盘形刻度盘的检查方法、检查设备和记录介质

    公开(公告)号:CN118247208A

    公开(公告)日:2024-06-25

    申请号:CN202311777282.1

    申请日:2023-12-22

    Abstract: 本发明公开了一种盘形刻度盘的检查方法、检查设备和记录介质。提供了一种准确且高效地对盘形刻度盘进行检查的检查方法。检查方法包括:图像数据获取步骤,用于获取与盘形刻度盘的图像有关的数据作为盘形刻度盘图像数据;以及极坐标变换步骤,用于使用盘形刻度盘的中心作为基准将盘形刻度盘图像数据变换成极坐标,以生成极坐标刻度图像数据。缺陷检测步骤包括:处理区域设置步骤,用于在极坐标角度显示轴上设置处理区域;重心计算步骤,用于针对各个处理区域计算重心;以及重心间距计算步骤,用于计算在重心计算步骤中所计算出的重心的间距。

    坐标测量设备
    22.
    发明公开
    坐标测量设备 审中-实审

    公开(公告)号:CN115047470A

    公开(公告)日:2022-09-13

    申请号:CN202210199794.3

    申请日:2022-03-02

    Abstract: 本发明涉及一种坐标测量设备。通过使用激光跟踪器来正确地确定工件的空间坐标坐标测量设备(1)包括:测量部(10),其测量工件;三个或多于三个接入点(20),其设置在与测量部(10)分离的位置,并且使用无线电波与测量部(10)进行无线通信;激光跟踪器(30),其利用激光束照射设置在各个接入点中的反射部,并且接收由反射部反射的激光束;以及控制部(54),其通过激光跟踪器(30)接收由反射部反射的激光束来获得各个接入点(20)的第一坐标,基于接入点(20)和测量部(10)之间的无线通信来获得测量部(10)的第二坐标,使测量部(10)测量工件的第三坐标,并且基于第一坐标、第二坐标和第三坐标来获得工件的空间坐标。

    指示器检查机器、检查方法和检查程序

    公开(公告)号:CN109141301B

    公开(公告)日:2022-06-14

    申请号:CN201810630055.9

    申请日:2018-06-19

    Abstract: 一种指示器检查机器,其在轴改变位置时基于由指示器显示的值检查指示器的准确性。指示器检查机器包括:测量轴,其被设置为能够自由地升高和降低,以便使指示器的轴移位;接触点,设置于测量轴的最前端,所述接触点与设置于指示器的轴的最前端的指示器接触点接触;驱动测量轴的驱动机构;以及控制器,其控制驱动机构以使接触点与指示器接触点接触,同时以预定周期改变测量轴的速度。

    形状测量装置
    24.
    发明公开

    公开(公告)号:CN111102956A

    公开(公告)日:2020-05-05

    申请号:CN201911031042.0

    申请日:2019-10-28

    Abstract: 本发明提供一种形状测量装置。形状测量装置包括:保持单元,其保持形状被要测量的测量对象;第一测量单元,其测量所述测量对象的第一表面上的多个测量点相对于规定点的相对坐标;第二测量单元,其独立于所述第一测量单元进行操作,并且测量所述测量对象的作为所述第一表面的反面的第二表面上的多个测量点相对于所述规定点的相对坐标;以及计算单元,其基于由所述第一测量单元和所述第二测量单元所测量出的结果来计算所述测量对象的形状。

    检验机及其连接夹具
    25.
    发明授权

    公开(公告)号:CN106610275B

    公开(公告)日:2020-03-17

    申请号:CN201611186375.7

    申请日:2016-10-24

    Abstract: 本发明公开了检验机及其连接夹具。夹具包括三个柱状构件、触针头接收构件、及夹具固定部。第二柱状构件沿Z方向延伸。第一柱状构件沿X方向延伸且构造成通过使第一柱状构件的第一端结合到第二柱状构件的第一端而在X方向伸出的悬臂梁。第三柱状构件沿X方向延伸且构造成通过使第三柱状构件的第一端接合到第二柱状构件的第二端而沿与第一柱状构件相同的方向伸出的悬臂梁。触针头接收构件接合到第三柱状构件从而位于计量器的心轴的最前端的触针头所形成接触的表面面对第一柱状构件。夹具固定部设置到第一柱状构件从而可附接于计量器检验机的测量心轴。

    光学位移计、光学位移计调节方法、和光学位移测量方法

    公开(公告)号:CN108571927A

    公开(公告)日:2018-09-25

    申请号:CN201810170654.7

    申请日:2018-03-01

    Abstract: 提供了一种能够相对于光接收量需要测量的区域扩大输出信号区域的光学位移计,一种用于调节光学位移计的方法和一种光学位移测量方法。该光学位移计包括光接收元件,在光接收元件中,相对于边界值Ua设定输出信号的最大值Vx,边界值Ua是光接收量需要测量的区域的最大值。光接收元件的输出信号V的整个区域可以被分配到有效区域Aa,所述有效区域是需要使用光学位移计测量光接收量的区域,并且光学位移计可以具有相对于需要测量光接收量的区域的扩大的输出信号区域。

    信号转换装置、信号处理装置以及信号转换传送系统

    公开(公告)号:CN101908266B

    公开(公告)日:2014-11-12

    申请号:CN201010194700.0

    申请日:2010-06-07

    CPC classification number: G06F13/4045 G06F2213/0042

    Abstract: 本发明提供一种信号转换装置、信号处理装置以及信号转换传送系统。输入工具(30)具备:输入输出单元(31),其具有数显I/F;第一信号转换单元(351),其将测量信号转换为能够由HID驱动器进行处理的基于HID键盘协议的信号形式;第二信号转换单元(352),其将测量信号转换为能够由VCP驱动器(254)进行处理的基于虚拟串行端口协议的信号形式;转换控制单元(353),其使第一信号转换单元(351)和第二信号转换单元(352)中的某一方实施测量信号的转换处理;以及USB通信单元(32),其具有能够与PC(20)进行连接的USB I/F,并且实施测量信号的输出处理。

    形状测量设备
    28.
    发明公开

    公开(公告)号:CN102749039A

    公开(公告)日:2012-10-24

    申请号:CN201210113003.7

    申请日:2012-04-17

    CPC classification number: G01B11/03 G01B11/2518 G06T7/521 G06T2207/30164

    Abstract: 本发明公开了一种形状测量设备,包括:光照射单元,其将线状光照射到工件上;成像元件,其使由所述工件反射的反射光成像;以及成像透镜,其将由所述工件反射的反射光的像形成在所述成像元件的成像平面上,并且,所述光照射单元的光照射平面、包括所述成像透镜的主点的主平面、以及所述成像元件的成像平面满足沙姆普弗鲁克原理。所述形状测量设备还包括:像获取区域选择单元,其将所述成像元件的成像平面划分为多个区域,并响应于测量精度和测量范围的大小中的至少一个,从所述多个区域中选择用于在测量中使用的区域作为像获取区域。

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