一种基于能量分布的未知缺陷样本检测方法

    公开(公告)号:CN118521529A

    公开(公告)日:2024-08-20

    申请号:CN202410402295.9

    申请日:2024-04-03

    Abstract: 本发明涉及印刷电路板组件缺陷检测技术领域,公开了一种基于能量分布的未知缺陷样本检测方法,将印刷电路板组件的测试样本输入到完成训练的检测模型,得到测试样本的检测结果;检测模型的构建和训练过程包括:构建检测模型;基于能量的最优传输机制;通过集群间扩展策略的无监督训练来扩大印刷电路板组件的已知缺陷类别和未知缺陷类别的能量分数,从而加强能量传输成本,进而引导未标记数据集中的样本进入不同簇。本发明为部分未标记的符合已知缺陷类别的PCBA样本分配正确的缺陷类别标签,然后让它们参与联合训练,解决了现有技术中训练数据外的缺陷检测准确率不高的问题。

    基于骨干粒子群算法的基因数据特征选择方法及装置

    公开(公告)号:CN113571134B

    公开(公告)日:2024-07-02

    申请号:CN202110858994.0

    申请日:2021-07-28

    Abstract: 本发明的一种基于骨干粒子群算法的基因数据特征选择方法及装置,基于基因疾病数据集,通过初始化基因疾病数据集种群,并对基因特征通过随机分组算法进行随机初始化分成四组;使用代理实例算法将训练集中部分实例删除,产生代理实例集;针对每组基因特征通过骨干粒子群算法进行Tmax次迭代,在Tmax次迭代中,分为两个阶段,并分别通过代理实例集和原始实例集来评估粒子的函数适应值,第一阶段采用分组算法使得数据进行了降维加快了优化的速度并在全局搜索中找到优化方向,第二阶段利用局部搜索算法使得种群在找到优化方向后找到最优解,最优解即找到效果最好的基因特征并输出。本发明提高了基因数据的分类精度,在多个疾病基因数据集上取得良好效果。

    面向动态变化复杂场景的强鲁棒目标检测方法

    公开(公告)号:CN116704268A

    公开(公告)日:2023-09-05

    申请号:CN202310974647.3

    申请日:2023-08-04

    Abstract: 本发明公开了面向动态变化复杂场景的强鲁棒目标检测方法,涉及计算机视觉技术领域。具体包括以下步骤:S1、基于目标图像中的前景目标和背景信息,定义背景建模求解优化问题的代价函数;S2、构建连续帧图像中各个像素点在不同时刻的时序关系,并根据所述时序关系对目标背景进行更新;S3、通过有限状态机提取所述连续帧图像的前景掩膜;S4、通过所述前景掩膜对所述目标图像进行切割,获得目标区域,将所述目标区域输入深度卷积神经网络进行特征提取,并完成目标区域检测分类。旨在采用背景剔除方法进行图像识别时,不提高算力,同时提高图像检测在复杂背景下的鲁棒性。

    一种SMT缺陷检测方法、系统

    公开(公告)号:CN116152244A

    公开(公告)日:2023-05-23

    申请号:CN202310421037.0

    申请日:2023-04-19

    Abstract: 本发明涉及缺陷检测技术领域,公开了一种SMT缺陷检测方法、系统,通过缺陷检测模型对贴片元件的待测图像进行缺陷检测,得到缺陷检测结果;缺陷检测模型的训练过程包括:将贴片元件的模板图像与待测图像组成贴片元件样本;将贴片元件样本输入到两个相同的编码器网络中,得到深度特征,进而得到语义差异映射特征;语义差异映射特征与深度特征融合后,将得到的融合特征送入解码器网络进行缺陷分割,得到缺陷检测结果;通过损失函数对缺陷检测模型进行训练;本发明通过融合人的先验知识揭示检测数据的表示特征和统计规律,构建融合数据驱动与知识引导的有限监督标签检测模型,实现不完全标签样本条件下SMT缺陷的精准高效检测。

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