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公开(公告)号：CN119070989A
公开(公告)日：2024-12-03
申请号：CN202411014442.1
申请日：2024-07-26
Applicant: 中科鉴芯(北京)科技有限责任公司
Abstract: 本申请涉及一种格密码加速器构建方法、装置、设备及计算机可读介质。该方法包括：从预设格密码算子集合中提取出覆盖所有格密码运算的目标运算范式，其中，所述预设格密码算子集合中包括多个格密码多项式算子，所述目标运算范式用于表示出所述预设格密码算子集合中的所有所述格密码多项式算子；按照所述目标运算范式搭建针对每一个所述格密码多项式算子的通用统一化硬件架构，得到目标格密码加速器。本申请通过从格密码多项式算子集合中提取出统一运算范式，然后针对该统一运算范式进行统一硬件架构设计，实现更高的格密码加速效果，解决了算子固化导致的运算负载与算力资源不匹配以及算子模块间数据搬运造成的大量性能浪费的技术问题。
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公开(公告)号：CN118897793A
公开(公告)日：2024-11-05
申请号：CN202410839163.2
申请日：2024-06-26
Applicant: 中科鉴芯(北京)科技有限责任公司
IPC: G06F11/36
Abstract: 本申请涉及一种诊断覆盖率的确定方法、装置、电子设备及可读介质，其中，方法包括：获取目标对象提供的目标文件，并根据目标文件确定安全机制的输出点；识别电路模块上与输出点对应的输入点以及中间结构，其中，电路模块上覆盖多个安全机制，中间结构为输出点与输入点之间的连接部分；从目标文件中提取与安全机制对应的第一诊断覆盖率，并将第一诊断覆盖率映射至与输入点、输出点以及中间结构对应的部件上；根据各个部件之间的层级关系以及第一诊断覆盖率确定电路模块以及各个部件的第二诊断覆盖率。解决了无法准确地计算同时被多个安全机制覆盖的部件的诊断覆盖率的问题。
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公开(公告)号：CN118897790A
公开(公告)日：2024-11-05
申请号：CN202410839134.6
申请日：2024-06-26
Applicant: 中科鉴芯(北京)科技有限责任公司
Abstract: 本申请涉及一种集成诊断分析与失效率的FMEDA计算方法、装置、设备及介质，方法包括：获取电子系统上各个组件的多类组件信息，并获取计算诊断覆盖率时生成的参数文件；根据多类组件信息以及参数文件提取与各个组件对应的分析数据，并分别将分析数据填入第一表格的对应列，得到第二表格，其中，第一表格的列名为预先设置并填入的；利用分析数据计算每个组件上各个故障类型的失效率，并将失效率填入第二表格，得到FMEDA汇总表格；通过FMEDA汇总表格分别计算单点故障度量、潜伏故障度量以及随机硬件失效概率度量。解决了FMEDA计算得到的度量指标的准确度不可信的问题。
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公开(公告)号：CN117852495B
公开(公告)日：2024-07-09
申请号：CN202410263517.3
申请日：2024-03-08
Applicant: 中科鉴芯(北京)科技有限责任公司
IPC: G06F30/398
Abstract: 本申请涉及一种电路的插链方法、装置、设备及计算机可读介质。本申请提出一套完整的插链流程，从电路解析、用户模块唯一化处理、链数/扫描单元均衡策略到电路层次关系的打平与穿透操作，替代传统的插链方案以提高电路的解析能力和处理速度，在多时钟场景下也能成功解析并得到较高故障覆盖率，解决了传统插链方法无法覆盖多时钟场景，且无法对更高层次的Hierarchical电路进行插链操作的技术问题。
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公开(公告)号：CN117995262A
公开(公告)日：2024-05-07
申请号：CN202410404409.3
申请日：2024-04-07
Applicant: 中科鉴芯(北京)科技有限责任公司
IPC: G11C29/56
Abstract: 本申请提供一种存储器自测试静态分组方法及装置，该方法包括：当接收到存储器静态分组指令时，通过预定的存储器测试成本算法确定各存储器的测试成本；按照测试成本从大到小的顺序，对各存储器进行排序，得到存储器序列；按照预定的分组方法，依次将序列中相邻的多个存储器分为同组。本申请通过分组后，可以对存储器进行按组测试，对于不同测试成本的存储器组可以相应地规划测试次数，从而可以提高存储器的测试效率，降低测试总成本。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN117852495A
公开(公告)日：2024-04-09
申请号：CN202410263517.3
申请日：2024-03-08
Applicant: 中科鉴芯(北京)科技有限责任公司
IPC: G06F30/398
Abstract: 本申请涉及一种电路的插链方法、装置、设备及计算机可读介质。本申请提出一套完整的插链流程，从电路解析、用户模块唯一化处理、链数/扫描单元均衡策略到电路层次关系的打平与穿透操作，替代传统的插链方案以提高电路的解析能力和处理速度，在多时钟场景下也能成功解析并得到较高故障覆盖率，解决了传统插链方法无法覆盖多时钟场景，且无法对更高层次的Hierarchical电路进行插链操作的技术问题。
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公开(公告)号：CN117849596A
公开(公告)日：2024-04-09
申请号：CN202410263529.6
申请日：2024-03-08
Applicant: 中科鉴芯(北京)科技有限责任公司
IPC: G01R31/28
Abstract: 本申请公开了一种面向向量精简的分布式自动测试向量生成方法和系统。该系统包括：采用远程过程调用GRPC框架的主节点和多个从节点，主节点将测试任务下发给从节点，其包括一个待测故障子集合；从节点利用原始测试向量对测试任务进行故障仿真之后，建立原始测试向量与能检测到的故障之间的对应关系，得到故障字典，通过将向量精简转换为集合覆盖的方式，利用故障字典对从节点内所有原始测试向量进行精简，将精简后的故障字典和测试向量发送给主节点，主节点得到合并的故障字典，利用合并的故障字典对所有从节点的测试向量进行精简，得到最终使用的测试向量，从而解决了相关技术中分布式ATPG方法会带来测试向量数量膨胀的技术问题。
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公开(公告)号：CN117825913B
公开(公告)日：2024-12-10
申请号：CN202311666849.8
申请日：2023-12-06
Applicant: 中科鉴芯(北京)科技有限责任公司
Inventor： 叶靖
IPC: G01R31/28
Abstract: 本申请公开了一种基于变长LFSR的测试激励压缩方法、装置及电路。其中，该电路包括：变长的LFSR模块，变长的LFSR模块具有用于接收待测芯片的原始测试向量中原始测试激励的激励输入端、用于接收控制信号的信号输入端，变长的LFSR模块用于根据控制信号从多个LFSR中选择与原始测试激励中确定位的数量匹配的目标LFSR，调用目标LFSR，使用时序线性变换法对原始测试激励进行压缩，得到压缩后的测试激励，不同的LFSR与不同的确定位数量匹配；与变长的LFSR模块适配的多路复用相移模块，与变长的LFSR模块连接，多路复用相移模块中的每个相移模块对应于一个LFSR，相移模块用于处理相应LFSR的输出依赖关系。本申请解决了相关技术中测试数据量较大的技术问题。
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公开(公告)号：CN118917040A
公开(公告)日：2024-11-08
申请号：CN202410839155.8
申请日：2024-06-26
Applicant: 中科鉴芯(北京)科技有限责任公司
Abstract: 本申请涉及一种适用于永久固定型故障和瞬间固定型故障的通用仿真方法，方法包括：获取指定的故障时间属性，其中，故障时间属性包括故障发生时刻和故障持续时长；确定故障发生时刻之前最近一次时间帧对应的第一时刻，其中，时间帧为输入端口发生变化的时间点，第一时刻用于进行故障注入；根据故障发生时刻和故障持续时长确定故障消失时刻，并确定故障消失时刻之后最近一次时间帧对应的第二时刻，第二时刻进行用于故障消除；采用预设的仿真算法，基于故障注入的第一时刻和故障消除的第二时刻进行瞬间固定型故障的仿真，或基于故障持续时长进行永久固定型故障的仿真。本申请适用于永久固定型故障仿真与瞬态固定型故障仿真，具有仿真通用性。
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公开(公告)号：CN117970070B
公开(公告)日：2024-11-01
申请号：CN202311668035.8
申请日：2023-12-06
Applicant: 中科鉴芯(北京)科技有限责任公司
IPC: G01R31/28
Abstract: 本申请公开了一种基于布尔可满足性的电路自动测试向量的压缩方法和装置。其中，该方法包括：获取目标芯片的原始测试向量集和测试故障集，原始测试向量集包括多条测试向量；利用原始测试向量集的第一测试向量子集，对测试故障集中的所有测试故障进行故障仿真，确定测试故障集的已测故障子集；利用原始测试向量集的第二测试向量子集和测试故障集的未测故障子集，建立局部故障字典，局部故障字典用于记录第二测试向量子集中测试向量与未测故障子集中测试故障之间的关联；调用Pure MaxSAT问题求解器对局部故障字典进行求解，从而得到精简测试向量。本申请解决了相关技术中向量压缩比较耗时的技术问题。
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