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公开(公告)号：CN115113287A
公开(公告)日：2022-09-27
申请号：CN202110768765.X
申请日：2021-07-07
Applicant: 清华大学 , 同方威视技术股份有限公司
IPC: G01V5/00 , G01N23/046 , G01B15/04
Abstract: 本发明涉及检查系统和方法。公开了一种检查系统，包括：至少一个射线源；探测器组件；和输送装置，用于承载被检查的物体。至少一个射线源和探测器组件能够相对于输送装置沿行进方向移动，从而被检查的物体能够进入检查区域。沿检查区域的中心轴线观察，至少一个射线源能够在多个扫描位置之间平移，至少一个射线源在相邻两个扫描位置之间的平移距离大于每个射线源的相邻靶点之间的间距。当至少一个射线源位于多个扫描位置中的一个时，至少一个射线源和探测器组件相对于输送装置沿行进方向移动并且至少一个射线源发射X射线；当至少一个射线源和探测器组件相对于输送装置沿行进方向移动预定距离后，至少一个射线源平移到多个扫描位置中的另一个。
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公开(公告)号：CN115105110A
公开(公告)日：2022-09-27
申请号：CN202111204463.6
申请日：2021-10-15
Applicant: 清华大学 , 同方威视技术股份有限公司
IPC: A61B6/03 , G01N23/046
Abstract: 本发明涉及用于射线检查的成像系统和方法。一种用于射线检查的成像系统包括：检查区域，包括成像区域；第一射线源组件，其所有第一靶点布置在第一射线源平面内；第一探测器组件，其多个第一探测器单元布置在探测器平面内，探测器平面与第一射线源平面沿被检查对象的行进方向间隔开预定距离；和射线源控制装置，其构造成当被检查对象的感兴趣区域至少部分地位于成像区域中时，使得第一射线源组件在同一时刻从至少两个第一靶点同时向成像区域发射X射线，在第一射线源组件的同时向成像区域发射X射线的至少两个第一靶点中，每个第一靶点的射线发射范围都能够覆盖成像区域，并且任两个第一靶点的射线发射范围对应的第一探测器晶体互相不重合。
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公开(公告)号：CN114947911A
公开(公告)日：2022-08-30
申请号：CN202110217737.9
申请日：2021-02-26
Applicant: 清华大学 , 同方威视技术股份有限公司
IPC: A61B6/03 , A61B6/06 , G01N23/046
Abstract: 本发明涉及用于射线检查的成像系统。公开了一种用于射线检查的成像系统，包括：第一射线源组件，包括多个射线源；第二射线源组件，包括多个射线源，第一射线源组件的所有射线源的靶点都布置在第一射线源平面内，第二射线源组件的所有射线源的靶点都布置在第二射线源平面内；多个第一探测器单元，多个第一探测器单元布置在第一探测器平面内；多个第二探测器单元，多个第二探测器单元布置在第二探测器平面内；和探测器支架，多个第一探测器单元和多个第二探测器单元都安装在探测器支架上，其中，第一射线源平面、第二射线源平面、第一探测器平面与第二探测器平面沿行进方向依次分布。
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公开(公告)号：CN114167507A
公开(公告)日：2022-03-11
申请号：CN202010957793.1
申请日：2020-09-11
Applicant: 同方威视技术股份有限公司 , 清华大学
IPC: G01V5/00 , G01N23/046
Abstract: 公开了一种多通道静态CT装置，其包括：扫描通道，所述扫描通道包括多条扫描子通道；分布式X射线源，所述分布式X射线源包括多个射线发射点，所述多个射线发射点围绕所述扫描通道布置；以及探测器模块，所述探测器模块包括多个探测器，所述多个探测器围绕所述扫描通道布置，所述多个探测器与所述多个射线发射点相应设置。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN113643361A
公开(公告)日：2021-11-12
申请号：CN202010395323.0
申请日：2020-05-11
Applicant: 同方威视技术股份有限公司
Abstract: 本公开提供了一种目标区域定位方法，包括：获取被检查行李的第一三维体数据。基于第一三维体数据，生成被检查行李在第一方向上的第一投影图像。基于第一投影图像绘制选取层，该选取层的延伸平面平行于第一方向。然后生成选取层在第二方向上的第二投影图像，第二方向垂直于选取层的延伸平面。基于第二投影图像确定该选取层是否仅包含被检查行李中的目标物体的包络区域。如果是，则将该选取层作为目标区域。本公开还提供了一种目标区域定位装置、设备、介质和程序产品。
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公开(公告)号：CN113643360A
公开(公告)日：2021-11-12
申请号：CN202010395321.1
申请日：2020-05-11
Applicant: 同方威视技术股份有限公司 , 清华大学
Abstract: 本公开提供了一种目标物体定位方法，包括：获取被检查行李的第一三维体数据。基于第一三维体数据，生成被检查行李在任一方向上的投影图像。基于该投影图像，从第一三维体数据中分割出第二三维体数据，并基于第二三维体数据，确定针对被检查行李中的至少一个物体的至少一个包络区域。然后，从所确定的至少一个包络区域中确定目标物体的包络区域。本公开还提供了一种目标物体定位装置、设备、介质和程序产品。
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公开(公告)号：CN107688194B
公开(公告)日：2020-12-29
申请号：CN201610630202.3
申请日：2016-08-03
Applicant: 清华大学 , 同方威视技术股份有限公司
IPC: G01T1/36
Abstract: 本发明涉及一种数据处理方法和数据处理装置。该方法可以包括根据已知能量射线入射得到的探测器响应对该探测器响应进行标定获得探测器响应模型的步骤；根据该探测器响应模型获得探测器入射能谱数据与探测器测得能谱数据之间的探测器光子计数模型的步骤；根据该探测器光子计数模型对该探测器测得能谱数据中各个能区探测器的光子计数进行反卷积处理计算获得探测器入射能谱数据中真实的各能区的光子计数的步骤。本发明还公开了一种数据处理装置。
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公开(公告)号：CN107345925B
公开(公告)日：2019-10-15
申请号：CN201610294907.2
申请日：2016-05-05
Applicant: 同方威视技术股份有限公司
IPC: G01N23/20091 , G01N23/20 , G01N23/046
Abstract: 公开了一种液体检测方法和系统。根据本发明实施例的液体检测方法，包括：对液体物质同时进行CT扫描以及XRD扫描，以获取液体物质的CT数据和XRD能谱数据；根据液体物质的CT数据和XRD能谱数据，提取液体物质的分子干涉函数；以及利用液体物质的分子干涉函数以及CT数据，识别液体物质。根据本发明实施例的液体检测方法和系统可以得到液体物质的信噪比更高、有效范围更大的分子干涉函数，从而可以对更广泛范围的液体物质进行识别。
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公开(公告)号：CN109471185A
公开(公告)日：2019-03-15
申请号：CN201811542627.4
申请日：2018-12-17
Applicant: 同方威视技术股份有限公司 , 清华大学
IPC: G01V5/00 , G01N23/046
Abstract: 本发明公开了一种CT系统和用于CT系统的探测装置。该装置包括：高能探测器组件，高能探测器组件包括沿预定轨迹排布的多排高能探测器；低能探测器组件，与高能探测器组件层叠设置，低能探测器组件包括沿预定轨迹间隔排布的多排低能探测器；其中，低能探测器的排数小于高能探测器的排数；每排低能探测器均覆盖一排高能探测器。根据本发明实施例提供的CT系统和用于CT系统的探测装置，提高了对材料的分辨能力。
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