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公开(公告)号：CN118897791A
公开(公告)日：2024-11-05
申请号：CN202410839142.0
申请日：2024-06-26
申请人： 中科鉴芯(北京)科技有限责任公司
摘要： 本申请涉及一种面向故障仿真后的电路安全评估方法、装置、设备及介质，其中，方法包括：获取电路系统的第一结构报告，其中，第一结构报告为对插入安全机制后的电路系统的故障仿真结果进行层级转换得到的；按照预设映射规则将第一结构报告中的故障标识映射至目标标识，以对第一结构报告进行标识合并，得到具备层级结构的第二结构报告利用目标计算模式以及第二结构报告计算电路系统中各个部件的诊断覆盖率；获取目标覆盖率，并利用目标覆盖率以及诊断覆盖率进行安全评估，得到电路系统的安全评估结果。解决了无法对插入安全机制后的电路系统进行全面准确的安全评估的问题。
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公开(公告)号：CN118897746A
公开(公告)日：2024-11-05
申请号：CN202410839151.X
申请日：2024-06-26
申请人： 中科鉴芯(北京)科技有限责任公司
IPC分类号： G06F11/07 , H04L41/0631
摘要： 本申请涉及一种故障诊断机制的插入方法、装置、电子设备及可读介质，其中，方法包括：获取在执行安全工程过程中得到的逻辑锥文件、故障率贡献文件以及端点传输文件；根据逻辑锥文件与故障率贡献文件确定故障诊断机制的机制类型，以及根据端点传输文件确定故障诊断机制的插入点，其中，机制类型包括实例级与寄存器级；获取与机制类型对应的目标故障诊断机制，并在插入点插入目标故障诊断机制。通过逻辑锥文件、故障率贡献文件以及端点传输文件分析逻辑锥的各个端点的故障率贡献、端点分布以及端点的数据传输情况，以确定与分析结果匹配的故障诊断机制类型以及最佳插入点。解决了无法灵活地确定最佳的故障诊断机制类型和插入位置的问题。
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公开(公告)号：CN118897172A
公开(公告)日：2024-11-05
申请号：CN202410839140.1
申请日：2024-06-26
申请人： 中科鉴芯(北京)科技有限责任公司
IPC分类号： G01R31/28 , G06F30/398 , G06F30/396 , G06F17/18
摘要： 本申请涉及一种电路门级失效率的分析方法、装置、电子设备及可读介质，其中，方法包括：在检测到目标对象触发目标操作的情况下，调用与目标操作对应的目标模型；对电路系统进行层级分析，并建立与电路系统的层级结构对应的树状图，其中，树状图的各个节点上包括节点上的组件的属性信息；根据目标模型以及属性信息计算树状图上各个层级的失效率；根据树状图以及各个层级的失效率对电路系统进行失效率分析。通过先对电路系统进行层级分析得到树状图，然后对树状图的各层级进行失效率计算，最后综合各层级的失效率进行电路分析，解决了整体失效率难以用来进行层次化的失效率分析的问题。
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公开(公告)号：CN118569170A
公开(公告)日：2024-08-30
申请号：CN202411037334.6
申请日：2024-07-31
申请人： 中科鉴芯(北京)科技有限责任公司
IPC分类号： G06F30/331 , G01R31/317 , G06F30/333 , G06F9/50 , G06F9/54
摘要： 本申请公开了一种内存高效型的故障仿真与诊断方法和装置、存储介质。该方法包括：在对目标数字电路进行故障诊断的过程中，利用测试向量集合对目标数字电路进行逻辑仿真，得到第一逻辑结果；调用GPU的M个线程，利用测试向量集合中的测试向量和第一逻辑结果来对目标数字电路的M个待测故障进行并行故障仿真，得到故障仿真结果，M个线程为并行运行的线程，测试向量的个数不大于GPU的机器字长N，M和N为正整数；在利用测试向量集合中的测试向量和第一逻辑结果来对目标数字电路的M个待测故障进行并行故障仿真的过程中，M个线程共享GPU的显存内第一逻辑结果所在的第一存储空间。本申请解决了相关技术中芯片的故障仿真的速度较慢的技术问题。
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公开(公告)号：CN118897793A
公开(公告)日：2024-11-05
申请号：CN202410839163.2
申请日：2024-06-26
申请人： 中科鉴芯(北京)科技有限责任公司
IPC分类号： G06F11/36
摘要： 本申请涉及一种诊断覆盖率的确定方法、装置、电子设备及可读介质，其中，方法包括：获取目标对象提供的目标文件，并根据目标文件确定安全机制的输出点；识别电路模块上与输出点对应的输入点以及中间结构，其中，电路模块上覆盖多个安全机制，中间结构为输出点与输入点之间的连接部分；从目标文件中提取与安全机制对应的第一诊断覆盖率，并将第一诊断覆盖率映射至与输入点、输出点以及中间结构对应的部件上；根据各个部件之间的层级关系以及第一诊断覆盖率确定电路模块以及各个部件的第二诊断覆盖率。解决了无法准确地计算同时被多个安全机制覆盖的部件的诊断覆盖率的问题。
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公开(公告)号：CN118897790A
公开(公告)日：2024-11-05
申请号：CN202410839134.6
申请日：2024-06-26
申请人： 中科鉴芯(北京)科技有限责任公司
摘要： 本申请涉及一种集成诊断分析与失效率的FMEDA计算方法、装置、设备及介质，方法包括：获取电子系统上各个组件的多类组件信息，并获取计算诊断覆盖率时生成的参数文件；根据多类组件信息以及参数文件提取与各个组件对应的分析数据，并分别将分析数据填入第一表格的对应列，得到第二表格，其中，第一表格的列名为预先设置并填入的；利用分析数据计算每个组件上各个故障类型的失效率，并将失效率填入第二表格，得到FMEDA汇总表格；通过FMEDA汇总表格分别计算单点故障度量、潜伏故障度量以及随机硬件失效概率度量。解决了FMEDA计算得到的度量指标的准确度不可信的问题。
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公开(公告)号：CN118898007A
公开(公告)日：2024-11-05
申请号：CN202410839162.8
申请日：2024-06-26
申请人： 中科鉴芯(北京)科技有限责任公司
摘要： 本申请涉及一种故障仿真结果的转换方法、装置、电子设备及可读介质，包括：获取故障仿真结果以及预设匹配策略；按照预设匹配策略对故障仿真结果进行分类，得到安全分类结果；对安全分类结果以及故障仿真结果进行层级划分，得到层级数据，并将层级数据转换为第一结构报告，以及根据故障仿真结果生成第二结构报告。通过将故障仿真结果与安全故障类型进行匹配，然后再通过层级划分来将匹配后的故障仿真结果转换为能够直接用于安全分析的第一结构报告，以及根据故障仿真结果生成能够直接用于安全分析的第二结构报告，解决了故障仿真结果需要经过复杂的数据处理才能进行安全性分析的问题。
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公开(公告)号：CN118897794A
公开(公告)日：2024-11-05
申请号：CN202410839170.2
申请日：2024-06-26
申请人： 中科鉴芯(北京)科技有限责任公司
摘要： 本申请涉及一种模拟插入诊断机制后的安全分析方法、装置、设备及介质，其中，方法包括：在目标对象输入安全机制文件的情况下，确定被目标对象选中的与安全机制文件对应的输入对比点以及输出对比点；确定与输入对比点以及输出对比点对应的第一电路范围；根据安全机制文件对第一电路范围进行划分，以确定与各个安全机制对应的第二电路范围；获取各个第二电路范围中的状态单元的单元信息，并根据单元信息对第一电路范围内的全部状态单元进行安全度量，得到第一度量结果；根据第一度量结果生成安全分析报告，其中，安全分析报告包括对安全机制的效果评价。解决了安全分析时由于忽略了安全机制的引入导致分析结果不够全面的问题。
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公开(公告)号：CN118917040A
公开(公告)日：2024-11-08
申请号：CN202410839155.8
申请日：2024-06-26
申请人： 中科鉴芯(北京)科技有限责任公司
摘要： 本申请涉及一种适用于永久固定型故障和瞬间固定型故障的通用仿真方法，方法包括：获取指定的故障时间属性，其中，故障时间属性包括故障发生时刻和故障持续时长；确定故障发生时刻之前最近一次时间帧对应的第一时刻，其中，时间帧为输入端口发生变化的时间点，第一时刻用于进行故障注入；根据故障发生时刻和故障持续时长确定故障消失时刻，并确定故障消失时刻之后最近一次时间帧对应的第二时刻，第二时刻进行用于故障消除；采用预设的仿真算法，基于故障注入的第一时刻和故障消除的第二时刻进行瞬间固定型故障的仿真，或基于故障持续时长进行永久固定型故障的仿真。本申请适用于永久固定型故障仿真与瞬态固定型故障仿真，具有仿真通用性。
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公开(公告)号：CN118897792A
公开(公告)日：2024-11-05
申请号：CN202410839149.2
申请日：2024-06-26
申请人： 中科鉴芯(北京)科技有限责任公司
摘要： 本申请涉及一种面向故障仿真的数据准备方法、装置、设备及介质，其中，方法包括：采用预设模式在目标电路上进行故障生成，得到故障列表，其中，故障列表中的故障模式包括瞬态故障和永久性故障，故障列表包括各个故障的故障时间；识别故障列表中各个故障是否覆盖安全机制，并根据识别结果生成安全机制覆盖节点列表；获取软故障率，并构建与软故障率匹配的正态分布模型来确定瞬态故障的最佳注入时间，以及利用最佳注入时间更新故障列表；将安全机制覆盖节点列表以及故障列表确定为目标数据，其中，目标数据用于进行故障仿真。解决了在故障仿真时无法灵活地对不同故障模式的故障进行相应设置的问题。
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