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公开(公告)号：CN109870735B
公开(公告)日：2024-07-09
申请号：CN201811654147.7
申请日：2018-12-29
申请人： 同方威视技术股份有限公司 , 清华大学
摘要： 本公开提供一种毫米波/太赫兹波安检仪及其反射板扫描驱动装置，反射板扫描驱动装置包括反射板，反射板的周向外缘间隔设有至少一个软磁体；支撑杆，其与反射板铰接，并适用于支承反射板；至少一个电磁致动器，其与至少一个软磁体的位置呈一一对应关系，每个电磁致动器包括至少一个致动单元，致动单元包括至少两个电磁体，至少两个电磁体在垂直于反射板的平面内彼此间隔设置，通过改变至少两个电磁体的绕组的电流，以改变对软磁体的吸引力，进而带动反射板在两个电磁体之间摆动。通过控制两个电磁体的绕组的电流即可控制反射板的运动，以使得采用该反射板扫描驱动装置的毫米波/太赫兹波安检仪可以灵活地调节扫描区域的形状和大小。
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公开(公告)号：CN109444977B
公开(公告)日：2024-04-05
申请号：CN201811654169.3
申请日：2018-12-29
申请人： 清华大学 , 同方威视技术股份有限公司
IPC分类号： G01V8/10
摘要： 公开了一种毫米波/太赫兹波成像设备及对人体或物品的检测方法，包括准光学组件和毫米波/太赫兹波探测器阵列，准光学组件适用于将第一被检对象和第二被检对象自发辐射或反射回来的毫米波/太赫兹波反射并汇聚至毫米波/太赫兹波探测器阵列，并包括反射板，第一被检对象和第二被检对象分别位于反射板的相对侧处，反射板能够绕水平轴线转动以分别接收并反射来自第一被检对象位于第一视场不同竖直位置的部分的波束和第二被检对象位于第二视场不同竖直位置的部分的波束；毫米波/太赫兹波探测器阵列适用于接收来自准光学组件的波束。该成像设备通过对位于反射板相对侧处的两个被检对象同时进行成像，因而提高了检测效率且控制简单、成本低。
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公开(公告)号：CN109828241B
公开(公告)日：2024-01-26
申请号：CN201811654199.4
申请日：2018-12-29
申请人： 清华大学 , 同方威视技术股份有限公司
摘要： 一种用于主动式微波毫米波安检设备的电磁成像装置，包括：二维多发多收收发阵列面板，其包括至少一个子阵列，其中每个阵列包括线性排列的多个发射天线和线性排列的多个接收天线，所述线性排列的多个发射天线和所述线性排列的多个接收天线相交；信号处理装置；显示装置；以及测距雷达。在每个子阵列中，每个发射天线和相应一个接收天线的连线的中点被看作这对发射天线‑接收天线的虚拟的等效相位中心，多个发射天线和多个接收天线被设置为产生等效相位中心网；相邻的发射天线或相邻的接收天线之间的距离为特定频率的电磁波的一个波长，在所产生的等效相位中心网中，相邻的等效相位中心之间的距离在特定频率的电磁波的波长的
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公开(公告)号：CN109870739A
公开(公告)日：2019-06-11
申请号：CN201811654181.4
申请日：2018-12-29
申请人： 清华大学 , 同方威视技术股份有限公司
IPC分类号： G01V8/10
摘要： 公开了一种毫米波/太赫兹波成像设备，包括准光学组件、探测器阵列和反射板调节装置，准光学组件用于将被检对象自发辐射或反射回来的波束反射并汇聚至探测器阵列，并包括多个适于接收并反射来自被检对象的波束的反射板，多棱锥体转镜的每个侧面分别设置有反射板，且多个所述反射板与所述多棱锥体转镜的转轴的角度是不同的，以使得当多棱锥体转镜旋转以对位于视场不同水平位置的部分的波束进行反射时，多个反射板分别对被检对象位于视场不同竖直位置的部分自发辐射或反射回来的波束进行反射，从而对整个视场全面反射，采样点在整个视场分布均匀，插值方便。
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公开(公告)号：CN109870738A
公开(公告)日：2019-06-11
申请号：CN201811654174.4
申请日：2018-12-29
申请人： 清华大学 , 同方威视技术股份有限公司
摘要： 公开了一种毫米波/太赫兹波成像设备及其校正方法，包括壳体、数据处理装置以及位于壳体内的校准源、准光学组件和探测器阵列，壳体上设置有供被检对象自发辐射或反射回来的波束穿过的窗口；准光学组件用于将来自被检对象的波束反射并汇聚至探测器阵列，并包括反射板，其与壳体可转动地连接以对来自被检对象位于视场不同位置的部分的波束进行反射；校准源在准光学组件的物面上；探测器阵列适用于接收来自准光学组件的波束和来自校准源的波束；数据处理装置接收探测器阵列所接收的被检对象的图像数据和校准源的校准数据，并基于校准数据更新图像数据。该成像设备比采用远处的空气进行校正更加稳定可靠且能够实时校正。
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公开(公告)号：CN109725364A
公开(公告)日：2019-05-07
申请号：CN201811654150.9
申请日：2018-12-29
申请人： 同方威视技术股份有限公司 , 清华大学
IPC分类号： G01V8/10
摘要： 本公开提供了一种毫米波/太赫兹波成像设备及人体或物品检测方法，其包括：准光学组件，其适用于将被检对象自发辐射或反射回来的毫米波/太赫兹波反射并汇聚至毫米波/太赫兹波探测器阵列，并包括适用于接收并反射来自被检对象的波束的反射板；毫米波/太赫兹波探测器阵列，其适用于接收来自准光学组件的波束；以及反射板调节装置，其适用于调节反射板的运动，以使得对视场形成的扫描轨迹包络为类圆形或类椭圆形，并包括旋转机构和俯仰摆动机构。通过将扫描轨迹包络为类圆形或类椭圆形，使得采样密集点集中在全视场中间，且在视场的大部分区域，采样点分布均匀。
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公开(公告)号：CN109444975A
公开(公告)日：2019-03-08
申请号：CN201811654148.1
申请日：2018-12-29
申请人： 清华大学 , 同方威视技术股份有限公司
IPC分类号： G01V8/10
摘要： 本公开提供一种毫米波/太赫兹波成像设备，包括准光学组件和毫米波/太赫兹波探测器阵列，其中准光学组件适用于将被检对象自发辐射或反射回来的毫米波/太赫兹波反射并汇聚至其中毫米波/太赫兹波探测器阵列，其中准光学组件包括多棱柱体转镜和转轴，其中多棱柱体转镜能够绕其中转轴旋转，其中转轴与其中水平面的角度为30°至60°，其中多棱柱体转镜的每个侧面分别设置有反射板，且多个其中反射板与其中转轴之间的角度是不同的。该毫米波/太赫兹波成像设备，通过驱动多棱柱体转镜绕转轴旋转，以带动多个反射板同时转动，以对视场的水平方向进行扫描，由于多个反射板与转轴的角度是不同的，从而可以实现像素差值，因此能够降低探测器的数目，且控制简单。
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公开(公告)号：CN109633776A
公开(公告)日：2019-04-16
申请号：CN201811654172.5
申请日：2018-12-29
申请人： 同方威视技术股份有限公司
摘要： 本公开提供一种毫米波/太赫兹波成像设备及人体或物品检测方法，包括准光学组件、探测器阵列和反射板调节装置，准光学组件用于将被检对象自发辐射或反射回来的波束反射并汇聚至探测器阵列，并包括多个适于接收并反射来自被检对象的波束的反射板，多个反射板与被检对象所在视场法向之间角度是不同的，且多个反射板与水平面之间角度是不同的；探测器阵列用于接收来自准光学组件的波束；反射板调节装置包括旋转机构，用于驱动多个反射板在水平方向旋转运动，以使得多个反射板依次对被检对象位于视场不同竖直位置部分自发辐射或反射回来的波束进行反射，从而对视场全面反射，采样密集点集中在视场中间，在视场的大部分区域，采样点分布均匀，插值方便。
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公开(公告)号：CN109633776B
公开(公告)日：2024-03-12
申请号：CN201811654172.5
申请日：2018-12-29
申请人： 同方威视技术股份有限公司
摘要： 本公开提供一种毫米波/太赫兹波成像设备及人体或物品检测方法，包括准光学组件、探测器阵列和反射板调节装置，准光学组件用于将被检对象自发辐射或反射回来的波束反射并汇聚至探测器阵列，并包括多个适于接收并反射来自被检对象的波束的反射板，多个反射板与被检对象所在视场法向之间角度是不同的，且多个反射板与水平面之间角度是不同的；探测器阵列用于接收来自准光学组件的波束；反射板调节装置包括旋转机构，用于驱动多个反射板在水平方向旋转运动，以使得多个反射板依次对被检对象位于视场不同竖直位置部分自发辐射或反射回来的波束进行反射，从而对视场全面反射，采样密集点集中在视场中间，在视场的大部分区域，采样点分布均匀，插值方便。
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公开(公告)号：CN109471197A
公开(公告)日：2019-03-15
申请号：CN201811654207.5
申请日：2018-12-29
申请人： 同方威视技术股份有限公司
摘要： 本公开提供了一种安检设备及其控制方法，所示安检设备包括：设备本体，所述设备本体上设置有检测空间，所述检测空间用于容纳待测物品；二维(2D)多发多收(MIMO)装置，设置在所述检测空间中，用于向待测物品发送检测信号，并接收来自待测物品的回波信号；处理器，与所述2D MIMO装置相连，用于根据接收到的回波信号来重建待测物品的图像。本公开的实施例能够以更高的准确性重建待测物品的图像，从而提高检测准确性和检测效率。
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