检查系统和方法
    21.
    发明公开

    公开(公告)号:CN115097535A

    公开(公告)日:2022-09-23

    申请号:CN202110769036.6

    申请日:2021-07-07

    Abstract: 本发明涉及检查系统和方法。公开了一种检查系统,包括:射线源,能够围绕旋转轴线在至少两个扫描位置之间转动,射线源在相邻两个扫描位置之间的转动角度大于每个射线源的相邻靶点相对于旋转轴线的角度;探测器组件;和输送装置,用于承载被检查的物体。射线源和探测器组件能够相对于输送装置沿行进方向移动,从而被检查的物体能够进入检查区域。当射线源位于多个扫描位置中的一个时,射线源和探测器组件相对于输送装置沿行进方向移动并且射线源发射X射线;当射线源和探测器组件相对于输送装置沿行进方向移动预定距离后,射线源围绕旋转轴线转动到多个扫描位置中的另一个。

    一种X射线的检测系统和检测方法

    公开(公告)号:CN110907481A

    公开(公告)日:2020-03-24

    申请号:CN201811086635.2

    申请日:2018-09-18

    Abstract: 本发明实施例公开了一种X射线的检测系统和检测方法,检测系统包括:光源发生器、第一探测器、第二探测器、准直器和处理器;第一探测器和第二探测器在待探测物体的传动方向上交替排布;光源发生器,用于发射多列光束信号,每列光束信号包括多条光束信号;第一探测器,用于接收透过待探测物体后的多列透射光束信号;准直器,用于对透过待探测物体后的多列散射光束信号进行特异性选择;第二探测器,用于接收经准直设备选择后的散射光束信号;处理器,用于依据多列透射光束信号和选择后的散射光束信号,确定待探测物体的检测结果。

    多模态检测系统和方法
    23.
    发明授权

    公开(公告)号:CN106896120B

    公开(公告)日:2019-07-16

    申请号:CN201510958891.6

    申请日:2015-12-18

    Abstract: 本发明涉及多模态检测系统和方法。多模态检测系统包括:分布式射线源,该分布式射线源照射受检物;前准直器,该前准直器将分布式射线源的射线分成两部分,其中一部分用于XRD检测,另一部分用于CT检测;CT检测设备,该CT检测设备进行CT检测以获取受检物的CT图像;XRD检测设备,该XRD检测设备进行XRD检测以获取受检物的XRD图像,其中,CT检测与XRD检测同时进行。根据本发明的多模态检测系统和方法,CT检测设备和XRD检测设备可以共用一套分布式射线源,能够同时进行CT检测和XRD检测。

    液体检测方法和系统
    26.
    发明公开

    公开(公告)号:CN107345925A

    公开(公告)日:2017-11-14

    申请号:CN201610294907.2

    申请日:2016-05-05

    Abstract: 公开了一种液体检测方法和系统。根据本发明实施例的液体检测方法,包括:对液体物质同时进行CT扫描以及XRD扫描,以获取液体物质的CT数据和XRD能谱数据;根据液体物质的CT数据和XRD能谱数据,提取液体物质的分子干涉函数;以及利用液体物质的分子干涉函数以及CT数据,识别液体物质。根据本发明实施例的液体检测方法和系统可以得到液体物质的信噪比更高、有效范围更大的分子干涉函数,从而可以对更广泛范围的液体物质进行识别。

    X射线成像系统和方法
    27.
    发明公开

    公开(公告)号:CN106153646A

    公开(公告)日:2016-11-23

    申请号:CN201510162334.3

    申请日:2015-04-08

    CPC classification number: G01N23/046 G01N23/041 G01N2223/1016 G01N2223/419

    Abstract: 公开了一种X射线成像系统和方法。该系统包括:X射线源,发出X射线束;沿着X射线的发射方向依次设置的第一光栅和第二光栅;探测器,设置在X射线发射方向上第二光栅的下游;控制和数据处理装置,用于控制X射线源发出X射线,控制所述探测器接收经过第一光栅和第二光栅的X射线,产生相衬信息和/或暗场信息,并且基于所述相衬信息和/或暗场信息对被检查物体进行CT检查,获得CT图像。利用上述技术方案,能够得到被检查物体的更多的特征信息,从而允许做出更准确的物质识别及安检性能。

    用于射线检查的成像系统和方法

    公开(公告)号:CN115105110B

    公开(公告)日:2024-11-08

    申请号:CN202111204463.6

    申请日:2021-10-15

    Abstract: 本发明涉及用于射线检查的成像系统和方法。一种用于射线检查的成像系统包括:检查区域,包括成像区域;第一射线源组件,其所有第一靶点布置在第一射线源平面内;第一探测器组件,其多个第一探测器单元布置在探测器平面内,探测器平面与第一射线源平面沿被检查对象的行进方向间隔开预定距离;和射线源控制装置,其构造成当被检查对象的感兴趣区域至少部分地位于成像区域中时,使得第一射线源组件在同一时刻从至少两个第一靶点同时向成像区域发射X射线,在第一射线源组件的同时向成像区域发射X射线的至少两个第一靶点中,每个第一靶点的射线发射范围都能够覆盖成像区域,并且任两个第一靶点的射线发射范围对应的第一探测器晶体互相不重合。

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