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公开(公告)号：CN118243000A
公开(公告)日：2024-06-25
申请号：CN202410151900.X
申请日：2024-02-02
Applicant: 北京控制工程研究所
IPC: G01B11/16
Abstract: 本发明提供了一种构件变形量检测方法及装置，其中方法包括：构件的观测位置表面设置有观测条纹，获取观测条纹在初始状态下的第一观测图像，以及获取观测条纹在观测状态下的第二观测图像；根据所述第一观测图像和所述第二观测图像，确定观测条纹在横向上对应的偏移方向；将所述第一观测图像和所述第二观测图像中的观测条纹进行对齐；根据观测条纹的对齐结果和所述偏移方向，测量并计算观测条纹向所述偏移方向偏移的变形量。本方案，能够准确测量计算出观测条纹向偏移方向偏移的变形量。
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公开(公告)号：CN117949015A
公开(公告)日：2024-04-30
申请号：CN202410151870.2
申请日：2024-02-02
Applicant: 北京控制工程研究所
IPC: G01C25/00
Abstract: 本发明提供了一种星敏感器测量误差校正方法及装置，其中方法包括：利用预先搭建的星点模拟系统输出基准星点状态下的模拟星点以及分别输出多个测试星点状态下的模拟星点，获取星敏感器针对基准星点状态的模拟星点测量得到的星点基准质心位置，以及针对每一个测试星点状态下的模拟星点测量得到的星点测试质心位置；星点状态包括：星等和色温；利用基准质心位置和测试质心位置，生成位置误差校正数据；获取星敏感器实际观星时所识别星点在星表中的星等和色温，利用位置误差校正数据确定所识别星点在星表中的星等和色温所对应的目标位置误差，利用目标位置误差对所识别星点的质心位置进行校正。本方案，能够提高星敏感器的测量精度。
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公开(公告)号：CN117889953A
公开(公告)日：2024-04-16
申请号：CN202410033902.9
申请日：2024-01-09
Applicant: 北京控制工程研究所
Abstract: 本发明涉及光照设备技术领域，特别涉及一种光束照度均匀性测试装置及方法。该装置包括沿光路行进方向依次设置的多个光源、多个平行光管和一个光学检测单元，每个光源均位于一个平行光管的入光侧，光源用于为平行光管提供照明，以使平行光管发出平行光束；光学检测单元包括一个聚光器、一个分束镜和两个光学探测器；聚光器用于将平行光束汇聚在分光镜上；分光镜用于对平行光束进行分束，得到两个分束光，一个分束光在第一光学探测器上形成第一光斑，另一个分束光在第二光学探测器上形成第二光斑；第一光学探测器设置于聚光器的基准焦平面；第二光学探测器设置于聚光器的焦面前半个波长的离焦处。本方案能够提高光束照度均匀性测试的效率。
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公开(公告)号：CN117408271A
公开(公告)日：2024-01-16
申请号：CN202311344162.2
申请日：2023-10-17
Applicant: 北京控制工程研究所
Abstract: 本发明涉及航天移动测控技术领域，特别涉及一种航天测控光电编码器读数器安装位置校准方法及装置，其中方法包括：获取读数器所接收到的条纹图像；对第一行的像元传感数据进行电子细分，得到线阵图像；选取包含多个完整条纹的连续线阵片段，确定对应的电子细分数据数；估算单条纹所占电子细分数据数理论值；根据估算理论值和连续线阵片段对应的电子细分数据数，计算实际完整条纹数；根据实际完整条纹数和连续线阵片段对应的电子细分数据数，精确计算单条纹所占电子细分数据数；基于单条纹所占电子细分数据数及理论值，判断读数器是否安装到位。本发明能够快速确定光电编码器读数器是否安装到位，并指导调节读数器位置。
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公开(公告)号：CN116772739A
公开(公告)日：2023-09-19
申请号：CN202310737427.9
申请日：2023-06-20
Applicant: 北京控制工程研究所
IPC: G01B11/16
Abstract: 本发明提供了一种大尺寸结构真空环境内的变形监测方法及装置，该方法包括：获取由至少四台监测相机采集的待监测区域中待监测点的监视图像；其中，不同监测相机对应的监视区域不同，且监测相机固定安装在可移动的转台上；确定采集监视图像的监测相机所在转台的位置信息；根据各监测相机之间的位姿关系、监视图像和位置信息，确定待监测点的三维坐标；根据不同时刻下待监测点的三维坐标，确定变形结果。本方案提供的大尺寸结构真空环境内的变形监测方法能在真空环境下对大尺寸结构的自动化变形监测，提高变形监测效率。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN105890625B
公开(公告)日：2018-12-21
申请号：CN201610206650.0
申请日：2016-04-05
Applicant: 北京控制工程研究所
IPC: G01C25/00
Abstract: 一种基于碳纳米管遮光罩的星敏感器的杂光测试方法，包括：步骤一、安装测试系统；步骤二、记录待测星敏感器(9)光轴与杂散光阑(5)入射光束垂直时待测星敏感器(9)探测器的杂光图像IMG90；步骤三、改变待测星敏感器(9)和杂散光阑(5)入射光束间的夹角，测试不同角度θi对应的待测星敏感器(9)探测器上的杂光图像IMGNi；步骤四、将IMGNi与IMG90相减，得到不同角度θi对应的图像数据IMGi；步骤六、计算图像数据IMGi的图像灰度数据平均值DN；步骤七、计算杂光照度Eccd(i)：步骤八、计算获得点源透射比PST曲线。本发明解决了高吸收率碳纳米管涂层的杂光抑制能力测试问题，测试准确度高，适用于各类型光学系统的杂光抑制能力测试，通用性强。
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公开(公告)号：CN108663137A
公开(公告)日：2018-10-16
申请号：CN201810461071.X
申请日：2018-05-15
Applicant: 北京控制工程研究所
Abstract: 一种星敏感器温场测量和指向温漂补偿方法，包括步骤如下：一，计算得到若干组在星敏感器在设定工作温度场分布下的光轴漂移量和热离焦量；二，根据步骤一计算结果，确定能够敏感到光轴漂移量和热离焦量的最少的测温点数量和测温点分布；三，根据步骤一所建模型和步骤二确定的测温点布局预设若干加热器，并计算分析确定控温点数量和分布；四，得到若干相似温度场样本区域的光轴漂移量和热离焦量数学拟合公式，解算出温度场变化当前值的光轴漂移量和热离焦量；五，通过温场试验标定对步骤四的光轴漂移量和热离焦量数学拟合公式进行校正；六，计算星敏感器光轴指向的测量数据补偿量。本发明降低了星敏感器光轴热漂移带来的低频率误差。
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公开(公告)号：CN105806239B
公开(公告)日：2018-07-24
申请号：CN201610323690.3
申请日：2016-05-16
Applicant: 北京控制工程研究所
IPC: G01B11/14
Abstract: 一种激光扫描式星敏感器离焦量快速检测方法，步骤为：一、将激光器(1)对准星敏感器的光学系统(2)入瞳圆周上的一点照射，星敏感器探测器采集激光器(1)光束汇聚在星敏感器探测器上的弥散斑，记录此时激光器(1)位置a1和弥散斑位置h1；二、将激光器(1)沿光学系统(2)直径方向移动，移动距离为光学系统入瞳直径D，记录此时激光器(1)位置a2和星敏感器探测器上弥散斑位置h2；三、计算弥散斑位置h1和弥散斑位置h2间的距离Lo，判断弥散斑运动方向；四、计算星敏感器探测器相对于光学系统工程焦面(4)的离焦量Δf。本发明解决了目前无法定量测量星敏感器焦面离焦量的问题，同时可以满足快速、非接触的使用要求。
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公开(公告)号：CN107367275A
公开(公告)日：2017-11-21
申请号：CN201710464094.1
申请日：2017-06-19
Applicant: 北京控制工程研究所
IPC: G01C21/02
CPC classification number: G01C21/025
Abstract: 一种高轨卫星自主导航敏感器，包括恒星视场遮光罩、地球视场遮光罩、光学系统、探测电路、处理电路。光学系统为可见光/紫外光双谱段共像面光学系统，其具有恒星视场与地球视场两个互相垂直的视场通道，将恒星视场通道入射的可见光与地球视场通道入射的紫外光叠加汇聚成像到同一个像面上，并对地球紫外光进行衰减实现地球与恒星成像能量匹配。光学系统出射光照到探测电路的CMOS图像传感器上，由探测电路将光信号转换为数字图像并将图像传输给处理电路。处理电路对图像进行处理计算得到地心矢量与三轴惯性姿态用于卫星自主导航。本发明兼具地球敏感器与星敏感器的功能，且具有实现简单、功耗低、重量轻、测量精度高的特点。
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公开(公告)号：CN105890625A
公开(公告)日：2016-08-24
申请号：CN201610206650.0
申请日：2016-04-05
Applicant: 北京控制工程研究所
IPC: G01C25/00
CPC classification number: G01C25/00
Abstract: 一种基于碳纳米管遮光罩的星敏感器的杂光测试方法，包括：步骤一、安装测试系统；步骤二、记录待测星敏感器(9)光轴与杂散光阑(5)入射光束垂直时待测星敏感器(9)探测器的杂光图像IMG90；步骤三、改变待测星敏感器(9)和杂散光阑(5)入射光束间的夹角，测试不同角度θi对应的待测星敏感器(9)探测器上的杂光图像IMGNi；步骤四、将IMGNi与IMG90相减，得到不同角度θi对应的图像数据IMGi；步骤六、计算图像数据IMGi的图像灰度数据平均值DN；步骤七、计算杂光照度Eccd(i)：步骤八、计算获得点源透射比PST曲线。本发明解决了高吸收率碳纳米管涂层的杂光抑制能力测试问题，测试准确度高，适用于各类型光学系统的杂光抑制能力测试，通用性强。
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