调试屏障事务
    11.
    发明公开

    公开(公告)号:CN103176926A

    公开(公告)日:2013-06-26

    申请号:CN201210279539.6

    申请日:2012-08-03

    申请人: ARM有限公司

    IPC分类号: G06F13/16

    CPC分类号: G01R31/31705

    摘要: 公开了调试屏障事务。集成电路2包括一个或多个事务主装置8、10、12、4用于经由互连电路20发出数据事务。调试访问端口电路被配置为响应于从调试控制器6接收的调试命令来生成被发出到互连电路的屏障事务。当数据事务经过互连电路时,互连电路通过限制至少某些数据事务的相对排序来响应于所接收的屏障事务。

    主板测试系统及测试方法
    13.
    发明公开

    公开(公告)号:CN101324860A

    公开(公告)日:2008-12-17

    申请号:CN200710200822.4

    申请日:2007-06-14

    IPC分类号: G06F11/267

    CPC分类号: G06F11/2733 G01R31/31705

    摘要: 一种主板测试系统,用以测试一待测主板,其包括一服务器、一与所述服务器相连且用于查询测试结果的客户端计算机、一插接于所述主板上用于获取所述主板所发送的测试码的诊断卡及一与所述服务器相连用于接收所述诊断卡所获取的测试码并将其传送至所述服务器的接收设备,所述服务器对所述测试码进行整理与分析并产生测试结果。本发明中服务器可以得到在主板进入操作系统之前的测试数据,这样即便主板在进入操作系统之前死机,服务器仍然可以得知主板死机原因,提升了主板设计品质。而且该系统对测试结果进行统计分析,有助于测试人员进行原因分析。

    集成电路内诊断数据的捕获

    公开(公告)号:CN100409199C

    公开(公告)日:2008-08-06

    申请号:CN03826316.5

    申请日:2003-09-17

    申请人: ARM有限公司

    IPC分类号: G06F11/34 G06F11/36

    CPC分类号: G01R31/31705

    摘要: 一种集成电路装备有采取诊断数据捕获电路形式的诊断数据捕获和输出系统,所述诊断数据捕获和输出系统从总线捕获数据字和环境字。所述总线可以是连接集成电路内功能电路的功能总线或者是专用总线,直接把一个或多个功能电路链接到诊断数据捕获电路。捕获的诊断数据在先进先出缓冲区内缓冲,然后串行化以便输出。所述诊断数据字段还包括时间值,指示所关心的诊断数据字段被捕获的时间和是否有任何诊断数据字段没有被捕获。

    集成电路和集成电路封装
    15.
    发明公开

    公开(公告)号:CN101052960A

    公开(公告)日:2007-10-10

    申请号:CN200580037526.6

    申请日:2005-10-28

    IPC分类号: G06F15/78 G06F11/28 G06F11/30

    CPC分类号: G01R31/31705

    摘要: 本发明的集成电路包括监视对象电路部(1200)、和取得监视对象电路部(1200)的信号线上的信号向外部设备(2000)无线发送的调试电路部(1100),调试电路部(1100)具有:设定部(1200),在监视监视对象电路部(1200)时,设定隔离部(1300)使调试电路部(1100)和监视对象电路部(1200)电连接,并设定选择器(1130)以选择成为监视对象的信号线(1131);及无线发送部(1140),取得由选择器(1130)选择出的信号线的信号向外部设备(2000)无线发送。

    集成电路内诊断数据的捕获

    公开(公告)号:CN1764903A

    公开(公告)日:2006-04-26

    申请号:CN03826316.5

    申请日:2003-09-17

    申请人: ARM有限公司

    IPC分类号: G06F11/34 G06F11/36

    CPC分类号: G01R31/31705

    摘要: 一种集成电路装备有采取诊断数据捕获电路形式的诊断数据捕获和输出系统,所述诊断数据捕获和输出系统从总线捕获数据字和环境字。所述总线可以是连接集成电路内功能电路的功能总线或者是专用总线,直接把一个或多个功能电路链接到诊断数据捕获电路。捕获的诊断数据在先进先出缓冲区内缓冲,然后串行化以便输出。所述诊断数据字段还包括时间值,指示所关心的诊断数据字段被捕获的时间和是否有任何诊断数据字段没有被捕获。

    调试电路
    17.
    发明公开

    公开(公告)号:CN1598608A

    公开(公告)日:2005-03-23

    申请号:CN200410079702.X

    申请日:2004-09-17

    CPC分类号: G06F11/24 G01R31/31705

    摘要: 本发明提供一种调试电路,在变换块(140)中,把由选择块(120)输出的异常的原因解析中认为有效的多个内部信号,用从时间生成块(130)输出的信号进行栓锁,并变换为串行数据输出到输出块(150),因此,可以用少量的外部管脚观测LSI内部的多个信号,可以迅速并且可靠地执行LSI的动作异常的解析。