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公开(公告)号：CN117968749B
公开(公告)日：2024-08-09
申请号：CN202410151888.2
申请日：2024-02-02
Applicant: 北京控制工程研究所
Abstract: 本发明提供了一种角度编码器测量结果校正方法及装置，其中方法包括：响应于倾斜测量指令，确定所述码盘相对于参考水平面的倾斜角度；所述参考水平面为与所述摄像机的拍摄方向平行的面；在确定了所述倾斜角度之后，每当监测到所述读数头读取到新的旋转角度时，利用所述倾斜角度对所述读数头读取到的旋转角度进行校正，以将校正后的旋转角度输出为真实旋转角度。本方案，能够提高角度测量结果的准确性。
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公开(公告)号：CN117848480A
公开(公告)日：2024-04-09
申请号：CN202410034910.5
申请日：2024-01-09
Applicant: 北京控制工程研究所
IPC: G01H9/00
Abstract: 本发明涉及超精密测量技术领域，特别涉及一种隔振平台的残余振动检测装置及方法。该装置包括：控制器以及沿光路行进方向依次设置的一个激光器、一个准直镜、一个分光镜、两个光学滤波器和两个光学探测器，其中：分光镜用于对经过准直镜准直处理的平行激光进行分束，得到两个分束激光；光学滤波器用于对分束激光进行降噪处理，以使分束激光在光学探测器上形成清晰光斑；光学探测器与控制器电连接，光学探测器用于对清晰光斑进行光电转换，得到清晰光斑的位置信息，并将位置信息发送给控制器；控制器用于对位置信息进行计算，得到隔振平台的残余振动情况。本发明可以提供高精度的残余振动测量结果，同时有效降低对隔振平台残余振动的测量难度。
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公开(公告)号：CN117824538A
公开(公告)日：2024-04-05
申请号：CN202410034283.5
申请日：2024-01-09
Applicant: 北京控制工程研究所
IPC: G01B11/26
Abstract: 本发明涉及传感测量技术领域，特别涉及一种角位移测量装置及方法。该装置包括：一个电机转子、一个编码盘、一个电机定子和六个读数器，编码盘设置于电机转子上，六个读数器均设置于电机定子上；编码盘的柱面上设置有多个一维编码光栅和多个二维编码图案，每个一维编码光栅均用于记载编码盘的精密角度信息，每个二维编码图案均用于记载编码盘的粗略角度信息；六个读数器均按照预设的角度间隔非均匀地分布在编码盘的周身，每个读数器的探头均由高倍显微物镜和多行探测器组成，读数器用于解析一维编码光栅和二维编码图案，以得到编码盘实时的角度信息，角度信息包括角度位置和角度值。本方案能够有效提升角位移的测量精度。
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公开(公告)号：CN116704045B
公开(公告)日：2024-01-26
申请号：CN202310734431.X
申请日：2023-06-20
Applicant: 北京控制工程研究所
IPC: G06T7/80
Abstract: 本发明涉及星敏感器地面测试技术领域，特别涉及一种用于监测星空背景模拟系统的多相机系统标定方法，包括：确定标定板上的标志点在世界坐标系下的三维表示；令各三维转台均处于初始的零位位置；利用标定板，标定各组相机装置中的高精度相机，确定各高精度相机的内参数和外参数；在每组相机装置中的三维转台的可转动轴框上设置标记点；选取两组相机装置，标定其余各组相机装置的三维转台；再选出另两组相机装置，标定在先选取的两组相机装置的三维转台；选定基准坐标系，确定其余各组相机装置对应的相机坐标系在基准坐标系下的位姿关系，得到多相机系统的外参数。本发明能够快速、准确地对用于监测星空系统的多相机及转台进行标定。
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公开(公告)号：CN116858134A
公开(公告)日：2023-10-10
申请号：CN202310831764.4
申请日：2023-07-07
Applicant: 北京控制工程研究所
Abstract: 本发明涉及航天移动测控技术领域，特别涉及一种高精度光电角位移传感器位置解算方法及装置，其中方法包括：获取读数器采集的至少一行条纹图像数据；进行预处理；进行电子细分至所需精度；确定单个条纹位所对应的数据长度；对电子细分后的一行条纹图像数据进行分组，得到多组数据；确定当前的条纹位的最佳采样点；基于当前的各条纹位的最佳采样点灰度，得到对应的位置编码，并结合编码规则，确定当前码盘位置的粗略读数；基于当前的条纹位的最佳采样点在对应单个条纹位的一组数据中的位置，确定当前码盘位置的精细读数；确定当前码盘的具体位置，进而确定角位移。本发明能够快速、精确解算当前码盘位置。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN116704045A
公开(公告)日：2023-09-05
申请号：CN202310734431.X
申请日：2023-06-20
Applicant: 北京控制工程研究所
IPC: G06T7/80
Abstract: 本发明涉及星敏感器地面测试技术领域，特别涉及一种用于监测星空背景模拟系统的多相机系统标定方法，包括：确定标定板上的标志点在世界坐标系下的三维表示；令各三维转台均处于初始的零位位置；利用标定板，标定各组相机装置中的高精度相机，确定各高精度相机的内参数和外参数；在每组相机装置中的三维转台的可转动轴框上设置标记点；选取两组相机装置，标定其余各组相机装置的三维转台；再选出另两组相机装置，标定在先选取的两组相机装置的三维转台；选定基准坐标系，确定其余各组相机装置对应的相机坐标系在基准坐标系下的位姿关系，得到多相机系统的外参数。本发明能够快速、准确地对用于监测星空系统的多相机及转台进行标定。
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公开(公告)号：CN114509026A
公开(公告)日：2022-05-17
申请号：CN202210407986.9
申请日：2022-04-19
Applicant: 中国科学院西安光学精密机械研究所 , 北京控制工程研究所
Abstract: 本发明提出了一种亚角秒级角度测量系统、方法及相对变形角度测量方法，一是解决现有亚角秒级角度测量的视场过小、测量精度较低的问题，二是解决现有技术无法测量目标两个部分的相对微小变形的问题。该亚角秒级角度测量系统包括至少一个测量子单元，测量子单元包括目标平面反射镜、激光光源、基准平面反射镜和探测器；激光光源、探测器与基准平面反射镜设置在同一侧，目标平面反射镜位于基准平面反射镜的另一侧，且探测器表面、基准平面反射镜表面位于同一平面；目标平面反射镜与目标物体固定，运动姿态与目标物体同步，且目标平面反射镜平面和基准平面反射镜平面平行设置，二者之间的间隔为Ｈ。
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公开(公告)号：CN111323210B
公开(公告)日：2021-07-09
申请号：CN202010187740.6
申请日：2020-03-17
Applicant: 北京控制工程研究所
Abstract: 本发明一种光学镜头光轴热稳定性的测试装置及方法，装置包括光学平台、星模拟器、成像组合体、控温及夹持装置、探测电路、采图计算设备；所述成像组合体包括光学镜头及探测器组件；星模拟器、成像组合体、控温及夹持装置在测试中均安置于光学平台上；星模拟器发出的光线在成像组合体中的探测器组件上成像；控温及夹持装置用于夹持成像组合体，通过控温及夹持装置内置的电加热片或油路管道设施实现控制成像组合体温度的变化；成像组合体中的光学镜头作为试验中的被测单元，对目标源光线汇聚并在探测器组件上成像；探测电路与成像组合体中的探测器组件相连，用于图像的形成控制与输出；采图计算设备与探测电路相连，用于图像的采集、记录和分析计算。
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公开(公告)号：CN105866945B
公开(公告)日：2018-05-01
申请号：CN201610207443.7
申请日：2016-04-05
Applicant: 北京控制工程研究所
Abstract: 一种碳纳米管遮光罩的优化设计方法，包括步骤如下：一、确定遮光罩(1)的长度、直径和各挡光环的刃口位置；二、确定加权系数w1，w2的值；三、建立优化目标函数TWij；四、计算获得TWij；如果TWij>ε，ε为目标值，进入步骤五；如果TWij≤ε，获得TWij对应的α1j,α2j,...,αij,...αnj，进入步骤七；五、计算各挡光环散射光能量进入光学系统(2)的能量D1,D2,...,Dn并排序；六、对D1,D2,...,Dn中最大值对应的挡光环与光轴的夹角αij进行调整，返回步骤三；七、根据获得的各挡光环与光轴的夹角的最终值，获得各挡光环的位置。本发明解决了基于碳纳米高吸收率涂层遮光罩的设计问题，解决了目前设计方法中重杂光强度而忽略杂光分布均匀性的问题。
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公开(公告)号：CN105606126B
公开(公告)日：2018-05-01
申请号：CN201510980880.8
申请日：2015-12-23
Applicant: 北京控制工程研究所
Abstract: 一种遮光罩的保护方法，步骤为：(A)设计并加工遮光罩保护筒(4)，遮光罩保护筒(4)为空心的圆台形薄壁结构，圆台的圆锥角不小于镜头(1)的视场角，圆台的高度小于遮光罩(3)的外端面至镜头(1)的镜面的距离；(B)设计并加工密封支架(5)，密封支架(5)的外轮廓与遮光罩(3)的外端面轮廓相同；(C)将星模拟器(6)安装在密封支架(5)上；(D)把装有星模拟器(6)的密封支架(5)安装在遮光罩保护筒(4)的大端端面上；(E)将遮光罩保护筒(4)与遮光罩(3)同轴固定安装；(F)将遮光罩(3)的另一端安装在星敏感器壳体(2)上。本发明方法可以在星敏感器的测试和安装过程有效的保护遮光罩的内部涂层。
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