一种基于红外激光吸收进行铝合金表面防护的方法及应用

    公开(公告)号:CN114000180B

    公开(公告)日:2023-04-11

    申请号:CN202111287845.X

    申请日:2021-11-02

    Abstract: 本发明属于冶金技术领域,具体涉及一种铝基材料的特殊表面处理方法,尤其涉及一种通过表面处理方法降低红外激光环境下铝合金腔体内侧的红外光致损伤的方法。本发明所述防护的方法,通过在铝合金工件表面进行阳极氧化的方式并在纳米孔内沉积能够吸收近红外光的材料,形成纳米级的柱状吸收阵列,可以有效降低反射率,再进一步通过向孔内经电沉积并填满导热金属的方式,使得吸收的能量迅速以热的形式分散给基体,防止吸收单元温度过高而被烧蚀;而最外层形成的封孔层则可以起到防止膜内外物质交换的目的,减少即使产生落尘,扩散到膜外的可能。

    一种光学元件洁净转运装置

    公开(公告)号:CN115924291A

    公开(公告)日:2023-04-07

    申请号:CN202211389503.3

    申请日:2022-11-08

    Abstract: 本发明提供了一种光学元件洁净转运装置,涉及光学元件洁净转运技术领域,包括箱体、对接机构、转运机构,所述箱体内设有连通的容置腔和对接口,所述容置腔用于容置预转运的光学元件,所述对接口用于供所述光学元件进出,所述对接机构连接于所述箱体上,所述对接机构用于与光学组件的窗口连接,所述转运机构与所述箱体滑动连接,所述转运机构用于与所述光学元件连接,以从所述光学组件取下所述光学组件并将所述光学元件运至所述容置腔中。通过对接机构与光学组件的窗口密封连接,使得转运时,转运装置与箱体间具有良好的密封性,同时能直接通过转运机构将光学元件从光学组件拉出并运至容置腔,无需额外的辅助机构,转运效率较高。

    电机及其水冷散热装置

    公开(公告)号:CN115733308A

    公开(公告)日:2023-03-03

    申请号:CN202110983123.1

    申请日:2021-08-25

    Abstract: 本发明提供一种电机及其水冷散热装置。电机包括电机轴、转子、定子、绕组以及控制器。电机还包括如水冷散热装置。水冷散热装置包括:进水口;第一水冷结构,其具有沿第一方向布置的第一水道,所述第一水道的进水端与所述进水口连通;第二水冷结构,其具有沿第二方向布置的第二水道,所述第二方向与所述第一方向之间具有第一夹角,所述第二水道的进水端与所述第一水道的出水端连通;出水口,与所述第二水道的出水端连通。本发明利用水冷散热装置的第一、第二水冷结构可以分别提供电机的第一方向和第二方向上的散热,且通过第二水冷结构可以对电机的绕组的端部进行散热,提高了散热效率。

    一种透镜组件
    64.
    发明公开

    公开(公告)号:CN115685474A

    公开(公告)日:2023-02-03

    申请号:CN202211391806.9

    申请日:2022-11-08

    Abstract: 本发明提供了一种透镜组件,涉及大型激光装置技术领域,包括透镜底板及光学元件,所述光学元件连接于所述透镜底板上,所述光学元件相对所述透镜底板的高度可调。由于本发明透镜组件的光学元件相对透镜底板的高度可调,因此在使用时便于精确地调整光学元件与其他设备的相对位置,提高光学元件的聚焦精度。

    一种拆装装置
    65.
    发明公开
    一种拆装装置 审中-实审

    公开(公告)号:CN115629458A

    公开(公告)日:2023-01-20

    申请号:CN202211389450.5

    申请日:2022-11-08

    Abstract: 本发明提供了一种拆装装置,涉及光学元件拆装技术领域,用于对高能量激光装置的光学元件进行拆装。本发明提供的拆装装置,包括箱体、驱动机构、伸缩骨架和抵持机构,伸缩骨架位于箱体内,伸缩骨架一端与箱体连接,伸缩骨架另一端与抵持机构连接,抵持机构适于抓取光学元件并带动光学元件运动,箱体上设置有光学元件拆装口,光学元件拆装口适于与高能量激光装置的光学元件检修口配合,驱动机构适于驱动伸缩骨架进行伸缩运动,伸缩骨架适于通过伸缩运动驱动抵持机构向靠近或远离光学元件拆装口的方向运动。本发明提供的拆装装置,可以对高能量激光装置内的光学元件进行稳定拆装,并确保光学元件拆装的洁净度。

    一种拆装装置
    66.
    发明公开
    一种拆装装置 审中-实审

    公开(公告)号:CN115570367A

    公开(公告)日:2023-01-06

    申请号:CN202211389444.X

    申请日:2022-11-08

    Abstract: 本发明提供了一种拆装装置,用于对高能量激光装置的光学元件进行拆装,包括支撑机构、第一驱动机构、第二驱动机构和抵持机构,第一驱动机构设置于支撑机构上,第二驱动机构与第一驱动机构连接,抵持机构与第二驱动机构连接,抵持机构适于抓取光学元件并带动光学元件运动,支撑机构上设置有光学元件拆装口,光学元件拆装口适于与高能量激光装置的光学元件检修口配合,第一驱动机构适于驱动第二驱动机构向靠近或远离光学元件拆装口的方向运动,第二驱动机构适于驱动抵持机构向靠近或远离光学元件拆装口的方向运动。本发明提供的拆装装置可对高能量激光装置内的光学元件进行稳定拆装,并确保光学元件拆装的洁净度。

    一种超精密刨削减薄机床
    67.
    发明公开

    公开(公告)号:CN115319172A

    公开(公告)日:2022-11-11

    申请号:CN202211143145.8

    申请日:2022-09-20

    Abstract: 一种超精密刨削减薄机床,涉及机械加工技术领域。为解决现有的超精密机床在加工有色金属时,切屑易在铣刀上发生缠绕,容易划伤易加工表面,进而导致加工表面的光洁度较差,从而导致加工精度较差的问题。底座的上表面一端设有纵向支撑板,纵向支撑板的正面中部设有X轴运动组件,X轴运动组件的移动输出端中部设有Y轴运动组件,Y轴运动组件的移动输出端中部设有切削深度微量控制系统,纵向支撑板的正面一端挂设有一个触发侧头无线收发单元,底座的上表面中部设有Z轴运动组件,底座的上表面一端由上到下依次设有工业显微系统和刚性刀架,底座的上表面另一端由上到下依次设有光谱共焦传感器和触发侧头。本发明适用于刨削加工技术领域。

    采用漫反射积分腔作为光声池测量痕量气体浓度的方法及装置

    公开(公告)号:CN105300889A

    公开(公告)日:2016-02-03

    申请号:CN201510762225.5

    申请日:2015-11-10

    Abstract: 采用漫反射积分腔作为光声池测量痕量气体浓度的方法及装置,属于光声光谱技术和漫反射积分腔应用技术领域。本发明是为了解决光声光谱技术在对气体进行检测时,传统光声池光能的利用率较低的问题。本发明所述的采用漫反射积分腔作为光声池测量痕量气体浓度的方法及装置,在继承传统光声光谱技术优势的基础上,将生产工艺简单、价格低廉的高漫反射长方腔应用于光声光谱痕量气体探测中,通过延长光程,从而提高了气体测量的灵敏度,提高了光能的利用率,进而降低了气体浓度测量系统的成本,并具有响应速度快、稳定性好、维护简单、可实时监测等优点。本发明可对低浓度气体进行实时监测。

    采用气体吸收光谱测量材料漫反射率的装置及方法

    公开(公告)号:CN103353440B

    公开(公告)日:2015-06-10

    申请号:CN201310298204.3

    申请日:2013-07-16

    Abstract: 采用气体吸收光谱测量材料漫反射率的装置及方法,属于材料漫反射率的测量技术领域。本发明为了解决由于积分球的非中性特征导致光谱在不同波段发生变化而使材料的漫反射率测量不准确的问题。装置包括电源、激光光源、聚焦透镜、积分球、光电探测器、数据采集卡和计算机,积分球具有入光孔和出光孔,所述入光孔的中心与积分球球心的连线和出光孔的中心与积分球球心的连线的夹角为直角,积分球的内壁均匀喷涂待测材料;方法为激光光源发出的光束在积分球内与已知浓度气体及待测材料相互作用后,被光电探测器接收,光电探测器输出的电信号通过数据采集卡传输给计算机,计算机通过计算获得待测材料的漫反射率。本发明用于测量材料漫反射率。

    采用高漫反射方腔增加光程的可调谐二极管激光痕量气体检测装置及方法

    公开(公告)号:CN103389283B

    公开(公告)日:2015-04-01

    申请号:CN201310298203.9

    申请日:2013-07-16

    Abstract: 采用高漫反射方腔增加光程的可调谐二极管激光痕量气体检测装置及方法,属于痕量气体浓度检测技术领域。本发明解决在有限空间内增加气体吸收光程的方法中存在的结构复杂且价格昂贵的问题。装置包括二极管激光器和高漫反射方腔,它还包括光电倍增管、锯齿波信号发生器、正弦波信号发生器、混频器、温度控制器、电流控制器、数据采集卡、计算机、高压电源、入射楔形石英透镜和出射楔形石英透镜;方法为在计算机中将光电倍增管输出的电信号解调为二次谐波信号,得到待测气体浓度的光学参量OP,再将该光学参量OP与待测气体光学参量随高漫反射方腔内气体浓度变化的标准曲线对比,获得待测气体浓度,实现待测气体含量检测。本发明用于痕量气体检测。

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