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公开(公告)号：CN118732273A
公开(公告)日：2024-10-01
申请号：CN202410894591.5
申请日：2024-07-04
申请人： 武汉加特林光学仪器有限公司 , 武汉精立电子技术有限公司 , 武汉精测电子集团股份有限公司
IPC分类号： G02B27/01
摘要： 本申请属于近眼显示领域，具体公开了一种NED设备的亮色度均匀性调节方法、系统及设备，方法包括：获得以大视场均匀光源为校准光源对NED检测设备做平场校正得到的第一平场校正系数；获取通过所述NED检测设备对所述NED设备显示的画面进行取像，得到第一取像图像；利用所述第一平场校正系数对所述第一取像图像进行平场校正，获得第一校正图像；基于所述第一校正图像确定第二平场校正系数，将所述第二平场校正系数应用于NED设备显示的画面，得到校正后的显示画面。通过本申请，能够将NED设备的亮色度均匀性由50％提升至90％以上，大大提高了NED设备的显示质量。
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公开(公告)号：CN110136212B
公开(公告)日：2021-05-25
申请号：CN201910330272.0
申请日：2019-04-23
申请人： 武汉精立电子技术有限公司 , 武汉精测电子集团股份有限公司
摘要： 本发明属于显示面板检测技术领域，公开了一种DeMura设备像素点亮度提取精度评判方法及噪声检测方法，用白噪声亮度的理论值与经过DeMura设备后的亮度测量值之间的自相关函数的峰值表征DeMura设备的亮度提取精度，由此将OLED DeMura中子像素点的亮度提取精度量化，将其应用于实际生产可提高DeMura设备修复Mura缺陷的精度，规避子像素亮度提取不准确导致后续Mura补偿不成功的问题；本发明提供的DeMura设备检测方法，用调制传递函数表征DeMura设备成像系统对输入信号的作用，反映DeMura设备的噪声水平，可用于检测DeMura设备是否处于正常运行状态，作为定量评估DeMura设备优劣的检测方法。
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公开(公告)号：CN111739459A
公开(公告)日：2020-10-02
申请号：CN202010843873.4
申请日：2020-08-20
申请人： 武汉精测电子集团股份有限公司 , 武汉精立电子技术有限公司
摘要： 本发明公开了一种基于云端的显示面板mura修复方法及系统，所述方法通过包含显示面板的待检测终端设备打开色斑缺陷测试图片；图像采集设备获取第一图像，第一图像为待检测终端设备显示色斑缺陷测试图片后显示面板的显示图像；图像采集设备将第一图像发送至云端服务器；云端服务器根据第一图像生成补偿数据，并根据补偿数据对待检测终端设备进行mura修复，能够在云端进行面板缺陷检测，降低了面板厂商后续维修返厂的成本，用户操作简便可以随时随地自主进行面板缺陷检测，在显示面板老化过程中可以通过补偿数据进行色斑缺陷补偿，为用户使用提供了极大的便利，并且提高了终端设备的显示面板的使用寿命，节省了用户的时间和费用。
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公开(公告)号：CN111709949A
公开(公告)日：2020-09-25
申请号：CN202010838435.9
申请日：2020-08-19
申请人： 武汉精测电子集团股份有限公司 , 武汉精立电子技术有限公司
摘要： 本发明公开了一种户外显示屏检测修复方法、装置、设备及存储介质，所述方法通过预设拍摄规则控制无人机拍摄户外显示屏，获取所述户外显示屏的各区域图像；对各区域图像进行拼接组合，获得组合图像，并对所述组合图像进行分析，获得所述组合图像的色斑补偿数据；根据所述色斑补偿数据对所述户外显示屏进行色斑修复；通过无人机移动拍摄解决了复杂机构造成的稳定性问题，并且避免了显示屏尺寸过大导致相机分辨率不足的问题，摆脱了对厂房空间布局的依赖，突破了空间和距离的限制，使得在大尺寸显示屏上做检测更加灵活方便，利用图像拼接和组合的方式将多个图像进行组合，很好的还原了整个显示屏的完整亮度；提高了色斑修复的效果和稳定性。
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公开(公告)号：CN116913197B
公开(公告)日：2024-01-16
申请号：CN202311187897.9
申请日：2023-09-15
申请人： 武汉精立电子技术有限公司 , 武汉精测电子集团股份有限公司
摘要： 本发明提供一种像素定位方法、像素亮度提取方法及系统，属于图像处理领域，应用于显示面板，显示面板包括多个像素，每个像素包括至少一种颜色的子像素，方法包括：获取预设颜色的子像素被显示面板间隔点亮时的子像素亮度图；间隔点亮为相邻两个点亮的相同颜色的子像素之间存在未被点亮的相同颜色的子像素；基于子像素亮度图对点亮的子像素位置进行定位；根据显示面板的像素分布情况和已定位的子像素位置对未被点亮子像素位置进行预测，得到所有子像素的位置。本发明对子像素定位和提取子像素亮度时对子像素间隔点亮，而非全部点亮，能够减小像素间串扰，提升子像素定位精度和亮度(56)对比文件严利民;潘浩;杜斌;夏明治.CCD相机全彩LED显示屏亮度检测与校正算法.华中科技大学学报(自然科学版).2016,(第08期),第75-79页.
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公开(公告)号：CN110310237A
公开(公告)日：2019-10-08
申请号：CN201910492585.6
申请日：2019-06-06
申请人： 武汉精立电子技术有限公司 , 武汉精测电子集团股份有限公司
IPC分类号： G06T5/00 , G06T7/42 , G06T7/80 , G09G3/32 , G09G3/3208
摘要： 本发明属于显示面板检测修复技术领域，公开了一种去除图像摩尔纹、显示面板子像素点亮度测量、Mura缺陷修复的方法及系统；去除图像摩尔纹的方法采用修正了噪声光谱信号的维纳滤波器滤除显示面板所显示的灰阶画面中的光谱峰值，从而达到去除图像摩尔纹的目的；修正了噪声光谱信号的维纳滤波器是将灰阶画面中摩尔纹对应的光谱峰值作为高频噪声信号叠加到维纳滤波器的噪声中；显示面板子像素点度测量方法则利用上述方法先去除图像摩尔纹之后再来提取子像素点亮度；测量系统包括信号发生器、图像采集装置及处理单元；由采集装置获取显示面板所呈现的画面图像，处理单元基于获取的画面图像先采用本发明的方法去除摩尔纹再计算子像素点的亮度，实现子像素点亮度的精确测量。
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公开(公告)号：CN109765245A
公开(公告)日：2019-05-17
申请号：CN201910139404.1
申请日：2019-02-25
申请人： 武汉精立电子技术有限公司 , 武汉精测电子集团股份有限公司
摘要： 本发明涉及显示屏技术领域，具体涉及一种大尺寸显示屏缺陷检测定位方法。在参考显示屏上显示屏幕标定画面，采集屏幕标定画面图像；从屏幕标定画面图像中获取用于标识参考位置信息的离线标定参数；在待检测显示屏上依次显示各个检测画面，利用离线标定参数对待检测显示屏的位置进行在线补偿，得到待检测显示屏的位置参数；对采集的各个检测画面进行分析，得到缺陷的图像坐标；根据待检测显示屏的位置参数，将缺陷的图像坐标转化为屏幕坐标。无需再显示屏幕标定画面和提取子画面角点信息，通过该离线标定参数对第一个检测画面进行补偿，即可确定面板在精确定位图像中的屏幕待检区域，简单快捷，能够有效节省AOI工站检测时间。
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公开(公告)号：CN117268713A
公开(公告)日：2023-12-22
申请号：CN202311133172.1
申请日：2023-09-01
申请人： 武汉精立电子技术有限公司 , 武汉精测电子集团股份有限公司
摘要： 本发明提供一种显示器的可视角测量方法及装置，属于光学仪器测量技术领域，方法包括：控制显示器在预设位置显示预设标定点，根据显示器的预设标定点在第一视野图像中的成像位置，完成成像式测量仪器相对于预设位置的校准；控制显示器显示预设标定图像，并从第二视野图像中获取矩形区域，以根据所述矩形区域的顶点的像素坐标，完成所述成像式测量仪器在水平垂直方向上的校准；基于成像式测量仪器与显示器的预设位置的垂直距离，确定旋转中心，以完成对显示器的可视角测量。本发明用成像式测量仪器实现了对显示器的校准，以使得测量仪器正对显示器的预设位置，且相对于显示器垂直水平设置，保证了校验的精度，提高了可视角的测量精度。
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公开(公告)号：CN109765245B
公开(公告)日：2021-08-13
申请号：CN201910139404.1
申请日：2019-02-25
申请人： 武汉精立电子技术有限公司 , 武汉精测电子集团股份有限公司
摘要： 本发明涉及显示屏技术领域，具体涉及一种大尺寸显示屏缺陷检测定位方法。在参考显示屏上显示屏幕标定画面，采集屏幕标定画面图像；从屏幕标定画面图像中获取用于标识参考位置信息的离线标定参数；在待检测显示屏上依次显示各个检测画面，利用离线标定参数对待检测显示屏的位置进行在线补偿，得到待检测显示屏的位置参数；对采集的各个检测画面进行分析，得到缺陷的图像坐标；根据待检测显示屏的位置参数，将缺陷的图像坐标转化为屏幕坐标。无需再显示屏幕标定画面和提取子画面角点信息，通过该离线标定参数对第一个检测画面进行补偿，即可确定面板在精确定位图像中的屏幕待检区域，简单快捷，能够有效节省AOI工站检测时间。
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公开(公告)号：CN111739459B
公开(公告)日：2021-02-09
申请号：CN202010843873.4
申请日：2020-08-20
申请人： 武汉精测电子集团股份有限公司 , 武汉精立电子技术有限公司
摘要： 本发明公开了一种基于云端的显示面板mura修复方法及系统，所述方法通过包含显示面板的待检测终端设备打开色斑缺陷测试图片；图像采集设备获取第一图像，第一图像为待检测终端设备显示色斑缺陷测试图片后显示面板的显示图像；图像采集设备将第一图像发送至云端服务器；云端服务器根据第一图像生成补偿数据，并根据补偿数据对待检测终端设备进行mura修复，能够在云端进行面板缺陷检测，降低了面板厂商后续维修返厂的成本，用户操作简便可以随时随地自主进行面板缺陷检测，在显示面板老化过程中可以通过补偿数据进行色斑缺陷补偿，为用户使用提供了极大的便利，并且提高了终端设备的显示面板的使用寿命，节省了用户的时间和费用。
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