而选择性地被反射；检测X射线的强度来获得波长谱；以及基于波长谱中的峰的能量来识别试样中的元素和/或基于峰的强度来确定所述元素的量。
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公开(公告)号：CN107427271B
公开(公告)日：2020-10-02
申请号：CN201680021003.0
申请日：2016-03-01
申请人： 株式会社岛津制作所
IPC分类号： A61B6/00
摘要： 在实施例1所涉及的X射线摄影装置(1)中，X射线检测器(5)具有利用格子状的遮光壁划分闪烁体元件的结构。向X射线检测器(5)入射的X射线中的向遮光壁入射的X射线不被转换为闪烁光而透过X射线检测器(5)。因而，通过向利用格子状的遮光壁划分闪烁体元件所得到的X射线检测器(5)入射X射线，能够与使该X射线通过检测掩膜的情况同样地将透过了被检体(M)的X射线(3a)向X射线检测器(5)入射的区域进一步限制在任意的范围内。因而，能够在EI‑XPCi中使用的X射线摄影装置(1)中省略检测掩膜，因此能够降低X射线摄影装置(1)的制造成本。
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公开(公告)号：CN107407735A
公开(公告)日：2017-11-28
申请号：CN201680014450.3
申请日：2016-01-26
申请人： 株式会社岛津制作所
CPC分类号： G01T1/2006 , A61B6/4241 , G01T1/20 , G01T1/2018 , H01L27/14629 , H01L27/14634 , H01L27/14638
摘要： 提供一种能够进行可诊断性高的双能拍摄的、X射线敏感度更高的X射线检测器。X射线检测器(1)包括：闪烁体元件(15)，其由遮光壁(17)划分，将低能量的X射线转换成光；以及闪烁体元件(19)，其由遮光壁(21)划分，将高能量的X射线转换成光。从X射线的入射方向来看，遮光壁(17)的位置图案与遮光壁(21)的位置图案构成为未对齐。因此，入射到X射线检测器(1)的X射线被至少任意一方的闪烁体元件转换成光，最终作为X射线检测信号输出。即，即使在X射线检测器(1)中形成有遮光壁的情况下，无法检测到X射线的区域也不再存在。因而，能够利用遮光壁提高X射线图像的分辨率，并且能够提高X射线检测器的X射线敏感度。
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