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公开(公告)号：CN113556190B
公开(公告)日：2023-10-31
申请号：CN202110813533.1
申请日：2021-07-19
申请人： 深圳市国电科技通信有限公司 , 深圳智芯微电子科技有限公司
摘要： 本发明公开了一种用于测试通信接收机性能的装置。本发明通过在装置中设置控制台，用于配置新空口NR测试信号的波形参数；信号发生设备，用于接收波形参数，根据波形参数生成NR测试信号；射频拉远设备包括待测射频接口，用于通过待测射频接口接收信号发生设备发送的NR测试信号，并将NR测试信号进行处理，得到处理后的信号；射频拉远集线设备，用于接收射频拉远设备发送的处理后的信号，将处理后的信号转换为频域信号；控制台，还用于接收射频拉远集线设备发送的频域信号，并根据频域信号及波形参数确定性能测试结果。通过结合市面上较常见的控制台和信号发生设备对接收机的射频接口进行测试，避免了使用整套专用测试设备，降低了测试成本。
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公开(公告)号：CN115580511B
公开(公告)日：2023-07-14
申请号：CN202211080798.6
申请日：2022-09-05
申请人： 深圳市国电科技通信有限公司 , 深圳智芯微电子科技有限公司
摘要： 本申请公开了一种扩频调制的方法和装置。该方法包括：根据分组因子对通信带宽进行分组；对每组信号进行啁啾调制，以得到每组的啁啾调制信号；对每组信号进行多进制频移键控调制，以得到每组的多进制频移键控正弦调制信号；将啁啾调制信号和多进制频移键控正弦调制信号进行点乘，以得到每组的调制信号。本申请的方法解决了在低功耗广域无线通信中在单频信号复杂恶劣电磁环境下的性能下降明显且通信系统在信噪条件较好时无法达成较高的通信速率的问题，并且与单一调制系统相比，在相同带宽情况下，通过灵活参数设定，保证在远端覆盖灵敏度和传输性能持平，同时在近点信噪条件较好时的通信传输速率可以有数倍的提升空间。
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公开(公告)号：CN116231641A
公开(公告)日：2023-06-06
申请号：CN202310230257.5
申请日：2023-02-28
申请人： 深圳市国电科技通信有限公司 , 深圳智芯微电子科技有限公司
IPC分类号： H02J3/00 , H02J3/14 , H02J3/16 , G06N3/0455
摘要： 本公开是关于一种非嵌入式负荷识别方法、非嵌入式负荷识别装置、存储介质及电子设备。该非嵌入式负荷识别方法包括获取预定网络中各负载分别开机状态时的三相电流和三相电压，及各负载分别开机状态时对应总线上的三相总线电压和三相总线电流；基于各负载的三相电流和三相电压，确定出各负载的电气特征信息；其中，电气特征信息用于表征负载的电气特性；基于各负载分别开机状态时对应总线上的三相总线电压和三相总线电流及各负载的电气特征信息进行排列组合，构建用于VAE模型训练的数据集；基于数据集，对VAE模型进行模型训练，得到训练后的目标VAE模型，使得训练后的目标VAE模型有利于更为准确的进行功率分解，来确定目标网络中各负载的工作状态。
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公开(公告)号：CN116137539A
公开(公告)日：2023-05-19
申请号：CN202310419821.8
申请日：2023-04-14
申请人： 深圳市国电科技通信有限公司 , 深圳智芯微电子科技有限公司
IPC分类号： H04B1/707
摘要： 本发明公开了一种基于LoRa调制的信号生成方法、装置及LoRa设备。其中，方法包括：在数字基带生成LoRa调制数字信号，其中，在生成LoRa调制数字信号的过程中进行倍频处理；将LoRa调制数字信号转换为用于发送的LoRa模拟信号。该方法，可以提高LoRa信号的性能。
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公开(公告)号：CN115828134A
公开(公告)日：2023-03-21
申请号：CN202211346826.4
申请日：2022-10-31
申请人： 深圳市国电科技通信有限公司 , 深圳智芯微电子科技有限公司
IPC分类号： G06F18/24 , G06F18/23 , G06F123/02
摘要： 本发明公开了一种用电数据样本构建、模型训练、账户类别确定方法和装置，所述用电数据样本构建方法包括：获取用电负荷时间序列；利用用电负荷时间序列中预设值的占比以及对应的变异系数生成负荷曲线抖动数据；基于用电负荷时间序列进行相似度计算，确定第一周期特征数据；根据子时间序列之间的相关系数进行平均计算，得到第二周期特征数据；对指定时间段内的用电负荷时间序列、负荷曲线抖动数据、第一周期特征数据、第二周期特征数据进行组合，得到用于训练用电账户分类模型的数据样本。由此通过为基础用电负荷时间序列数据构建与用电负荷规律特点相关的特征数据，可以有效提高用电用户分类的准确率。
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公开(公告)号：CN115713639A
公开(公告)日：2023-02-24
申请号：CN202211480104.8
申请日：2022-11-22
申请人： 深圳市国电科技通信有限公司 , 深圳智芯微电子科技有限公司
IPC分类号： G06V10/75 , G06V10/77 , G06V10/82 , G06N3/08 , G06N3/0464
摘要： 本发明实施例提供一种基于特征点匹配算法的极反缺陷检测方法及检测装置，属于工业视觉检测技术领域。该方法包括：首先获取PCB板的待检测图像、检测模板图像及检测模板图像中的待匹配点坐标；然后将待检测图像、检测模板图像及待匹配点坐标输入至预设神经网络，得到待匹配点在检测模板图像中的匹配点坐标；最后基于匹配点坐标与待检测图像中的第一极性标志点坐标角度判断PCB板是否存在极反缺陷，该过程操作简单，并且提高了PCB板极反检测的准确性。
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公开(公告)号：CN115712864A
公开(公告)日：2023-02-24
申请号：CN202211346816.0
申请日：2022-10-31
申请人： 深圳市国电科技通信有限公司 , 深圳智芯微电子科技有限公司
IPC分类号： G06F18/2413 , G06F18/2321 , G06F18/22 , H02J3/00
摘要： 本发明公开了一种大批量用电负荷预测的方法、装置及计算机设备，所述方法包括：确定目标账户的目标预分类类别，以及目标账户所处的目标用电簇；根据目标用电簇，在目标预分类类别对应的若干用电负荷预测模型中进行查找，得到目标用电簇对应的目标用电负荷预测模型；通过目标用电负荷预测模型对目标账户的第一用电历史数据进行预测，生成用电负荷预测数据。由此通过逐级分类方法将具有相同或相似用电负荷规律的用户分到同一类别中，可以有效提高用户分类的准确度，从而提高负荷预测的准确度。
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公开(公告)号：CN115439411A
公开(公告)日：2022-12-06
申请号：CN202210926874.4
申请日：2022-08-03
申请人： 深圳市国电科技通信有限公司 , 深圳智芯微电子科技有限公司
IPC分类号： G06T7/00 , G06V10/25 , G06V10/26 , G06V10/762 , G06V10/764 , G06V10/82
摘要： 本发明公开了一种电路板元器件极性的检测方法、装置、介质和电子设备，电路板元器件极性的检测方法包括：获取待检测电路板图像；对待检测电路板图像的像素点进行聚类，并根据聚类结果分割待检测电路板图像，得到包含元器件丝印和极性标志的目标图像；利用预设极性检测模型根据目标图像得到元器件的极性。该电路板元器件极性的检测方法能够改善检测中对元器件极性标志依赖度较高的问题，提升极反缺陷检测的正确率，同时提升电路板生产的合格率。
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公开(公告)号：CN114745294A
公开(公告)日：2022-07-12
申请号：CN202210332210.5
申请日：2022-03-30
申请人： 深圳市国电科技通信有限公司 , 深圳智芯微电子科技有限公司
IPC分类号： H04L43/04 , H04L43/08 , H04L43/0829 , H04L43/0852
摘要： 本发明公开了一种网络多节点通信质量评估方法、装置及电子设备，其中方法包括：确定网络通信的业务类型和网络通信中每个节点对应的各评估指标的指标值；基于业务类型确定各评估指标的第一权重；基于每个节点对应的各评估指标的指标值确定各评估指标的第二权重；根据各评估指标的第一权重和第二权重确定各评估指标的综合权重；根据各评估指标的指标值和综合权重获取通信质量评估值。由此，可以根据业务类型对通信质量进行针对性评估，减小了权重计算过程中主观因素的影响，提高了通信评估结果的可信度；同时，还可以实现对差异性较大的指标进行重点评估，更加清晰地对故障节点和异常评估指标进行定位，提高网络多节点通信质量评估准确性。
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公开(公告)号：CN113572543A
公开(公告)日：2021-10-29
申请号：CN202110815029.5
申请日：2021-07-19
申请人： 深圳市国电科技通信有限公司 , 深圳智芯微电子科技有限公司
IPC分类号： H04B17/15 , H04B17/10 , H04B17/336 , H04L27/38
摘要： 本发明公开了一种用于测试通信发射机性能的装置。本发明通过在装置中设置控制台，用于产生新空口NR测试信号；射频拉远集线设备，与控制台通信，用于在接收到NR测试信号的情况下，将NR测试信号转换为数字信号；射频拉远设备，包括待测射频接口，射频拉远设备与射频拉远集线设备通信，用于在接收到数字信号的情况下，将数字信号转换为模拟信号，并通过待测射频接口输出模拟信号；信号分析设备，与待测射频接口通信，用于接收模拟信号，并根据模拟信号确定性能测试结果。通过结合市面上较常见的控制台和信号分析设备对发射机的射频接口进行测试，避免了使用整套专用测试设备，降低了测试成本。
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