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公开(公告)号：CN103472039B
公开(公告)日：2015-05-27
申请号：CN201310460565.3
申请日：2013-09-30
Applicant: 哈尔滨工业大学
Abstract: 基于积分球反射及透射的半透明材料光谱法向发射率测量方法，属于高温材料热物性测量技术领域。本发明为了解决现有半透明材料在近红外波段的法向发射率测量方法的测量过程复杂，并且测量结果误差大的问题。它将半透明待测试件固定在积分球的试件口处；将激光器固定在积分球的激光入口处，并将激光器输出激光束的中心对准半透明待测试件内表面的中心位置；将激光功率计探测器的探头固定在积分球的探测器口处；分别对半透明待测试件的反射率和透射率进行测量，继而根据基尔霍夫定律得到半透明待测试件的光谱法向发射率。本发明用于测量半透明材料的光谱法向发射率。
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公开(公告)号：CN103472036B
公开(公告)日：2015-05-27
申请号：CN201310455615.9
申请日：2013-09-29
Applicant: 哈尔滨工业大学
Abstract: 基于脉冲激光辐照的半透明介质辐射特性测量方法，本发明涉及基于脉冲激光辐照的半透明介质辐射特性测量方法。它为了解决现有的基于透射、反射辐射信号测量的半透明介质辐射参数测量方法中测量方法复杂、速度慢、准确性差的问题。本发明通过将激光光源照射在待测半透明介质制的一侧表面，待测半透明介质制两侧均匀涂敷黑体涂层，均涂敷有黑体涂层的半透明介质的一侧表面，采用热电偶测温仪测量并记录介质两表面温度随时间的变化。根据两表面随时间变化的温度，通过逆问题算法获得待测半透明介质的吸收系数和散射系数。本发明适用于航空航天、军事、能源、化工、生物医疗及大气科学等多个领域。
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公开(公告)号：CN103439283A
公开(公告)日：2013-12-11
申请号：CN201310412796.7
申请日：2013-09-11
Applicant: 哈尔滨工业大学
Abstract: 基于单频激光辐照的双层参与性介质光谱辐射特性测量方法，属于参与性介质光学参数测量技术领域。本发明为了解决现有双层参与性介质光谱辐射特性的测量成本高及测量结果不准确的问题。它利用单频激光先后从两侧辐照双层参与性介质表面，利用探测器获得样品表面的频域复半球反射信号和复半球透射信号，最后利用反演的方法获得双层参与性介质的光谱吸收系数和光谱散射系数。本发明用于测量双层参与性介质光谱辐射特性。
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公开(公告)号：CN103344601A
公开(公告)日：2013-10-09
申请号：CN201310271945.2
申请日：2013-07-02
Applicant: 哈尔滨工业大学
IPC: G01N21/35
Abstract: 基于傅立叶变换红外光谱分析仪的半透明材料吸收系数测量方法，本发明涉及材料热物性测量领域，具体涉及一种半透明材料吸收系数测量方法。本发明为了解决现有的半透明材料吸收系数测量方法存在操作复杂，测量速度慢的问题。本发明是基于傅立叶变换红外光谱分析仪实现的，本发明利用试件的光谱透过率τλ与该试件材料的反射率ρλ，根据贝尔定律计算获得该试件材料的光谱吸收系数kaλ，利用该试件材料的光谱吸收系数kaλ，对全光谱进行积分，获得普朗克平均吸收系数kap和罗斯兰德平均吸收系数kaR，并作为半透明材料吸收系数的测量结果，完成基于傅立叶变换红外光谱分析仪的半透明材料吸收系数测量。本发明适用于半透明材料吸收系数测量。
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公开(公告)号：CN110160964B
公开(公告)日：2021-11-19
申请号：CN201910441867.3
申请日：2019-05-24
Applicant: 哈尔滨工业大学
Abstract: 本发明提供基于Chirp调频激光辐照的半透明材料光热特性参数检测方法，属于光热物性测量技术领域。本发明首先使用基于Chirp调制激光的热波雷达成像技术对半透明材料中内含物位置进行锁定，设定内含物的物性参数；然后求解正问题计算模型得到边界真实的温度与辐射强度；采用SQP算法反演锁定的内含物位置，初步确定该内含物光热特性参数；最后通过SQP算法重复对整个计算场的光热特性参数进行重建，直到目标函数值达到指定的计算精度或者迭代步数达到最大值，最终得到材料最终的光热特性参数。本发明解决了现有半透明材料光热特性参数检测技术准确率不高的问题。本发明可用于半透明材料光热特性参数的精确检测。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN110132874B
公开(公告)日：2021-11-19
申请号：CN201910446648.4
申请日：2019-05-27
Applicant: 哈尔滨工业大学
Abstract: 基于多角度测量的弥散介质光学参数场探测装置及方法，属于频域近红外光学成像技术领域，为解决现有技术中光学参数场重建时仅用一次调频激光入射得到探测信号进行重建，其所得的结果存在病态及串扰严重的问题，包括：激光控制器、激光头、CCD相机和数据采集处理系统；所述激光控制器的输出端同时与激光头的激光控制信号输入端和数据采集处理系统的信号输入端连接，所述数据采集处理系统的信号输入端与CCD相机的信号输出端连接。本发明运用重建算法处理得到的重建结果具有较高的鲁棒性，可以更好地改善频域重建问题中的病态问题及串扰问题，更加高效、准确的解决弥散介质的光学参数重建问题。
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公开(公告)号：CN110151133B
公开(公告)日：2021-10-01
申请号：CN201910439080.3
申请日：2019-05-24
Applicant: 哈尔滨工业大学
Abstract: 本发明提供基于图像分割与时频信息融合的乳腺光学成像装置及方法，属于近红外光学层析成像技术领域。本发明所述方法首先获取调频激光与脉冲激光作用下待测乳腺组织边界各方向上的辐射强度信息，通过模拟调频激光作用下待测乳腺组织内的红外辐射传输过程，初步得到频域模型下光学参数分布的重建图像；然后利用阈值分割法将其分割，得到时域模型的目标区域的光学参数分布初值，通过模拟脉冲激光作用下的红外辐射传输过程，得到乳腺组织目标区域内部结构。本发明解决了现有对乳腺光学分布的同时重建过程中，利用单一模型的测量信号进行重建，存在重建精度较低或者重建效率低的问题。本发明能用于高效率高精度的乳腺探测光学参数场的重建。
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公开(公告)号：CN110132874A
公开(公告)日：2019-08-16
申请号：CN201910446648.4
申请日：2019-05-27
Applicant: 哈尔滨工业大学
Abstract: 基于多角度测量的弥散介质光学参数场探测装置及方法，属于频域近红外光学成像技术领域，为解决现有技术中光学参数场重建时仅用一次调频激光入射得到探测信号进行重建，其所得的结果存在病态及串扰严重的问题，包括：激光控制器、激光头、CCD相机和数据采集处理系统；所述激光控制器的输出端同时与激光头的激光控制信号输入端和数据采集处理系统的信号输入端连接，所述数据采集处理系统的信号输入端与CCD相机的信号输出端连接。本发明运用重建算法处理得到的重建结果具有较高的鲁棒性，可以更好地改善频域重建问题中的病态问题及串扰问题，更加高效、准确的解决弥散介质的光学参数重建问题。
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公开(公告)号：CN106018286B
公开(公告)日：2018-12-11
申请号：CN201610330924.7
申请日：2016-05-18
Applicant: 哈尔滨工业大学
IPC: G01N21/17
Abstract: 基于光场相机与调频激光的弥散介质光学参数分布的重建探测装置及重建方法，涉及弥散介质光学参数分布的重建探测装置和光学参数分布的重建方法。为了解决传统接触式测量的光学系数重建过程中存在的装置复杂和无法区分各个方向的辐射强度信号的问题。弥散介质光学参数分布的重建探测装置包括激光控制器、激光头、至少一个光场相机和数据采集处理系统；本发明利用光场相机获取调频激光作用下弥散介质边界各个方向上的辐射强度信息，通过模拟弥散介质内的红外辐射传输过程，并结合最优化方法，重建得到介质内部的吸收、散射系数分布图像，从而探测得到弥散介质的内部结构。本发明适用于弥散介质光学参数分布的重建领域。
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公开(公告)号：CN106018286A
公开(公告)日：2016-10-12
申请号：CN201610330924.7
申请日：2016-05-18
Applicant: 哈尔滨工业大学
IPC: G01N21/17
CPC classification number: G01N21/17 , G01N2021/1734
Abstract: 基于光场相机与调频激光的弥散介质光学参数分布的重建探测装置及重建方法，涉及弥散介质光学参数分布的重建探测装置和光学参数分布的重建方法。为了解决传统接触式测量的光学系数重建过程中存在的装置复杂和无法区分各个方向的辐射强度信号的问题。弥散介质光学参数分布的重建探测装置包括激光控制器、激光头、至少一个光场相机和数据采集处理系统；本发明利用光场相机获取调频激光作用下弥散介质边界各个方向上的辐射强度信息，通过模拟弥散介质内的红外辐射传输过程，并结合最优化方法，重建得到介质内部的吸收、散射系数分布图像，从而探测得到弥散介质的内部结构。本发明适用于弥散介质光学参数分布的重建领域。
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