-
公开(公告)号:CN118732273A
公开(公告)日:2024-10-01
申请号:CN202410894591.5
申请日:2024-07-04
申请人: 武汉加特林光学仪器有限公司 , 武汉精立电子技术有限公司 , 武汉精测电子集团股份有限公司
IPC分类号: G02B27/01
摘要: 本申请属于近眼显示领域,具体公开了一种NED设备的亮色度均匀性调节方法、系统及设备,方法包括:获得以大视场均匀光源为校准光源对NED检测设备做平场校正得到的第一平场校正系数;获取通过所述NED检测设备对所述NED设备显示的画面进行取像,得到第一取像图像;利用所述第一平场校正系数对所述第一取像图像进行平场校正,获得第一校正图像;基于所述第一校正图像确定第二平场校正系数,将所述第二平场校正系数应用于NED设备显示的画面,得到校正后的显示画面。通过本申请,能够将NED设备的亮色度均匀性由50%提升至90%以上,大大提高了NED设备的显示质量。
-
公开(公告)号:CN118209563A
公开(公告)日:2024-06-18
申请号:CN202311783440.4
申请日:2023-12-22
申请人: 武汉精立电子技术有限公司 , 武汉精测电子集团股份有限公司
摘要: 本发明公开了一种晶圆光致发光检测装置和方法,包括:移动载台,用于承载待测样品;依次设置的光源模块、光纤光路、管镜和物镜,还包括光谱仪和自动对焦模块;还包括相机模块、分光模块和色散补偿透镜。本发明提供的晶圆光致发光检测装置,将光谱共焦法对焦应用于晶圆的光致发光光谱检测中,使得对焦过程和光致发光光谱检测过程中可以共用光路和光谱仪模块,简化了系统结构,并能实现准确的自动对焦;通过分光镜和管镜的设置,可以同时实现晶圆的自动对焦、拍照3D测量和光致发光光谱检测。
-
公开(公告)号:CN117629246A
公开(公告)日:2024-03-01
申请号:CN202311538561.2
申请日:2023-11-15
申请人: 武汉精立电子技术有限公司 , 武汉精测电子集团股份有限公司
摘要: 本发明提供了一种成像式视角测量仪的校准系统及方法,属于光源照明领域及显示检测领域,系统包括均匀面光源、坷垃照明系统、光谱仪和成像式视角测量仪,均匀面光源经过坷垃照明系统获取第一区域,第一区域具有视场均匀的平行光;光谱仪在零度视场角下通过坷垃照明系统获取均匀面光源的第一三刺激值;成像式视角测量仪在第一区域内获取均匀面光源不同视场角下的第二三刺激值;利用第一三刺激值和第二三刺激值获得校正矩阵,利用校正矩阵对成像式视角测量仪的测量结果进行校正,得到校正之后的三刺激值,根据校正之后的三刺激值获得亮色度值。本发明可以提高成像式视角测量仪的校准精度。
-
公开(公告)号:CN113592956B
公开(公告)日:2023-12-19
申请号:CN202110871335.0
申请日:2021-07-30
申请人: 武汉精测电子集团股份有限公司 , 上海精濑电子技术有限公司
摘要: 本发明公开了一种基于显微检测机台的多镜头联合标定方法,包括:由基准镜头对标定物拍照得到第一标定物图像;由标定镜头对标定物拍照得到第二标定物图像,根据两者图像在其对应的图像坐标系中的位置信息分别得到第一偏移坐标和第二偏移坐标;第二偏移坐标与第一偏移坐标的差值小于第一预设阈值时,输出标定镜头在世界坐标系中的标定坐标;根据基准坐标和标定坐标计算得到标定镜头相对于基准镜头在世界坐标系中的补偿值。其可以解决联合标定时难以实现标定物的多个特征被每个镜头同时获取,无法进行准确标定的问题。(56)对比文件吴涛.显示器件测试技术与设备最新进展.微纳电子与智能制造.2020,(第02期),全文.张刘;支帅.双目测量系统目标相对位置误差分析.红外与激光工程.2014,(第S1期),全文.
-
公开(公告)号:CN114822284B
公开(公告)日:2023-09-15
申请号:CN202210239486.9
申请日:2022-03-11
申请人: 武汉精立电子技术有限公司 , 武汉精测电子集团股份有限公司
IPC分类号: G09F9/33
摘要: 本发明提供一种微显示器贴合方法及设备。该方法包括:将微显示屏移动到距离立方体三色合光棱镜的待贴合表面第一预设距离的位置;对所述微显示屏的位置和/或姿态进行矫正;将所述微显示屏移动到距离所述待贴合表面第二预设距离的位置,并进行点胶操作,所述第二预设距离小于第一预设距离;将所述微显示屏固化在所述待贴合表面上。通过本发明,在对微显示屏进行校正时,微显示屏与对应的待贴合表面相距第一预设距离,即两者不接触,避免了由于摩擦导致微显示屏损坏的情况发生。
-
公开(公告)号:CN111524197B
公开(公告)日:2023-05-12
申请号:CN202010251964.9
申请日:2020-04-01
申请人: 武汉精立电子技术有限公司 , 武汉精测电子集团股份有限公司
摘要: 本发明公开了一种Microled或Miniled的异常像素实时检测修复方法及装置,用高分辨率相机实时获取未封装的Microled或Miniled的图像数据,高分辨率相机的分辨率高于Microled或Miniled的分辨率;利用图像数据获取Microled或Miniled单个像素点的亮度值数据,依据亮度值数据判断单个像素点是否存在亮度异常;当单个像素点存在亮度异常时,依据与单个像素点一一对应的的外围驱动电路图像数据判断单个像素点是否存在驱动电路连接异常,从而实现单个像素点的亮度异常和驱动电路连接异常的实时检测。
-
公开(公告)号:CN115144164B
公开(公告)日:2023-02-28
申请号:CN202211059868.X
申请日:2022-08-31
申请人: 武汉精立电子技术有限公司 , 武汉精测电子集团股份有限公司
摘要: 本发明公开了一种显示屏位置偏差测量方法及系统,属于成像产品位置检测技术领域,包括调整待测产品与光学测量设备的中心位置,获取待测产品在光学测量设备成像区域内的视野边界,获得其在第一方向上的角度偏差,分别获取成像点位在光学测量设备成像区域内第二方向和第三方向上的像面角度偏差并据此获得待测产品显示屏在第二方向和第三方向上的角度偏差。本申请通过光学测量设备的成像区域获取显示屏在第一方向上的角度偏差,并利用对焦镜头调整对焦,获得该显示屏在第二方向和第三方向上的角度偏差,整个测试方法相对简单,无需配合较多检测设备,仅通过在二维屏幕上的感知,即可获得显示屏在三维角度内的偏转位移。
-
公开(公告)号:CN115641474A
公开(公告)日:2023-01-24
申请号:CN202211295955.5
申请日:2022-10-21
申请人: 华中科技大学 , 武汉精测电子集团股份有限公司 , 武汉精立电子技术有限公司
IPC分类号: G06V10/764 , G06V10/774 , G06V10/82 , G06V10/762 , G06V10/80 , G06V10/28 , G06T7/00 , G06N3/0464 , G06N3/048 , G06N3/08
摘要: 本发明公开了一种基于高效学生网络的未知类型缺陷检测方法。所述方法包括以下步骤:提出了一种预训练方法,通过让各个类别数据的平均损失最低的策略,在第三方数据集上对学生网络参数进行更新,得到了一个具有较强泛化能力的学生网络初始化模型,随后,在上述训练策略的基础上,在网络中通过多任务学习的思路和注意力机制的思想,加入了自适应权重模块和分类网络辅助学生网络训练,提升了预训练模型在异常检测任务上的效果。利用本发明提出的方法得到的初始化模型,在后续异常检测任务中,面对不同新类型的数据进行训练时,仅使用少量样本,即可实现快速收敛,并在测试阶段达到较好的异常检测效果。本发明还提供了相应的基于高效学生网络的未知类型缺陷检测装置。
-
公开(公告)号:CN115641437A
公开(公告)日:2023-01-24
申请号:CN202211293698.1
申请日:2022-10-21
申请人: 华中科技大学 , 武汉精测电子集团股份有限公司 , 武汉精立电子技术有限公司
IPC分类号: G06V10/26 , G06V10/40 , G06V10/82 , G06V10/77 , G06V10/80 , G06V10/25 , G06V10/764 , G06V10/766 , G06V10/28 , G06N3/0464 , G06N3/08 , G06T7/00
摘要: 本发明公开了一种工业缺陷实例分割方法。所述方法包括以下步骤:训练时不固定特征提取网络的浅层网络参数,以保证在开源自然实例数据集上得到的预训练网络能更好地拟合到工业缺陷实例,对工业缺陷实例进行有效的特征提取;使用级联缺陷区域建议模块,避免了从自然实例分割任务迁移到工业缺陷实例分割任务进行的大量参数调整,采用了多次候选框优化的机制提高了算法精度;提出了自适应分割质量评估探头,该模块能根据分割结果生成自适应的分割阈值进行分割结果的二值化,并对分割结果进行打分,解决了实例分割打分偏高的问题。以上设计使得本发明能够有效地解决工业缺陷实例分割问题。
-
公开(公告)号:CN115471479A
公开(公告)日:2022-12-13
申请号:CN202211139297.0
申请日:2022-09-19
申请人: 武汉精立电子技术有限公司 , 苏州精濑光电有限公司 , 武汉精测电子集团股份有限公司
IPC分类号: G06T7/00
摘要: 本发明涉及一种基于视差法的多层缺陷定位检测方法,其包括以下步骤:调整两个成像通道的焦距,使两个成像通道对焦于透明或者半透明的待测产品的同一平面,其中,每个成像通道至少包括一个镜头和一个图像传感器,至少一个成像通道的图像传感器的感光面的中心偏离对应镜头的光轴;利用所述两个成像通道同时对位于对焦平面上的待测产品的同一目标区域进行成像,获取对应的两个目标图像;对所述两个目标图像进行数据分析,进行缺陷检测,并对缺陷进行分层定位。当缺陷位于该对焦平面上时,两个成像通道拍摄出来的缺陷的位置相同,当缺陷不位于对焦平面上时,两个成像通道拍摄出来的缺陷的位置不同,可以判断出缺陷相对于对焦平面所在的层次。
-
-
-
-
-
-
-
-
-