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公开(公告)号：CN118567929A
公开(公告)日：2024-08-30
申请号：CN202410696306.9
申请日：2024-05-31
申请人： 瑞芯微电子股份有限公司
IPC分类号： G06F11/26
摘要： 本发明公开的用于调试SERDES芯片的方法和装置。该方法包括获取目标芯片的接入数据和显示信息；根据所述接入数据确定所述目标芯片的芯片信息；若根据所述芯片信息判断所述目标芯片已完成配置，则在预先创建的配置数据库中检索与所述芯片信息相匹配的第一目标序列，并通过所述第一目标序列完成初始化；以及根据所述芯片信息和所述显示信息输出测试画面。本发明能够对已经适配过的芯片进行快速识别并匹配，自动完成模拟调试，实现即插即用，且整个适配过程脱离主控芯片以及操作系统，故无需进行打板调试，提高了开发效率。
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公开(公告)号：CN118567920A
公开(公告)日：2024-08-30
申请号：CN202410364359.0
申请日：2024-03-28
申请人： 中国建设银行股份有限公司 , 建信金融科技有限责任公司
摘要： 本申请公开了一种故障模拟方法、装置、设备、存储介质及程序产品，涉及计算机技术领域。该故障模拟方法包括：接收对磁盘的故障模拟请求，故障模拟请求中包括磁盘的磁盘标识信息以及请求模拟的故障类型；响应于故障模拟请求，创建逻辑设备空间；在逻辑设备空间与磁盘标识信息对应的磁盘之间建立关联关系；将与磁盘对应的第一映射表与逻辑设备空间进行绑定，构建与磁盘相匹配的目标逻辑设备；将目标逻辑设备的第一映射表更新为与故障类型对应的第二映射表，以使通过更新后的目标逻辑设备完成对磁盘中与故障类型对应的磁盘故障模拟。本申请实施例可适用于各种磁盘故障模拟，具有普适性。
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公开(公告)号：CN118503029A
公开(公告)日：2024-08-16
申请号：CN202410643002.6
申请日：2024-05-22
申请人： 北京芯驰半导体科技股份有限公司
发明人： 陆钊
摘要： 本申请涉及一种芯片与调试装置的安全调试方法、调试装置和芯片，安全调试方法包括如下步骤：由芯片在调试装置发送的调试次数编号与芯片中记录的调试次数编号一致的情况下，生成真随机数；由调试装置基于真随机数和调试次数编号得到第二会话密钥；基于第二时延长度向芯片发送第二会话密钥；由芯片记录第一时间戳；记录接收到第二会话密钥的第二时间戳，得到第二时间戳与第一时间戳的第一差值；在第一差值与第一时延长度的第二差值小于阈值，且第二会话密钥与第一会话密钥一致的情况下，确认调试装置符合安全要求，因此本发明的安全调试方法能够增加非授权调试装置攻击的难度，保护芯片上的敏感数据。
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公开(公告)号：CN112162889B
公开(公告)日：2024-08-13
申请号：CN202011013298.1
申请日：2020-09-24
申请人： 广东电网有限责任公司中山供电局
摘要： 本发明公开了一种分布式控制系统信息错误快速定位方法、装置及可读存储介质，所述方法包括：S1：利用模拟设备对分布式系统的监控层、通信处理层、数据采集层分别建立第一层通信测试、第二层通信测试、第三层通信测试；S2：获取监控层与通信处理层之间的交互数据，记为第一层交互数据，获取通信处理层与数据采集层之间的交互数据记为第二层交互数据，获取数据采集层的采集数据；S3：针对分布式控制系统中的每个信息点，根据不同阶段的通信测试结果，若出现测试结果偏差，根据各阶段通信测试和数据对比结果定位出该信号点进行数据交互时所有数据偏差点。本发明降低了错误定位的难度，提高分析效率、定位准确度。
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公开(公告)号：CN118471307A
公开(公告)日：2024-08-09
申请号：CN202410450546.0
申请日：2024-04-15
申请人： 中国第一汽车股份有限公司
摘要： 本发明实施例提供了一种存储器的存储变更测试方法、装置、设备及存储介质，该方法包括：获取当前节点软件中非易失性存储器的存储版本号；若存储版本号未变更，则对非易失性存储器进行存储未变更验证测试；若存储版本号发生变更或者存储未变更验证测试未通过，则对非易失性存储器进行存储变更验证测试，存储变更验证测试至少包括非易失性存储器的剩余存储空间正确性验证测试、初始化功能验证测试、存储功能验证测试以及应用层接收变量正确性验证测试。利用该方法，系统地从NVM版本号未变更验证，到剩余存储空间、NVM初始化功能、NVM存储功能、应用层接收等方面进行NVM变更测试，全面保证NVM存储区的安全及存储功能的正确性。
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公开(公告)号：CN118467277A
公开(公告)日：2024-08-09
申请号：CN202410923974.0
申请日：2024-07-11
申请人： 深圳星云智联科技有限公司
发明人： 谢日昌
摘要： 本申请提供了一种先进先出队列验证系统、方法、设备以及集群。所述系统包括：待测设计用于接收第一读操作以及第一写操作，通过先进先出队列对第一读操作及第一写操作进行响应，生成第一读数据以及第一写数据；模拟代理用于接收第一读操作以及第一写操作，通过对先进先出队列的行为进行模拟，从而对第一读操作以及第一写操作进行响应生成第二读数据以及第二写数据；比较模块用于在第一存储地址和第二存储地址相等的情况下，基于第一读数据和第一写数据，第二读数据和第二写数据，第一读数据和第二读数据是否都相等，确定验证是否通过。
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公开(公告)号：CN118445125A
公开(公告)日：2024-08-06
申请号：CN202410469388.3
申请日：2024-04-18
申请人： 宁畅信息技术(杭州)有限公司
摘要： 本申请涉及一种性能测试方法、装置及计算机设备。该方法包括：调用预先部署的测试工具，获取多个不同的测试模式下服务器中各部件进行测试时的配置信息，并根据各测试模式对应的配置信息对各部件进行测试，并根据各测试模式下各部件的测试结果，确定服务器的性能测试结果，其中，不同的测试模式中各部件的测试顺序不同。采用上述方法仅需要调用一次预先部署的测试工具，就能够实现在多个不同的测试模式下对服务器的性能进行测试的过程，即服务器的性能进行全方位测试，该过程在对服务器的性能进行全方位测试时，减少了工具调用次数，从而能够提高对服务器的性能进行全方位测试的便利性，并且提高了全方位测试的测试速度和效率。
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公开(公告)号：CN117271236B
公开(公告)日：2024-08-06
申请号：CN202311164523.5
申请日：2023-09-08
申请人： 湖南长城银河科技有限公司
IPC分类号： G06F11/22 , G06F11/26 , G06F11/273
摘要： 本发明公开了一种复用JTAG调试通道调试CPU核的处理器及应用方法，本发明的处理器包括JTAG接口、仿真调试模块、配置总线、片内主机模块以及CPU核，配置总线中包含用于访问仿真调试模块的主机接口，仿真调试模块中包含与主机接口相连的从机接口和对应的译码模块以用于被片内主机模块访问，且仿真调试模块内还包含一组寄存器和选择器以用于实现JTAG接口、片内主机模块对仿真调试模块的复用控制。本发明能够不通过配置JTAG接口而是直接通过编写程序配置一系列的寄存器后复用JTAG调试逻辑通过总线控制实现对CPU核的调试，同时能够支持访问自研的CPU核的私有空间或资源。
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公开(公告)号：CN117076225B
公开(公告)日：2024-07-19
申请号：CN202311099292.4
申请日：2023-08-29
申请人： 芯华章智能科技(上海)有限公司
摘要： 本申请提供一种背板和子卡。所述背板的第一侧设置有第一接口，所述第一接口包括第一端口，在所述第一侧与所述第一端口关联的第一位置设置有第一连接区，所述背板还设置有共地连接区，所述共地连接区与所述第一连接区电性连接；所述第一接口用于连接子卡，所述子卡在与所述第一连接区对应的位置处设置有第一连接头，所述子卡还包括与所述第一连接头电性连接的第一检测点；当所述第一接口与所述子卡有效连接时，所述第一连接区与所述第一连接头电性连接。
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公开(公告)号：CN113656227B
公开(公告)日：2024-07-19
申请号：CN202110932656.7
申请日：2021-08-13
申请人： 昆仑芯(北京)科技有限公司
摘要： 本公开提供了一种芯片验证方法、装置、电子设备及存储介质，涉及人工智能领域，尤其涉及集成电路领域。具体实现方案为：基于预先构建的默认序列，针对当前测试接口构建对应的测试序列；基于当前测试接口对应的测试序列，在当前测试接口上对待测芯片进行测试，得到待测芯片针对当前测试接口返回的测试结果；重复执行上述操作，直到得到待测芯片针对各个测试接口返回的测试结果；基于待测芯片针对各个测试接口返回的测试结果，判定待测芯片通过验证或者未通过验证。本申请实施例可以针对不同的接口更加方便地构建出对应的测试序列，从而可以简化用户操作，减少编写测试序列的工作量；并且能够缩短验证时间，增强可扩展性。
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