一种用于多角度测量激光等离子体产生的极紫外光的装置

    公开(公告)号:CN117870860A

    公开(公告)日:2024-04-12

    申请号:CN202311864012.4

    申请日:2023-12-29

    摘要: 本公开涉及极紫外光源技术领域,是一种用于多角度测量激光等离子体产生的极紫外光的装置,包括:机械构件,用于安装和设置光学组件和极紫外光发生单元;光学组件,用于产生激光,实现产生的极紫外光的光通量和光斑大小的探测;极紫外光发生单元,用于产生极紫外光;控制单元,用于控制机械构件及安装于机械构件上的光学组件和极紫外光发生单元。利用本公开,固体靶材被激光烧灼产生的等离子体产生的极紫外光通过第一滤光片后再通过一个针孔后到达背照射CCD相机,从而得到极紫外光的光斑大小;转动电动机械转台,等离子体产生的极紫外光通过第二滤光片、极紫外窗口到达光电二极管,从而得到极紫外光的光通量大小。该装置能够实现对不同角度激光入射时等离子体产生的极紫外光的光通量和光斑大小的测量。

    用于监测激光光束特性的装置
    32.
    发明公开

    公开(公告)号:CN117782309A

    公开(公告)日:2024-03-29

    申请号:CN202311279712.7

    申请日:2023-09-28

    IPC分类号: G01J1/04 G01J1/02 G01M11/00

    摘要: 本公开涉及用于在激光材料加工光学系统中监测高功率激光光束的系统和方法,并提供了用于监测高功率激光光束的装置和方法。与现有技术中已知的装置和方法相比,根据本公开,对高功率激光光束的特性的详细确定发生在光纤或激光光束进入连接到激光源的激光加工头的方向上,并且这些测量可以在加工操作期间进行。根据本公开的装置具有用于测量强度和相应的当前激光功率的光学传感器。

    一种测量高斯光束束腰半径的方法

    公开(公告)号:CN117760703A

    公开(公告)日:2024-03-26

    申请号:CN202311781351.6

    申请日:2023-12-22

    IPC分类号: G01M11/02 G01J1/42 G01J1/04

    摘要: 本发明提供一种测量高斯光束束腰半径的方法,可对高斯光束束腰半径实现准确测量;包括:S1、将待测激光器、聚焦透镜、光阑同轴布置;S2、调整光阑位置,使得能量计探头获得的光强最大,此时光阑孔位置作为测试起始位置;S3、将光阑沿着远离待测激光器方向移动设定距离,记录此时位置,重复操作直至能量计探头无法探测到激光;S4、将光阑及能量计探头的位置恢复初始位置处,随后将光阑沿着靠近待测激光器方向移动设定距离,记录此时位置,重复操作直至能量计探头无法探测到激光;S5、对不同位置处的能量进行第一次拟合,得到相应的光斑截面尺寸;随后对光斑截面尺寸进行修正以实现第二次拟合,获得光束的束腰位置和束腰半径。

    一种高功率激光的实时反馈功率检测装置

    公开(公告)号:CN117697189A

    公开(公告)日:2024-03-15

    申请号:CN202311792478.8

    申请日:2023-12-25

    摘要: 本发明公开了一种高功率激光的实时反馈功率检测装置,设于激光加工设备内部,包括设于激光加工设备的激光入射端的第一保护镜检测装置和激光出射端的第二保护镜检测装置;两者之间的激光光路中设有反射镜,从反射镜反射的激光束进入第二保护镜检测装置中,从反射镜折射的激光束进入功率检测装置中;所述功率检测装置与保护镜检测装置结合,能够同时对前半程和后半程光路进行功率检测,并能够将激光加工设备的问题定位在前半程光路或后半程光路中。本发明实现了激光加工过程中高功率激光加工设备内光路的全过程检测,并能快速定位和诊断激光加工过程中激光加工设备出现的问题,保证激光加工的可追溯性。

    测试装置
    36.
    发明授权

    公开(公告)号:CN114235145B

    公开(公告)日:2024-03-01

    申请号:CN202111292822.8

    申请日:2021-11-03

    摘要: 本发明涉及一种测试装置,该测试装置包括支架、电气组件、至少一组测试组件及控制装置;支架包括用于放置烟感的载具,电气组件及测试组件均设置于支架,电气组件与烟感电连接,测试组件包括能够朝向按键伸出/缩回的第一按压件;烟感及测试组件均能够与控制装置电连接,以通过控制装置控制测试组件测试烟感的按键性能。上述测试装置中,首先将待测的烟感放置于载具,使得烟感与电气组件及控制装置电连接,当控制装置检测到烟感处于预设位置后,控制装置控制测试组件的第一按压件伸出并按压烟感的按键,并控制电气组件判断按键功能与烟感的性能是否正常,减少人力,提高烟感的生产及测试效率。

    一种亮度校准装置及亮度校准系统

    公开(公告)号:CN117405222A

    公开(公告)日:2024-01-16

    申请号:CN202311211201.1

    申请日:2023-09-19

    IPC分类号: G01J1/02 G01J1/04 G01J3/02

    摘要: 本申请涉及一种亮度校准装置及亮度校准系统,该亮度校准装置包括光源组件、亮度调节机构、光度计探头、杂光屏蔽机构和标准亮度计;杂光屏蔽机构包括暗室;光源组件、亮度调节机构、光度计探头和标准亮度计设置于暗室内;亮度调节机构包括依次排列的至少两个亮度调节组件;每个亮度调节组件包括依次排列的可调光阑和积分球;光源组件发出的光经过亮度调节机构到达标准亮度计进行测量;光度计探头设置在亮度调节机构中,靠近标准亮度计的亮度调节组件中的积分球上。本申请实施例中,通过设置多积分球和多可调光阑解决微弱光的产生和调整问题,可以在较大的动态范围内实现亮度的精确调整,且调整过程简单易执行。

    一种基于全息技术的特殊光束探测器制备装置及方法

    公开(公告)号:CN117405221A

    公开(公告)日:2024-01-16

    申请号:CN202311595750.3

    申请日:2023-11-28

    发明人: 杨毅 谭小地

    IPC分类号: G01J1/00 G01J1/04

    摘要: 本发明涉及一种基于全息技术的特殊光束探测器制备装置及方法,装置包括:激光光源;偏振分束器,偏振分束器用于将所述激光光源产生的激光分束为信号光及参考光;设置在参考光的光路上的第一四分之一波片及第一半波片;角度调节器,所述角度调节器用于将所述信号光以不同角度射入偏振敏感材料;设置在信号光的光路上的第二四分之一波片及第二半波片;偏振敏感材料,所述偏振敏感材料设置在所述参考光及信号光的干涉处。采用现有的偏振敏感材料制作工艺简单、成本低,运用该材料能够解决以往探测方法中存在的体积大、制备成本高及探测过程复杂的问题,同时该器件只需通过曝光便可制备而成,大大降低了加工难度。

    一种用于红外测试的SOC芯片

    公开(公告)号:CN117109734B

    公开(公告)日:2024-01-16

    申请号:CN202311385264.9

    申请日:2023-10-25

    发明人: 王嘉诚 张少仲

    IPC分类号: G01J1/42 G01J1/04

    摘要: 本发明涉及SOC芯片技术领域,特别涉及一种用于红外测试的SOC芯片。本发明实施例提供一种用于红外测试的SOC芯片,所述SOC芯片电连接有接收模块;所述接收模块包括多个接收单元,所述接收单元用于将接收到的光转换为电流,所述接收单元用于接收光信号的一端为接收端,不同所述接收单元的接收端设置有不同透过频率的滤光膜;所述SOC芯片包括数据处理模块,所述数据处理模块用于根据所述接收模块转换得到的多个电流强度计算出对应波段的光强比例。本发明实施例提供了一种用于红外测试的SOC芯片,能够对接收到的红外光分波段进行分析。