一种利用单质子径迹成像的中子能谱测量装置及测量方法

    公开(公告)号:CN106707328B

    公开(公告)日:2023-12-15

    申请号:CN201710007693.0

    申请日:2017-01-05

    IPC分类号: G01T5/02 G01T5/00

    摘要: 本发明具体涉及一种基于单质子径迹成像的中子能谱测量装置及方法。包括中子转换体、质子径迹发光室、成像系统和电源;中子转换体包括中子源、中子‑质子转换靶和光阑;质子径迹发光室包括腔室,设置在腔室外一端的质子入射密封窗口、设置在腔室内的圆筒形多丝结构、与腔室内部连通的充气系统和抽真空系统、设置在腔室外侧的光学窗口、以及与圆筒形多丝结构连接的电压源;圆筒形多丝结构由位于圆柱轴心的一根阳极丝和分布在阳极丝圆周的多根阴极丝组成;中子源出射中子束经过中子‑质子转换靶的转换变向后,穿过光阑和质子入射密封窗口进入腔室,成像系统由阳极丝所收集的电荷信号控制成像,电源与圆筒形多丝结构连接。

    可提升探测效率的闪烁探测器及其探测方法

    公开(公告)号:CN112799118A

    公开(公告)日:2021-05-14

    申请号:CN202011611441.7

    申请日:2020-12-30

    IPC分类号: G01T1/202 G01T1/208

    摘要: 本发明公开了一种可提升探测效率的闪烁探测器及其探测方法,旨在解决现有技术中存在闪烁探测器不利于低强度辐射脉冲的测量、灵敏度不高、光的收集效率低的技术问题,本发明包括闪烁体器件、光收集器件与光电转换器件,闪烁体器件包括至少一层激光晶体或类激光晶体;激光晶体或类激光晶体在辐射粒子束激发下发射荧光,其一侧为光接收端面,另一侧为光出射端面;光接收端面镀全反射膜,光出射端面镀部分反射膜或部分反射镜,使得光接收端面和光出射端面间构成F‑P谐振腔。本发明在保证闪烁探测器时空分辨的情况下,可以显著提高闪烁体光产额,有利于低强度辐射脉冲的测量,提高探测效率。

    一种α粒子阻隔型低能电子探测器件

    公开(公告)号:CN108445530B

    公开(公告)日:2019-09-27

    申请号:CN201810253358.3

    申请日:2018-03-26

    IPC分类号: G01T7/00

    摘要: 本发明涉及一种α粒子阻隔型低能电子探测器件。包括一端开口的外壳、真空密封窗、α粒子阻隔层及电子探测装置;真空密封窗位于外壳开口端,与外壳形成真空腔室;α粒子阻隔层紧贴真空密封窗位于外壳内部,且与外壳绝缘,用于阻隔α粒子穿过;电子探测装置包括电子探测器、高压模块和信号采集模块;所述电子探测器位于外壳内部并与α粒子阻隔层平行,电子探测器与α粒子阻隔层之间的间隔形成飞行腔室;高压模块和信号采集模块位于外壳外部,电子探测器阳极与高压模块连接,电子探测器信号输出端和信号采集模块连接;α粒子穿过真空密封窗进入并停留在α粒子阻隔层的微孔中。解决了现有技术中高氡环境下不能对氚发射低能电子直接探测的缺陷。

    一种非均匀分布源探测效率计算及模拟装置及方法

    公开(公告)号:CN104483693A

    公开(公告)日:2015-04-01

    申请号:CN201410816665.X

    申请日:2014-12-24

    IPC分类号: G01T1/00

    摘要: 本发明提供一种非均匀分布源探测效率计算及模拟装置,包括探测器、点源、面源;所述点源在半径为R范围内不同位置处来模拟按一定概率密度函数分布的面源;所述面源的半径为R,面源模拟的厚度为H,面源放置在0~H范围内不同高度位置,来模拟按一定概率密度函数分布的体源;所述探测器位于面源、点源的正下方,用于实验模拟计算按一定概率密度函数分布的半径为R的面源和半径为R,厚度为H的体源的探测效率。本发明对非均匀分布放射源进行研究,对于按一定概率密度函数分布的面源和体源,建立了它们的概率分布函数和均匀分布面源和体源探测效率的计算关系。相对层析γ扫描技术,大大简化了测量过程。

    基于虚拟点探测器原理的放射性区域确定方法

    公开(公告)号:CN104020507A

    公开(公告)日:2014-09-03

    申请号:CN201410264383.3

    申请日:2014-06-13

    IPC分类号: G01V9/00 G01T1/169

    摘要: 本发明提供一种基于虚拟点探测器的放射性区域确定方法,包括拟合得到虚拟点探测器距离探测器下端面距离的拟合参数、求出地面放射性区域对应的虚拟点源位置、建立均匀分布地面放射性区域半径r的和其对应的虚拟点源位置x的函数关系式、地面放射性区域半径参数的反演计算等步骤,本发明利用虚拟点探测器理论及虚拟点源技术,成功地解决了以往高空无法确定放射性可疑区边界的问题,使空中发展为一项更为有效的探测手段。

    缩短CsI(Na)晶体X、γ射线激发下发光衰减时间的方法

    公开(公告)号:CN103422169A

    公开(公告)日:2013-12-04

    申请号:CN201210160213.1

    申请日:2012-05-22

    IPC分类号: C30B29/12

    摘要: 本发明属于核辐射探测领域,涉及一种缩短CsI(Na)晶体对X、γ射线发光衰减时间的方法。本发明利用高能球磨机及高速气流粉碎技术将CsI(Na)块状晶体制备成微米、纳米量级结构晶体,通过改变CsI(Na)的粒度结构来加快其对X、γ射线辐射的发光衰减时间,使CsI(Na)晶体对X、γ射线的发光衰减时间从原来大块结构时的650ns提升到微米结构下的25ns,为快脉冲辐射场探测开辟了新的技术途径,为超快探测器的研制提供新的探测材料。该方法工艺简单、操作简便,具有较好的稳定性和重现性。

    利用光学方法测量带电粒子束能量的装置

    公开(公告)号:CN102621575A

    公开(公告)日:2012-08-01

    申请号:CN201110034578.5

    申请日:2011-02-01

    IPC分类号: G01T1/29 G01T1/36

    摘要: 本发明涉及一种利用光学方法测量带电粒子束能量的装置,包括发光组件和至少一组成像组件,发光组件包括密封的闪烁发光腔体,闪烁发光腔体中填充有气体闪烁体,成像组件包括设置在闪烁发光腔体上的遮光筒、镜头以及成像装置。本发明解决了现有的带电粒子束能量测量装置结构复杂、使用时受辐射场强度限制等技术问题,能同时应用于稳态和脉冲辐射场,具有测量直观、能量分辨好、适用于多种带电粒子束能量测量、量程范围宽且简单方便可调的优点。

    带有光子晶体层的封装式闪烁体及闪烁探测器

    公开(公告)号:CN108387923B

    公开(公告)日:2023-10-20

    申请号:CN201810215572.X

    申请日:2018-03-15

    IPC分类号: G01T1/202

    摘要: 本发明属于辐射探测技术领域,针对现有技术中在闪烁体表面制作光子晶体结构工序复杂、成本高,且大尺寸闪烁体本体表面难以制造光子晶体结构,以及无法直接在易潮解类闪烁体表面制作光子晶体结构的技术问题,提供带有光子晶体层的封装式闪烁体及闪烁探测器;其中带有光子晶体层的封装式闪烁体包括闪烁体本体,其特殊之处在于:还包括位于闪烁体本体外部的封装外壳,封装外壳上设置有光学窗口;所述光学窗口的内表面通过光学耦合剂紧贴闪烁体本体的出光面,光学窗口的外表面设置有外光子晶体层;外光子晶体层包括光子晶体阵列。

    一种基于半导体激光器的X射线辐射场探测装置及方法

    公开(公告)号:CN105866822B

    公开(公告)日:2019-02-05

    申请号:CN201610230662.7

    申请日:2016-04-14

    IPC分类号: G01T1/36

    摘要: 本发明属于脉冲辐射探测领域,具体涉及一种基于半导体激光器的X射线辐射场探测装置及探测方法。该探测装置包括辐射探测器和激光功率测量记录设备;辐射探测器通过光纤或者激光聚焦传输器件与激光功率测量记录设备实现光路连通;辐射探测器包括半导体激光器和为半导体激光器提供预偏置电流的外接电源,外接电源所提供的电流大于或者等于半导体激光器的阈值电流。本发明利用X射线对半导体激光器有源区载流子直接调制,实现对半导体激光器输出功率的扰动,通过测量输出激光信号的变化最终获得X射线脉冲信息,基于该方法的探测系统具有结构简单、成本低廉、超快时间响应以及以激光为信号特征等优点。

    一种超快随机物理过程的图像捕获方法

    公开(公告)号:CN107734232A

    公开(公告)日:2018-02-23

    申请号:CN201711084976.1

    申请日:2017-11-07

    IPC分类号: H04N5/225 H04N5/235 H04N5/232

    摘要: 本发明提出一种超快随机物理过程的图像捕获方法,解决了常规图像捕获方法很难准确捕捉单次物理过程图像的问题,尤其适用于随机粒子事件的单粒子径迹成像。该方法采用的成像系统由图像传感器和像增强器进行光学耦合得到,其中像增强器和图像传感器的曝光控制相互独立;利用像增强器和图像传感器的独立曝光控制功能,通过实验系统提供预触发和后触发信号,对超快随机物理过程实现单次图像的稳定可靠捕获,该方法可有效提高成像系统捕捉随机过程的能力,并能可靠实现单次过程图像的捕获,极大提高了随机物理过程实验的图像获取能力。