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公开(公告)号：CN109471194A
公开(公告)日：2019-03-15
申请号：CN201811654173.X
申请日：2018-12-29
申请人： 同方威视技术股份有限公司 , 清华大学
摘要： 一种用于对被检对象进行安全检查的毫米波太赫兹成像设备，其包括聚焦透镜，微极化片阵列、探测器阵列和图形处理装置，其中所述聚焦透镜设置在被检对象和所述微极化片阵列之间，且被构造为将被检对象自发辐射或反射回来的毫米波太赫兹波聚焦在所述探测器阵列上；所述微极化片阵列设置在所述探测器阵列的朝向所述聚焦透镜的一侧且设置为靠近所述探测器阵列；所述探测器阵列设置在所述聚焦透镜的焦平面上，且被构造为将透过所述微极化片阵列的毫米波太赫兹波转化为被检对象的极化图像；以及所述图形处理装置设置于所述探测器阵列的远离所述微极化片阵列的一侧，且被构造为处理所述极化图像以对被检对象进行识别分类。
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公开(公告)号：CN107728222A
公开(公告)日：2018-02-23
申请号：CN201710778390.9
申请日：2017-09-01
申请人： 清华大学 , 同方威视技术股份有限公司
IPC分类号： G01V8/10
摘要： 本发明公开了属于安检设备及图像处理技术领域的一种主动式太赫兹安检成像方法及系统。该安检成像系统由数据采集与处理系统分别与太赫兹发射装置、太赫兹线阵探测器和带状波束扫描控制单元相连，分束器分别连接波束整形光学组件、太赫兹线阵探测器和太赫兹聚焦光学组件，带状波束扫描控制单元和被测目标组成。该方法采用以太赫兹源主动发射太赫兹辐射、带状聚焦波束一维扫描、线性阵列太赫兹探测器接收的模式，快速完成整个目标平面的照射与扫描，达到对目标快速成像和检查的目的；本发明采用主动式太赫兹安检成像系统提高了成像质量。采用一维扫描方式大大节省了成像时间。采用阵列探测器，简化电路系统结构，降低系统成本，减少经费开支。
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公开(公告)号：CN210534350U
公开(公告)日：2020-05-15
申请号：CN201822275832.0
申请日：2018-12-29
申请人： 同方威视技术股份有限公司 , 清华大学
摘要： 一种用于对被检对象进行安全检查的毫米波太赫兹成像设备，其包括聚焦透镜，微极化片阵列、探测器阵列和图形处理装置，其中所述聚焦透镜设置在被检对象和所述微极化片阵列之间，且被构造为将被检对象自发辐射或反射回来的毫米波太赫兹波聚焦在所述探测器阵列上；所述微极化片阵列设置在所述探测器阵列的朝向所述聚焦透镜的一侧且设置为靠近所述探测器阵列；所述探测器阵列设置在所述聚焦透镜的焦平面上，且被构造为将透过所述微极化片阵列的毫米波太赫兹波转化为被检对象的极化图像；以及所述图形处理装置设置于所述探测器阵列的远离所述微极化片阵列的一侧，且被构造为处理所述极化图像以对被检对象进行识别分类。(ESM)同样的发明创造已同日申请发明专利
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公开(公告)号：CN210956702U
公开(公告)日：2020-07-07
申请号：CN201921828855.8
申请日：2019-10-29
IPC分类号： H01L31/109 , H01L31/032 , G01J1/44 , G01J1/42
摘要： 本文公布了一种探测单元和超宽带光探测器，探测单元包括NbS3晶体片和两个电极，两个所述电极分别设置在所述NbS3晶体片的长度方向两端，且分别与所述NbS3晶体片形成欧姆接触。超宽带光探测器包括上述的探测单元，以及用于采集所述探测单元上电势差数据的探测电路，两个所述电极分别与所述探测电路电连接。本文涉及一种探测单元和超宽带光探测器，可克服探测带宽窄的问题，其探测的带宽能从紫外覆盖到太赫兹波段，具有超宽探测带宽，并且其还具有高速灵敏的优点。(ESM)同样的发明创造已同日申请发明专利
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公开(公告)号：CN201000429Y
公开(公告)日：2008-01-02
申请号：CN200620173208.4
申请日：2006-12-31
申请人： 清华大学
摘要： 本实用新型涉及一种利用太赫兹时域光谱快速检测植物油纯度的设备，包括光谱测量装置，以透射方式测量透过植物油样品槽中的植物油样品前后的太赫兹脉冲时域波形或者以反射方式直接测量从植物油反射前后的太赫兹脉冲时域波形；以及数据处理装置，通过所述时域波形提取植物油在太赫兹波段的物理参数。同现有技术相比，本实用新型所述设备具有简便、快速、定量分析的优点。
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公开(公告)号：CN200996980Y
公开(公告)日：2007-12-26
申请号：CN200620173227.7
申请日：2006-12-31
申请人： 清华大学
摘要： 一种测量太赫兹时域光谱的设备，涉及太赫兹时域光谱领域。该设备包括：第一飞秒激光器，以预定的重复频率从第一飞秒激光器发出第一脉冲激光束，产生太赫兹脉冲；第二飞秒激光器，以所述重复频率从第二飞秒激光器发出第二脉冲激光束；测量装置，设置在第一飞秒激光器和第二飞秒激光器的下游，测量在所述第一脉冲激光束与所述第二脉冲激光束之间的各个相位差处的太赫兹脉冲的电场强度；以及与测量装置连接的数据处理装置，通过对表示所述电场强度的数据进行傅立叶变换来得到太赫兹时域光谱。同现有技术相比，本实用新型在保持高探测带宽的同时能保持高的频谱分辨力，从而使设备鉴别物质的能力优于其它同类设备。
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公开(公告)号：CN209784559U
公开(公告)日：2019-12-13
申请号：CN201822275909.4
申请日：2018-12-29
申请人： 同方威视技术股份有限公司 , 清华大学
摘要： 一种用于对被检对象进行安全检查的毫米波太赫兹成像设备，其包括聚焦透镜，检测器和图形处理装置，其中所述聚焦透镜设置在被检对象和所述检测器之间，且被构造为将被检对象自发辐射或反射回来的毫米波太赫兹波聚焦在所述检测器上；检测器，所述检测器包括天线阵列和探测器阵列，其中天线阵列设置在所述探测器阵列的朝向所述聚焦透镜的一侧且设置为所述探测器阵列的天线端口，所述探测器阵列设置在所述聚焦透镜的焦平面上，且被构造为将所述天线阵列接收的毫米波太赫兹波转化为被检对象的极化图像；以及所述图形处理装置设置于所述探测器阵列的远离所述天线阵列的一侧，且被构造为处理所述极化图像以对被检对象进行识别分类。(ESM)同样的发明创造已同日申请发明专利
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公开(公告)号：CN209446787U
公开(公告)日：2019-09-27
申请号：CN201822244692.0
申请日：2018-12-28
申请人： 同方威视技术股份有限公司 , 清华大学
IPC分类号： G01V8/20
摘要： 公开了一种便携式太赫兹安检设备，包括：承载主体；太赫兹发射装置，设置在承载主体上，并包括太赫兹信号源以及与太赫兹信号源连接用于发送太赫兹波的发射单元；太赫兹探测器，设置在承载主体上，用于接收经被检测对象反射的太赫兹波；数据采集及处理系统，设置在承载主体上，并与太赫兹探测器连接以接收来自太赫兹探测器的对于被检测对象的扫描数据并生成太赫兹图像；以及显示装置，与数据采集及处理系统连接，用于接收和显示来自数据采集及处理系统的太赫兹图像。该便携式太赫兹安检设备不需要配备机械扫描系统，因而可以大幅缩减太赫兹安检设备的体积和重量，以使得安检人员可以手动移动该设备来完成对成像区域的扫描。(ESM)同样的发明创造已同日申请发明专利
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