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公开(公告)号：CN109444978A
公开(公告)日：2019-03-08
申请号：CN201811654175.9
申请日：2018-12-29
申请人： 清华大学 , 同方威视技术股份有限公司
IPC分类号： G01V8/10
摘要： 公开了一种毫米波/太赫兹波成像设备及对人体或物品的检测方法，该成像设备包括准光学组件和毫米波/太赫兹波探测器阵列，准光学组件适用于将n个被检对象自发辐射或反射回来的波束分别反射并汇聚至毫米波/太赫兹波探测器阵列，其中，n大于等于2，准光学组件包括反射板，n个被检对象围绕反射板间隔设置，且反射板能够绕竖直轴线转动以分别接收并反射来自n个被检对象位于视场不同水平位置的部分的波束；以及毫米波/太赫兹波探测器阵列适用于接收来自准光学组件的波束。该成像设备能够对位于反射板的周向不同位置处的n个被检对象进行成像，因而提高了检测效率，且控制简单、成本低。
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公开(公告)号：CN107728222A
公开(公告)日：2018-02-23
申请号：CN201710778390.9
申请日：2017-09-01
申请人： 清华大学 , 同方威视技术股份有限公司
IPC分类号： G01V8/10
摘要： 本发明公开了属于安检设备及图像处理技术领域的一种主动式太赫兹安检成像方法及系统。该安检成像系统由数据采集与处理系统分别与太赫兹发射装置、太赫兹线阵探测器和带状波束扫描控制单元相连，分束器分别连接波束整形光学组件、太赫兹线阵探测器和太赫兹聚焦光学组件，带状波束扫描控制单元和被测目标组成。该方法采用以太赫兹源主动发射太赫兹辐射、带状聚焦波束一维扫描、线性阵列太赫兹探测器接收的模式，快速完成整个目标平面的照射与扫描，达到对目标快速成像和检查的目的；本发明采用主动式太赫兹安检成像系统提高了成像质量。采用一维扫描方式大大节省了成像时间。采用阵列探测器，简化电路系统结构，降低系统成本，减少经费开支。
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公开(公告)号：CN109494293B
公开(公告)日：2024-09-13
申请号：CN201811631501.4
申请日：2018-12-28
申请人： 同方威视技术股份有限公司 , 清华大学
摘要： 公开了一种太赫兹探测器及其制造方法，该太赫兹探测器包括基底；以及至少一个探测单元，每个所述探测单元均包括：沟道材料，所述沟道材料设置在所述基底上，两个电极，两个所述电极分别与所述沟道材料的纵向方向的两端欧姆接触，和三维石墨烯，所述三维石墨烯与所述沟道材料直接或间接地热接触。本公开所提出的探测器通过将三维石墨烯作为吸收体，解决了沟道材料对太赫兹波吸收不足的问题，从而有效地提高了探测器的响应灵敏度。
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公开(公告)号：CN109444975B
公开(公告)日：2024-06-11
申请号：CN201811654148.1
申请日：2018-12-29
申请人： 清华大学 , 同方威视技术股份有限公司
IPC分类号： G01V8/10
摘要： 本公开提供一种毫米波/太赫兹波成像设备，包括准光学组件和毫米波/太赫兹波探测器阵列，其中准光学组件适用于将被检对象自发辐射或反射回来的毫米波/太赫兹波反射并汇聚至其中毫米波/太赫兹波探测器阵列，其中准光学组件包括多棱柱体转镜和转轴，其中多棱柱体转镜能够绕其中转轴旋转，其中转轴与其中水平面的角度为30°至60°，其中多棱柱体转镜的每个侧面分别设置有反射板，且多个其中反射板与其中转轴之间的角度是不同的。该毫米波/太赫兹波成像设备，通过驱动多棱柱体转镜绕转轴旋转，以带动多个反射板同时转动，以对视场的水平方向进行扫描，由于多个反射板与转轴的角度是不同的，从而可以实现像素差值，因此能够降低探测器的数目，且控制简单。
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公开(公告)号：CN109444968B
公开(公告)日：2024-06-11
申请号：CN201811653597.4
申请日：2018-12-29
申请人： 清华大学 , 同方威视技术股份有限公司
摘要： 本公开提供了一种安检设备及其控制方法。所述安检设备包括：底板，用于承载被检对象；二维多发多收收发阵列面板，设置在所述底板上并且与所述底板平行，所述二维多发多收收发阵列面板包括：至少一个二维多发多收收发子阵列，每个二维多发多收收发子阵列包括多个发射天线和多个接收天线，所述多个发射天线和所述多个接收天线被布置为使得等效相位中心排列成二维阵列；以及控制电路，用于控制所述多个发射天线按照预设顺序向被检对象发射电磁波形式的检测信号，以及控制所述多个接收天线接收来自被检对象的回波信号；信号处理装置，用于根据接收到的回波信号来重建被检对象的图像；以及显示装置，用于显示所重建的被检对象的图像。
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公开(公告)号：CN109725364B
公开(公告)日：2024-02-09
申请号：CN201811654150.9
申请日：2018-12-29
申请人： 同方威视技术股份有限公司 , 清华大学
IPC分类号： G01V8/10
摘要： 本公开提供了一种毫米波/太赫兹波成像设备及人体或物品检测方法，其包括：准光学组件，其适用于将被检对象自发辐射或反射回来的毫米波/太赫兹波反射并汇聚至毫米波/太赫兹波探测器阵列，并包括适用于接收并反射来自被检对象的波束的反射板；毫米波/太赫兹波探测器阵列，其适用于接收来自准光学组件的波束；以及反射板调节装置，其适用于调节反射板的运动，以使得对视场形成的扫描轨迹包络为类圆形或类椭圆形，并包括旋转机构和俯仰摆动机构。通过将扫描轨迹包络为类圆形或类椭圆形，使得采样密集点集中在全视场中间，且在视场的大部分区域，采样点分布均匀。
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公开(公告)号：CN109444978B
公开(公告)日：2024-02-02
申请号：CN201811654175.9
申请日：2018-12-29
申请人： 清华大学 , 同方威视技术股份有限公司
IPC分类号： G01V8/10
摘要： 公开了一种毫米波/太赫兹波成像设备及对人体或物品的检测方法，该成像设备包括准光学组件和毫米波/太赫兹波探测器阵列，准光学组件适用于将n个被检对象自发辐射或反射回来的波束分别反射并汇聚至毫米波/太赫兹波探测器阵列，其中，n大于等于2，准光学组件包括反射板，n个被检对象围绕反射板间隔设置，且反射板能够绕竖直轴线转动以分别接收并反射来自n个被检对象位于视场不同水平位置的部分的波束；以及毫米波/太赫兹波探测器阵列适用于接收来自准光学组件的波束。该成像设备能够对位于反射板的周向不同位置处的n个被检对象进行成像，因而提高了检测效率，且控制简单、成本低。
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公开(公告)号：CN109633775B
公开(公告)日：2024-01-26
申请号：CN201811654159.X
申请日：2018-12-29
申请人： 同方威视技术股份有限公司 , 清华大学
摘要： 公开了一种毫米波/太赫兹波成像设备及对人体或物品的检测方法，包括准光学组件，包括多面体转镜和第三反射板，多面体转镜能够绕其转动轴线转动，以使得多面体转镜上的多个反射板轮流用作第一反射板接收并反射来自第一被检对象的毫米波/太赫兹波波束；多个反射板中的与第一反射板相邻的另一反射板用作第二反射板接收并反射来自第二被检对象的毫米波/太赫兹波波束；斩波器，被配置成在任一时刻仅来自第一反射板或第三反射板反射的来自第二反射板的波束入射到探测器阵列，斩波器绕其中心轴线转动以使来自第一反射板和第三反射板的波束交替地由探测器阵列接收。该设备能够对两个被检对象同时成像，检测效率高、探测器利用率高。
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公开(公告)号：CN109471198B
公开(公告)日：2023-11-28
申请号：CN201811654363.1
申请日：2018-12-29
申请人： 清华大学 , 同方威视技术股份有限公司
摘要： 本申请提供了一种全极化毫米波/太赫兹探测计，包括：接收天线，被配置为接收来自被检对象的毫米波/太赫兹波信号；极化分离器，被配置为将所接收的毫米波/太赫兹波信号进行极化分离，形成水平极化信号和垂直极化信号；水平通道部和垂直通道部，其中每个通道部包括：混频器，被配置为对应地将所述水平极化信号或所述垂直极化信号与本振信号进行混频；中频滤波放大部，被配置为对混频所得信号进行低噪声放大、滤波、功率放大；以及复相关器，被配置为根据中频滤波放大后的信号进行复相关运算，并输出水平极化信号、垂直极化信号以及复相关运算信号。
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公开(公告)号：CN113126174B
公开(公告)日：2022-10-04
申请号：CN201911402652.7
申请日：2019-12-30
申请人： 清华大学 , 同方威视技术股份有限公司
摘要： 公开了一种被动式安检设备及其光学装置，所述光学装置适于将被检对象自发辐射的毫米波/太赫兹波以及反射背景环境的毫米波/太赫兹波反射并汇聚至所述被动式安检设备的探测器阵列，其中，所述光学装置包括栅条型反射板，所述栅条型反射板适于将被检对象自发辐射的毫米波/太赫兹波以及反射背景环境的毫米波/太赫兹波进行反射，所述栅条型反射板上的栅条的分布与所述探测器阵列中的探测器的接收天线的极化方向相匹配。该光学装置通过采用通过栅条型反射板，且栅条型反射板上的栅条的分布与探测器阵列的接收天线的极化方向相匹配，从而对反射板进行极化选择，这样可以提升系统的信噪比，从而提升系统的温度灵敏度，并提高图像质量与可疑物识别。
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