一种减少碳化硅表面损伤的离子注入方法及碳化硅器件

    公开(公告)号:CN118039464A

    公开(公告)日:2024-05-14

    申请号:CN202211357785.9

    申请日:2022-11-01

    IPC分类号: H01L21/04 H01L29/16

    摘要: 一种减少碳化硅表面损伤的离子注入方法及碳化硅器件,包括:在碳化硅晶圆上依次生长第一掩膜介质层和第二掩膜介质层;在所述第二掩膜介质层上进行干法刻蚀,得到具有预设图案的第二掩膜介质层;对所述第一掩膜介质层进行退火处理,形成致密均匀的第一掩膜介质层;基于所述第一掩膜介质层和第二掩膜介质层对碳化硅晶圆进行离子注入;其中,所述第二掩膜介质层与所述第一掩膜介质层的厚度和材质不同。本发明中采取两层介质膜进行离子注入,由于第一掩膜介质层的存在,在对第二掩膜介质层进行刻蚀时可自截止在第二掩膜介质层刻蚀完成的地方,剩余的第一掩膜介质层可以防止刻蚀离子和注入离子对碳化硅晶圆表面轰击造成损伤。

    一种碳化硅器件动态性能测试电路及方法

    公开(公告)号:CN116660706A

    公开(公告)日:2023-08-29

    申请号:CN202310398005.3

    申请日:2023-04-13

    IPC分类号: G01R31/26

    摘要: 一种碳化硅器件动态性能测试电路及方法,所述测试电路包括直流电容、第一辅助器件、第一被测器件、第二辅助器件、第二被测器件和负载电感;所述电容为被测电路提供电压支撑以及在器件开通过程中提供能量;所述第一辅助器件用于配合第一被测器件使用;所述第二辅助器件用于配合第二被测器件T4使用,在预应力控制区,持续呈现阻断状态;所述负载电感为被测电路提供负载,控制器件开通时电流峰值。本发明针对碳化硅器件阈值电压易漂移的特点,在双脉冲测试前增加预应力控制区,使得碳化硅器件在测试前产生特定的阈值漂移现象,从而能够准确地评估阈值漂移对碳化硅器件的动态特性的影响。

    一种高压隔离变压器
    59.
    发明授权

    公开(公告)号:CN109599258B

    公开(公告)日:2021-12-21

    申请号:CN201811351232.6

    申请日:2018-11-14

    IPC分类号: H01F38/00 H01F27/32 H01F27/36

    摘要: 本发明提供了一种高压隔离变压器,包括一个或多个子变压器;当子变压器为一个时,高压隔离变压器与子变压器等同;当子变压器为多个时,多个子变压器采用级联形式连接,每个子变压器均并联均压装置,本发明提供的高压隔离变压器避免了局部放电难以控制的情况,电压等级可扩展至百千伏及以上,且利于绕组散热,可实现紧凑化空间的有效绝缘隔离,有效降低变压器绝缘设计难度和制造工艺难度及体积;本发明具有高绝缘耐受强度和低场强分布,同时可实现局部放电有效抑制,实现变压器的低局部放电设计,在百千伏以上电压等级的局部放电量不超过50pC;具有结构尺寸小、机械强度高、安装灵活等优点。

    一种有源振荡型直流断路器及其应用方法

    公开(公告)号:CN113422358A

    公开(公告)日:2021-09-21

    申请号:CN202110831335.8

    申请日:2021-07-22

    摘要: 本发明公开了一种有源振荡型直流断路器及其应用方法,直流断路器包括:通流支路、振荡支路及耗能支路,通流支路与振荡支路并联连接,耗能支路与通流支路并联连接,或耗能支路与振荡支路内部元件连接,当直流系统未故障时,振荡支路闭锁,通流支路导通直流负荷电流。当接收到分断命令时,控制振荡支路及通流支路内部元件的运行状态,使得振荡支路产生幅值快速增大的振荡电流,直至振荡电流与短路电流幅值相等、方向相反,从而使得通流支路可靠关断,从而克服了小电流开断重燃风险大、与系统振荡显著及设备成本相对高昂等问题,有利于实现直流断路器在直流输配电系统的大规模推广应用。